【技术实现步骤摘要】
一种QFN产品无损开盖方法
本专利技术属于半导体封装制造领域,尤其涉及一种QFN产品无损开盖方法。
技术介绍
QFN是一种无引脚封装的产品,呈正方形或矩形,封装底部中央位置有一个大面积裸露焊盘用来导热,围绕大焊盘的封装外围四周有实现电气连结的导电焊盘(电极触点)。因电极触点是靠树脂包裹固定,应用现有的常规手动化学开盖技术进行产品分析时,极易造成引脚移动、缺失导致产品内部引线脱离、断裂,从而影响分析结果。
技术实现思路
专利技术目的:为了解决现有的QFN产品手动化学开盖易造成产品损坏的问题,本专利技术提供一种QFN产品无损开盖方法。技术方案:本专利技术提供一种QFN产品无损开盖方法,包括以下步骤:(1)根据待开盖的QFN样品的尺寸剪切一块金属板,所述金属板的尺寸大于QFN样品尺寸,并取足量焊锡置于金属板上,QFN样品包括多颗QFN单颗产品,焊锡量由QFN单颗产品的封装面积和颗数决定,取焊锡量=0.05g/mm²*单颗封装面积*颗数,将金属板放置于焊锡炉的加热平台上;(2)将焊锡炉温度调高至250℃~260℃,使焊锡受热液化;(3)将待开盖的QFN样品平稳放置在金属板上,且覆盖在焊锡上,用镊子将QFN样品向下压,观察QFN样品底部周围是否溢出焊锡,若溢出焊锡,确保QFN样品的电极触点被锡包裹住,执行步骤(4);若无焊锡溢出,则重新取样;(4)降低焊锡炉的加热平台温度至80℃~90℃,待样品连同金属板降温至加热器平台温度后,确认焊锡是否将金属板与QFN样品牢固在一起,若金属板与QFN样品牢固在一起,进行化学开盖作业;(5)根据QFN样品的焊线选择酸溶液;(6)将酸溶 ...
【技术保护点】
1.一种QFN产品无损开盖方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)根据待开盖的QFN样品的尺寸剪切一块金属板,所述金属板的尺寸大于QFN样品尺寸,并取足量焊锡置于金属板上,QFN样品包括多颗QFN单颗产品,焊锡量由QFN单颗产品的封装面积和颗数决定,取焊锡量=0.05g/mm²*单颗封装面积*颗数,将金属板放置于焊锡炉的加热平台上;(2)将焊锡炉温度调高至250℃~260℃,使焊锡受热液化;(3)将待开盖的QFN样品平稳放置在金属板上,且覆盖在焊锡上,用镊子将QFN样品向下压,观察QFN样品底部周围是否溢出焊锡,若溢出焊锡,确保QFN样品的电极触点被锡包裹住,执行步骤(4);若无焊锡溢出,则重新取样;(4)降低焊锡炉的加热平台温度至80℃~90℃,待样品连同金属板降温至加热器平台温度后,确认焊锡是否将金属板与QFN样品牢固在一起,若金属板与QFN样品牢固在一起,进行化学开盖作业;(5)根据QFN样品的焊线选择酸溶液;(6)将酸溶液一至两滴滴在QFN样品塑封面上,使塑封面发生化学反应起泡,间隔一段时间后浸入丙酮溶液中清洗,然后拿出待丙酮挥发干燥后重复滴酸、清洗过程,直至能够清晰看到QFN样 ...
【技术特征摘要】
1.一种QFN产品无损开盖方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)根据待开盖的QFN样品的尺寸剪切一块金属板,所述金属板的尺寸大于QFN样品尺寸,并取足量焊锡置于金属板上,QFN样品包括多颗QFN单颗产品,焊锡量由QFN单颗产品的封装面积和颗数决定,取焊锡量=0.05g/mm²*单颗封装面积*颗数,将金属板放置于焊锡炉的加热平台上;(2)将焊锡炉温度调高至250℃~260℃,使焊锡受热液化;(3)将待开盖的QFN样品平稳放置在金属板上,且覆盖在焊锡上,用镊子将QFN样品向下压,观察QFN样品底部周围是否溢出焊锡,若溢出焊锡,确保QFN样品的电极触点被锡包裹住,执行步骤(4);若无焊锡溢出,则重新取样;(4)降低焊锡炉的加热平台温度至80℃~90℃,待样品连同金属板降温至加热器平台温度后,确认焊锡是否将金属板与QFN样品牢固在一起,若金属板与QFN样品牢固在一起,进行化学开盖作业;(5)根据QF...
【专利技术属性】
技术研发人员:卜君玮,
申请(专利权)人:南京矽邦半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏,32
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