【技术实现步骤摘要】
爆炸装置电路板残片识别方法
本公开本涉及计算机图像处理
，更具体地，涉及一种爆炸装置电路板残片识别方法。
技术介绍
电路板残片图像识别的原理即：在获取电路板残片图像(例如，公安机关获取爆炸装置(爆炸后)的电路板残片，将其拍摄为图像)之后，通过特定技术手段，识别出该电路板残片图像属于电路板原板图像库中的哪个型号的电路板原板图像，由此可确定该电路板残片源自何种型号的电路板。电路板残片图像识别主要涉及电路板图像分割以及残片图像识别两个重要问题：1)电路板图像分割(感兴趣区域提取)，即，从电路板图像中自动提取元器件、字符、焊点等所处的感兴趣区域，是电路板图像描述以及残片图像识别的基础；2)电路板残片图像识别，其属于图像模式识别的一个实际应用。在图像识别领域，研究人员已经取得诸多成果，例如人脸、指纹、文字、车牌等图像对象的识别，已应用于实际生活中；但通过图像识别技术来识别电路板残片的研究并不多见。与一般图像对象识别任务不同，电路板残片仅是整个电路板很小的局部，残片图像不具备整体图像对象全部特征；识别过程中，只能依据有限的局部描述来识别其所属整体，这在图像模式识别领域属...
【技术保护点】
1.一种爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在样本库中保存有与已知电路板对应的样本图像Ii、及其特征点和特征描述，爆炸装置电路板残片对应有残片图像I0，所述方法包括以下步骤：步骤1、提取残片图像I0的特征点；步骤2、计算所述特征点的SIFT描述，形成特征点集为S0；步骤3、分别计算特征点集为S0中的每个特征点的SIFT描述与每个样本图像Ii的特征点集Si中的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；步骤4、对所述第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集Si中所述第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为S0的该特征点的候选匹配点；步骤5、计算候选匹配点与S0的该特征点的形状上下文描述...
【技术特征摘要】
1.一种爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在样本库中保存有与已知电路板对应的样本图像Ii、及其特征点和特征描述，爆炸装置电路板残片对应有残片图像I0，所述方法包括以下步骤：步骤1、提取残片图像I0的特征点；步骤2、计算所述特征点的SIFT描述，形成特征点集为S0；步骤3、分别计算特征点集为S0中的每个特征点的SIFT描述与每个样本图像Ii的特征点集Si中的每个特征点的SIFT描述的第一欧式距离；步骤4、对所述第一欧式距离由小到大排序，选择特征点集Si中所述第一欧式距离排序靠前的多个特征点，作为S0的该特征点的候选匹配点；步骤5、计算候选匹配点与S0的该特征点的形状上下文描述之间的第二欧氏距离，保留第二欧式距离不大于预定阈值的候选匹配点，作为S0的该特征点的匹配点集；步骤6、建立残片图像I0的特征点的第一星型结构，并在样本图像Ii中寻找与第一星型结构匹配的第二星型结构，其中，所述第二星型结构是基于所述匹配点集建立的；步骤7、根据第二星型结构与第一星型结构的相似性，获得各个样本图像Ii与残片图像I0的匹配度。2.根据权利要求1所述的爆炸装置电路板残片识别方法，其中，所述特征点是Harris特征点。3.根据权利要求1所述的爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在步骤6中，如下建立残片图像I0的特征点的第一星型结构：步骤6-1、初始化残片图像I0的当前特征点pk，令k＝1；步骤6-2、如果当前特征点pk不在图像边缘区域、且不属于已确定的有效星型结构，则将其作为星型结构中心点，否则将下一特征点pk+1作为当前特征点，重复此步骤；步骤6-3、将特征点集S0中的与当前特征点pk的距离不小于星型结构阈值Td的特征点作为以pk为中心的星型结构的末端结点pe；步骤6-4、如果以pk为中心的星型结构的所述末端结点pe不少于特定数目，则将以pk为中心的星型结构作为有效星型结构，将当前中心点pk记为末端结点pe记为步骤6-5、将下一特征点pk+1作为当前特征点，返回到步骤6-2，如果不存在下一特征点pk+1，则记录全部有效星型结构，将当前中心点pk记为末端结点pe记为其中m＝1、…、M，M为有效星型结构的数目。4.根据权利要求3所述的爆炸装置电路板残片识别方法，其中，在步骤6中，通过以下步骤，在样本图像Ii中寻找与第一星型结构匹配的第二星型结构：步骤6-6、在样本图像Ii的匹配点集中，遍历的匹配点集，分别以匹配点集中每个不在边缘的特征点作为星型结构的中心匹配点Mc；步骤6-7、在样本图像Ii上以中心匹配点(Mc)为起点，建立一条与线段的长度和方向均一致的线段，以该线段的...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵衍运，孙彤，徐少强，
申请(专利权)人：北京邮电大学，
类型：发明
国别省市：北京,11
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