一种气相分子荧光测试装置制造方法及图纸

技术编号:19775797 阅读:38 留言:0更新日期:2018-12-15 10:28
本发明专利技术涉及光化学领域,一种气相分子荧光测试装置,包括电喷雾器、真空腔、离子聚束器、气体分流器、离子向导、离子透镜I、离子透镜II、离子阱、激光器、汇聚透镜、真空窗口、带阻滤光片、收集透镜、光谱仪和真空泵组,电喷雾器能够直接将样品分子输送进入高真空,减少了样品浪费,无需背底气体,从而增加离子透射率;电喷雾器采用内外管系统,对不同的溶液样品进行喷雾时,能够对毛细管出口进行原位清洗,无需更换毛细管,无需破坏真空腔的真空,光收集系统增加了光收集效率,增加了装置的探测灵敏度,使得能够采用较低重复率的激光来激发样品,适用于更多种类的分子,具有较高光子收集率及高荧光探测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种气相分子荧光测试装置
本专利技术涉及光化学领域,尤其是一种具有较高光子收集率及高荧光探测效率的一种气相分子荧光测试装置。
技术介绍
分子的荧光探测是光化学领域重要的实验手段,通常将样品分子引入真空腔形成气相,通过激光对其进行激发,通过光谱仪收集反应后产生的荧光来分析反应的机理。现有技术缺陷一:现有技术中的探测装置的光收集效率不高,因此需要连续激光来激发样品以使得产生的荧光达到足够的光强,但连续激光会对某些样品的结构造成破坏;现有技术缺陷二:现有技术通常采用喷射器将样品溶液喷射进入真空腔的方法来使得样品分子形成气相,样品分子从液相到气相的过程通常需要经过多级真空泵组,并需要背底气体与样品液滴碰撞来使得液滴逐步减小,其结果是最终进入真空并测量的样品的量相对于喷射器喷出的样品的量比例较低,对某些稀有的样品,浪费较大,背底气体的存在也会导致离子的透射率较低从而影响探测效率;现有技术缺陷三:某些实验需要对不同的溶液样品进行喷雾,现有技术中的装置由于无法原位对毛细管出口进行清洗,需要破坏真空来更换新毛细管,操作繁琐,所述一种气相分子荧光测试装置能够解决问题。
技术实现思路
了解决上述问题,本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种气相分子荧光测试装置,主要包括电喷雾器(1)、真空腔(2)、离子聚束器(3)、气体分流器(4)、离子向导(5)、离子透镜I(6)、离子透镜II(7)、离子阱(8)、激光器(9)、汇聚透镜(10)、真空窗口(11)、带阻滤光片(12)、收集透镜(13)、光谱仪(14)和真空泵组,xyz为三维空间坐标系,所述真空腔(2)连接有真空泵组,真空度为1×10‑6mbar,所述真空腔(2)具有起始端和末端,所述离子聚束器(3)、气体分流器(4)、离子向导(5)、离子透镜I(6)、离子透镜II(7)、离子阱(8)和汇聚透镜(10)均位于真空腔(2)内且沿z正方向依次排列,真空腔(2)的末端具有真空窗...

【技术特征摘要】
1.一种气相分子荧光测试装置,主要包括电喷雾器(1)、真空腔(2)、离子聚束器(3)、气体分流器(4)、离子向导(5)、离子透镜I(6)、离子透镜II(7)、离子阱(8)、激光器(9)、汇聚透镜(10)、真空窗口(11)、带阻滤光片(12)、收集透镜(13)、光谱仪(14)和真空泵组,xyz为三维空间坐标系,所述真空腔(2)连接有真空泵组,真空度为1×10-6mbar,所述真空腔(2)具有起始端和末端,所述离子聚束器(3)、气体分流器(4)、离子向导(5)、离子透镜I(6)、离子透镜II(7)、离子阱(8)和汇聚透镜(10)均位于真空腔(2)内且沿z正方向依次排列,真空腔(2)的末端具有真空窗口(11),真空腔(2)在离子阱(8)所在位置的侧面具有透光孔,其特征是:所述带阻滤光片(12)、收集透镜(13)和光谱仪(14)依次位于真空腔(2)末端的外面,光反应后产生的荧光能够通过所述真空窗口(11)射出真空腔(2),并依次通过带阻滤光片(12)和收集透镜(13)后,进入光谱仪(14),带阻滤光片(12)能够用于过滤散射的激光,收集透镜(13)能够将收集的光聚焦到光谱仪(14);所述离子阱(8)包括相互绝缘的且横截面均为圆环的入口电极(8-1)、环电极(8-2)和出口电极(8-3),入口电极(8-1)、环电极(8-2)和出口电极(8-3)能够围成一个电场区域,电场区域能够用于囚禁离子,离子从入口电极进入离子阱(8),入口电极内径为三毫米、外径为二十二毫米,出口电极内径为五毫米、外径为二十二毫米,出口电极内径的区域具有栅格电极,所述栅格电极为边长0.02毫米的正方形网格;环电极长度为二十毫米、内径为二十毫米,环电极...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑仕华张向平赵永建
申请(专利权)人:金华职业技术学院
类型:发明
国别省市:浙江,33

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