一种光模块劣化的检测方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种光模块劣化的检测方法及装置，涉及光通信技术领域，为解决现有技术中光模块无法诊断自身性能的问题而发明专利技术。本申请的方法主要包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。本申请主要应用于利用光模块进行通信的过程中。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块劣化的检测方法及装置
本申请涉及光通信
，尤其涉及一种光模块劣化的检测方法及装置。
技术介绍
参见图1，为现有技术中光模块与上位机的通信示意图。如图1所示，在光通信系统中，上位机与光模块进行通信，用于实现光电信号之间的转换。上位机中的主机作为通信主机，可以访问多个光模块，光模块作为通信从机，光模块只能接受主机的读写操作。当光模块MCU检测到自身状态异常或者触发告警门限时，会更新上述存储地址的值。当主机MCU访问从机光模块该地址时，发现读取光模块更新值后，会将光模块的异常情况上报到光通信系统，以通知运营商该光模块出现异常状态。光模块由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。光模块中的光芯片一般由3、5价元素的化合物制作(如Al/As/Ga/In/P)，难以在光芯片内部集成保护电路。同时，光芯片作为发射激光的有源器件，工作时具有高温和大电流特性。由光芯片的高温和大电流特性导致光芯片失效，是光模块自身硬件失效的主要因素。针对光芯片失效，目前光模块能在出现异常时上报告警，如Tx_fualt、Rx-los状态，以表示光模块或者其链路出现异常。除了光模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

【技术特征摘要】
1.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：查找所述存储器中的预设温度电流对应关系表，所述预设温度电流对应关系表用于记录所述目标光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系；在所述预设温度电流对应关系表中，获取所述实际工作温度对应的所述预设值。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取所述光模块的模块型号；根据所述模块型号，查询所述光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据所述通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的所述预设位置的值设置为所述误差值，其中，所述性能劣化状态标志位位于所述异常告警信息的保留字段。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述预设位置的性能状态标志位设置为所述误差值，包括：获取所述通信协议的异常告警数据结构；查找所述性能状态标志位的所述预设位置；在所述预设位置，按照所述异常告警数据结构写入所述误差值。5.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔涛，
申请(专利权)人：青岛海信宽带多媒体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37