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测色装置及测色方法制造方法及图纸

技术编号:19741491 阅读:26 留言:0更新日期:2018-12-12 04:06
在充分地得到受光量的测定定时进行受光而高精度地对测定对象的颜色进行测定。基于来自测定对象(W)的反射光对测定对象的颜色进行测定的测色装置(1)构成为,具有:光源(21),其照射出光;旋转板(42),其使多个干涉滤光器(45)绕转而对来自光源的光进行分光;受光传感器(38),其对通过多个干涉滤光器分光得到的光进行受光;以及校正部,其基于受光传感器的光谱分布,将受光传感器的测定定时从理论值校正为得到光谱分布的峰值的实测值,在校正后的测定定时将来自测定对象的反射光由受光传感器进行受光,对测定对象的颜色进行测定。

【技术实现步骤摘要】
测色装置及测色方法
本专利技术涉及对测定对象的颜色进行测定的测色装置及测色方法。
技术介绍
以往,作为测色装置,已知下述测色装置,即,从光源将光照射至测定对象,针对每个波长对来自测定对象的反射光进行分解而对测定对象的颜色进行测定(例如,参照专利文献1)。在专利文献1中记载的测色装置,将光照射至测定对象,来自测定对象的反射光经过在旋转板设置的干涉滤光器而由受光传感器受光。透过波长不同的多个干涉滤光器绕旋转轴设置于旋转板,通过旋转板的旋转对干涉滤光器依次进行切换,由此对来自测定对象的反射光进行分光。然后,根据针对每个透过波长的受光传感器的受光结果而对测定对象的颜色进行测定。专利文献1:日本特开2017-036937号公报另外,在上述的测色装置中,有时由于机械性的误差等,在干涉滤光器的中心与受光传感器的中心一致的测定定时产生偏差。如果在受光传感器的中心和干涉滤光器的中心产生了偏差的状态下进行测定,则有可能得不到充分的受光量而使测定精度恶化。
技术实现思路
本专利技术就是鉴于该问题而提出的,其目的之一在于,提供一种能够在充分地得到受光量的测定定时进行受光而高精度地对测定对象的颜色进行测定的测色装置及测色方法。本专利技术的一个方式的测色装置基于来自测定对象的反射光对所述测定对象的颜色进行测定,该测色装置的特征在于,具有:光源,其照射出光;旋转板,其使多个干涉滤光器绕转而对来自所述光源的光进行分光;受光传感器,其对通过所述多个干涉滤光器分光得到的光进行受光;以及校正部,其基于所述受光传感器的光谱分布,将所述受光传感器的测定定时从理论值校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值,在校正后的测定定时将来自所述测定对象的反射光由所述受光传感器受光,对所述测定对象的颜色进行测定。本专利技术的一个方式的测色方法基于来自测定对象的反射光对所述测定对象的颜色进行测定,该测色方法的特征在于,具有下述步骤:使旋转板的多个干涉滤光器绕转而对来自光源的光进行分光,将通过所述多个干涉滤光器分光得到的光由受光传感器受光的步骤;基于所述受光传感器的光谱分布,将所述受光传感器的测定定时从理论值校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值的步骤;以及在校正后的测定定时将来自所述测定对象的反射光由所述受光传感器受光,对所述测定对象的颜色进行测定的步骤。根据这些结构,通过多个干涉滤光器的绕转对来自光源的光进行分光,求出将干涉滤光器透过的光的光谱分布。即使由于机械性的误差等,相对于光谱分布的峰值在受光传感器的测定定时的理论值产生了偏差,受光传感器的测定定时也会被校正为得到光谱分布的峰值的实测值。由此,能够以光谱分布的峰值在测定定时对来自测定对象的反射光进行受光,充分地取得反射光的受光量而高精度地对测定对象的颜色进行测定。在上述的测色装置中,所述旋转板是设置有多个干涉滤光器及透过孔的一对旋转板,使所述一对旋转板中的任一个旋转板停止,使另一个旋转板旋转,从所述一个旋转板的透过孔使所述另一个旋转板的多个干涉滤光器依次露出。根据该结构,能够通过任一个旋转板的透过孔和另一个旋转板的干涉滤光器对来自光源的光进行分光。通过将多个干涉滤光器在一对旋转板分散地设置,从而能够减小旋转板而将装置整体小型化。在上述的测色装置中,理论值和得到所述光谱分布的峰值的实测值是由脉冲电动机的脉冲表示的,所述校正部将所述受光传感器的测定定时从理论值的脉冲校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值的脉冲。根据该结构,能够通过脉冲电动机的脉冲单位对测定定时进行校正。在上述的测色装置中,所述光源是LED光源。根据该结构,即使是针对每个波长而光量不稳定的LED光源,也能够在受光量变大的测定定时对来自测定对象的反射光进行测定。在上述的测色装置中,在通过所述校正部进行的测定定时的校正时,将包含所述测定对象的反射光的、来自所述光源的光,由所述受光传感器受光。根据该结构,能够利用来自测定对象的反射光,对测定定时进行校正。专利技术的效果根据本专利技术,通过将受光传感器的测定定时从理论值校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值,从而能够将来自测定对象的反射光充分地受光而提高测定精度。