一种测试机的智能控制方法技术

本发明专利技术公开了一种测试机的智能控制方法，具体步骤为：IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。

【技术实现步骤摘要】
一种测试机的智能控制方法
本专利技术涉及一种测试机的智能控制方法。
技术介绍
当网络、电子通讯及各种电子消费品占据人们生活的各个角落时，奠定这一切基础的半导体产业毋庸置疑地成为国家科技发展中的重中之重。这些微电子行业大量使用的IC芯片具有体积小、携带方便、价格便宜等特点，广泛应用于各类工业电子设备、各种家用电器、仪表等。IC芯片制造完成后，需要对其进行检测、分选。随着电子产品的集成度越来越高，对IC芯片的需求量也越来越大。IC芯片的质量将影响整个电子产品的质量，所以IC芯片的测试分选是十分重要的工序。目前，IC芯片测试分选虽然大部分采用了先进的基于PLC的芯片测试分选设计，但是在功能比较单一，在实际生成过程中，仍旧需要测试工作人员在每个型号甚至每个批次的IC芯片测试分选前进行程序预设置以及预调试工作。这种生成工作方式不仅需要消耗人力，还容易造成人为的差错。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种替代人工的测试机的智能控制方法。本专利技术为解决上述技术问题采用以下技术方案：本专利技术提供一种测试机的智能控制方法，包括以下具体步骤：步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。作为本专利技术的进一步优化方案，所述传送机构包括料盒运输车以及设置在料盒运输车上的用于搬运IC芯片料盒的机械手，机械手上设置有条形码扫描仪。作为本专利技术的进一步优化方案，料盒运输车上设置有对其上放置的IC芯片料盒进行固定的料盒固定装置。作为本专利技术的进一步优化方案，料盒运输车上设置有避障装置。作为本专利技术的进一步优化方案，避障装置为激光避障模块。作为本专利技术的进一步优化方案，料盒运输车上设置有多个放置IC芯片料盒的料盒运送位。本专利技术采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：本专利技术通过IC芯片测试分选管理系统对测试分选程序的调配，形成对测试分选程序的准确选择，提高了测试分选效率。本专利技术采用了传送机构进行待测IC芯片以及分选后良品和不良品的传送，提高了生产安全系数；降低了劳动者的劳动强度。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施方式，且描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。本
技术人员可以理解的是，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本专利技术的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的任一单元和全部组合。本
技术人员可以理解的是，除非另外定义，这里使用的所有术语（包括技术术语和科学术语）具有与本专利技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样定义，不会用理想化或过于正式的含义来解释。下面对本专利技术的技术方案做进一步的详细说明：本专利技术提供一种测试机的智能控制方法，包括以下具体步骤：步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。进一步地，传送机构包括料盒运输车以及设置在料盒运输车上的用于搬运IC芯片料盒的机械手，机械手上设置有条形码扫描仪。进一步地，料盒运输车上设置有对其上放置的IC芯片料盒进行固定的料盒固定装置，以保证料盒运送过程的安全性，避免料盒运输车导致的IC芯片偏移造成安全隐患。进一步地，料盒运输车上设置有多个放置IC芯片料盒的料盒运送位，可以实现一次对料盒的运送过程完成多个料盒的同时运送。进一步地，料盒运输车上设置有避障装置，用于料盒运输车运输过程中能够及时避开障碍物，避免造成安全隐患。以上所述，仅为本专利技术中的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉该技术的人在本专利技术所揭露的技术范围内，可理解想到的变换或替换，都应涵盖在本专利技术的包含范围之内，因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试机的智能控制方法，其特征在于，包括以下具体步骤：步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。

【技术特征摘要】
1.一种测试机的智能控制方法，其特征在于，包括以下具体步骤：步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。2.根据权利要求1所述的一种测试机的智能控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：马峻，徐企娟，
申请(专利权)人：苏州诺登德智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32