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本申请公开了一种光模块劣化的检测方法及装置，涉及光通信技术领域，为解决现有技术中光模块无法诊断自身性能的问题而发明。本申请的方法主要包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流...
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