附图说明图1是本实施方式的测色装置的斜视图。图2是本实施方式的测色装置的纵剖视图。图3是本实施方式的测色装置的横剖视图。图4是本实施方式的分光器的俯视示意图及剖视示意图。图5是表示本实施方式的光源特性的一个例子的图。图6是表示本实施方式的多个干涉滤光器的透过特性的一个例子的图。图7是表示本实施方式的受光传感器的输出特性的一个例子的图。图8是表示本实施方式的测定定时的校正处理的一个例子的图。图9是表示通过本实施方式的测色装置实现的测定方法的一个例子的图。标号的说明1测色装置21光源38受光传感器41分光器42旋转板43脉冲电动机44输出轴45干涉滤光器46透过孔52校正部53测色部W测定对象具体实施方式下面,参照附图,对本实施方式的测色装置进行说明。图1是本实施方式的测色装置的斜视图。此外,本实施方式的测色装置只不过是一个例子,能够适当变更。如图1所示,测色装置1是通过分光测色方式对测定对象W进行测色的装置,构成为从光源21(参照图2)将光照到测定对象W,对来自测定对象W的反射光进行分光而对颜色进行测定。在测色装置1的装置盖11的上表面,设置有对测定对象W进行装载的载置面12,在载置面12形成有将测定对象W向装置盖11内露出的开口窗13(参照图2)。在装置盖11的前侧配置有:操作面板14,其接收各种信息的输入;以及LCD(LiquidCrystalDisplay)15,其对各种菜单进行显示。如图2及图3所示,在装置盖11内设置有将光朝向测定对象W进行照射的光源21。作为光源21,使用例如寿命长的白色LED(LightEmittingDiode)、近紫外LED、近红外LED。通过使用3种LED,从而将在白色LED下光量变小的短波长端及长波长端附近的光量增大。来自光源21的光在半透半反镜22进行分支,将半透半反镜22透过的光经过第1、第2透镜23、24而输入至积分球25,在半透半反镜22处反射的光由对光源21的变化进行监视的受光传感器26受光。积分球25的上部开口而形成装置盖11的开口窗13,测定对象W经过开口窗13而向积分球25内局部地露出。进入至积分球25的光被漫反射,光经过开口窗13而从所有方向照到测定对象W。由此,测定对象W的凹凸形状的影响减少。在积分球25的下部设置有:捕捉用开口31,其抑制测定对象W的镜面反射;以及受光用开口34,其导入来自测定对象W的反射光。在捕捉用开口31设置有捕捉部件32,通过捕捉部件32将一部分的光去除,以使得不通过测定对象W而镜面反射至受光用开口34。另外,在积分球25的下部设置有将捕捉用开口31开闭的捕捉用反射板33。通过捕捉用反射板33的开闭,将测色装置1的测定方法切换为包含镜面反射成分的SCI(SpecularComponentsInclude)方式、去除了镜面反射成分的SCE(SpecularComponentsExclude)方式。进入至受光用开口34的反射光通过第3透镜35而聚光至反射镜36,通过反射镜36反射的反射光通过第4透镜37而朝向受光传感器38聚光。在第4透镜37和受光传感器38之间,设置有通过一对旋转板42对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测色装置,其基于来自测定对象的反射光对所述测定对象的颜色进行测定,该测色装置的特征在于,具有:光源,其照射出光;旋转板,其使多个干涉滤光器绕转而对来自所述光源的光进行分光;受光传感器,其对通过所述多个干涉滤光器分光得到的光进行受光;以及校正部,其基于所述受光传感器的光谱分布,将所述受光传感器的测定定时从理论值校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值,在校正后的测定定时将来自所述测定对象的反射光由所述受光传感器受光,对所述测定对象的颜色进行测定。

【技术特征摘要】
2017.05.31 JP 2017-1073031.一种测色装置,其基于来自测定对象的反射光对所述测定对象的颜色进行测定,该测色装置的特征在于,具有:光源,其照射出光;旋转板,其使多个干涉滤光器绕转而对来自所述光源的光进行分光;受光传感器,其对通过所述多个干涉滤光器分光得到的光进行受光;以及校正部,其基于所述受光传感器的光谱分布,将所述受光传感器的测定定时从理论值校正为得到所述光谱分布的峰值的实测值,在校正后的测定定时将来自所述测定对象的反射光由所述受光传感器受光,对所述测定对象的颜色进行测定。2.根据权利要求1所述的测色装置,其特征在于,所述旋转板是设置有多个干涉滤光器及透过孔的一对旋转板,使所述一对旋转板中的任一个旋转板停止,使另一个旋转板旋转,从所述一个旋转板的透过孔使所述另一个旋转板的多个干涉滤光器依次露出。3.根据权利要求2所述的测色装置,其特征在于,理...

【专利技术属性】
技术研发人员:高桥直幸
申请(专利权)人:JUKI株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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