一种光纤干涉仪臂长差的测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，主要解决现有利用光学干涉方法的测量系统稳定性不高及测量精度低的问题。本发明专利技术的光纤干涉仪臂长差测量装置，包括：窄线宽激光器、保偏光纤耦合器、相位调制器、偏振态控制器、声光移频器、光纤耦合器、待测光纤干涉仪、光电探测器、频谱仪、信号处理及显示模块、微波信号发生器，通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽即可得到待测光纤干涉仪的臂长差，同时可通过改变光频梳的频率间隔来实现测量精度的变化，提高了测量精度和系统的稳定性，弥补了利用光学干涉的方法无法实现大臂长差测量的缺点，其工作流程简单，可推广性强。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤干涉仪臂长差的测量装置
本专利技术涉及光纤传感器性能测试测量装置，特别是涉及一种光纤干涉仪臂长差的测量装置。
技术介绍
光纤干涉仪以其优异的性能在光纤温度、振动传感、光纤水听器和量子密钥通信等领域有着广泛的应用。干涉仪两臂臂长差直接决定了上述测量和通信系统的测量灵敏度和通信速度，随着当代通信技术和传感器测量技术的快速发展，对干涉仪两臂臂长差的精确测量具有重要意义。目前对光纤干涉仪两臂光纤长度差的测量主要有白光干涉法，相干光干涉条纹计数法和微波光子混频法等方法，白光干涉法通过对探测器扫描镜接收的各个白光干涉条纹峰值位置的精确计量，得到信号光在干涉仪两笔臂之间引入光程差，在转化得到臂长差，但其受限于扫描台的扫描范围，可测量的臂长差的长度较短；相干光干涉条纹计数法通过观察干涉条纹间距测量臂长差，实现起来相对困难；微波光子混频法将臂长差信号调制到光载微波相位上，解调相位来测量臂长差，能实现较高精度的测量，但是其结构复杂，成本较高。本专利技术提出了一种新的光纤干涉仪臂长差的测量方法，通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪来测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽就可以得到待测光纤干本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，其特征在于，通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪来测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽就可得到待测光纤干涉仪的臂长差。

【技术特征摘要】
1.一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，其特征在于，通过双光频梳在微波域进行干涉，并用频谱仪来测量干涉信号，通过干涉信号一个周期内的带宽就可得到待测光纤干涉仪的臂长差。2.根据权利要求书1所述的一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，其特征在于，其硬件平台包括，窄线宽激光器101、保偏光纤耦合器102、相位调制器103、偏振态控制器104、相位调制器105、声光移频器106、光纤耦合器107、待测光纤干涉仪108、光电探测器109、频谱仪201、信号处理及显示模块202、三个微波信号发生器203、204、205。3.根据权利要求书1所述的一种光纤干涉仪臂长差的测量装置，其特征在于，窄线宽激光器101输出的频率为f的光通过保偏光纤耦合器102分成两路光路，光路1、光路2；光路1的光经过相位调制器103，所述相位调制器103上施加的调制信号的频率为fm，调制信号由微波信号发生器203提供，所述相位调制器103输出光谱将出现以调制频率fm为整数倍的一系列边带；同样的，光路2的光经过相位调制器105，所述相位调制器105上施加的调制信号的频率为fm+fc，调制信号由微波信号发生器204提供，所述相位调制器105输...

【专利技术属性】
技术研发人员：周欢生，
申请(专利权)人：苏州维创度信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32