一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统。该检测方法包括：步骤1：采集结构光投影器向平面投射的光斑，以获取光斑图像；步骤2：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤3：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域；步骤4：分析选取的取值区域的亮度参数，若任一视场角上选取的若干个取值区域的亮度参数之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。该光斑均匀度检测方法可以检测出结构光投影器的光斑均匀度是否合格，以筛选出良品和不良品。

【技术实现步骤摘要】
一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统
本专利技术涉及结构光领域，尤其涉及一种结构光投影器的光斑均匀度检测方和检测系统。
技术介绍
随着苹果公司在智能终端上使用FaceID技术，采用结构光模组来做人脸识别、3D感测和VR设备等将会成为未来的主流。结构光模组主要包括结构光投影器和结构光摄像头，结构光投影器负责向被摄物体投射光斑进行扫描，结构光摄像头负责对被投射到被摄物体上的光斑进行拍摄，然后，后端处理器通过处理算法来解析拍摄到的光斑图像，以获取被摄物体的三维数据。其中，结构光投影器所投射出来的光斑是否均匀，直接影响到后端处理器对光斑图像进行解析的精确度。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的不足，本专利技术提供一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统。该光斑均匀度检测方法可以检测出结构光投影器的光斑均匀度是否合格，以筛选出良品和不良品。本专利技术所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法，包括：步骤a：结构光投影器向平面投射光斑，光斑采集装置向平面采集光斑并获取光斑图像；步骤b：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤c：以0级衍射点为中心，在不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，包括：步骤a：结构光投影器向平面投射光斑，光斑采集装置向平面采集光斑并获取光斑图像；步骤b：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤c：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域；步骤d：分析选取的取值区域的亮度参数，若任一视场角上选取的若干个取值区域的亮度参数之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。

【技术特征摘要】
1.一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，包括：步骤a：结构光投影器向平面投射光斑，光斑采集装置向平面采集光斑并获取光斑图像；步骤b：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤c：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域；步骤d：分析选取的取值区域的亮度参数，若任一视场角上选取的若干个取值区域的亮度参数之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。2.根据权利要求1所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，在步骤b中还包括：确定光斑图像的四个顶角点；在步骤c中还包括：同一视场角上选取的若干个取值区域的中心点分别位于0级衍射点和四个顶角点之间的连线上。3.根据权利要求1或2所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤1包括：步骤a.a：将结构光投影器放置在透光平面前方，将光斑采集装置放置在透光平面后方；步骤a.b：结构光投影器向透光平面的正面投射光斑，光斑采集装置向透光平面的背面采集光斑以获取光斑图像。4.根据权利要求1或2所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤d包括：步骤d.a：依据选取的各个取值区域中的所有像素点，计算出各个取值区域的第一平均亮度值；步骤d.b：依据计算出的第一平均亮度值，将各个取值区域中亮度值高于其第一平均亮度值的像素点筛选出来；步骤d.c：依据各个取值区域中筛选出的像素点，计算出各个取值区域的第二平均亮度值；步骤d.d：若任一视场角上选取的若干个取值区域的第二平均亮度值之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。5.根据权利要求4所述的结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，步骤d.d包括：步骤d.d.a：计算出同一视场角上选取的若干个取值区域的第二平均亮度值之间的方差值或标准差值；步骤d.d.b：若任一方差值或标准差值高于预设值，则判断该结构光投影器光斑的均匀度为不合格。6.一种结构光投影器的光斑均匀度检测系统，其特征在于，包括：光斑采集装置，用于采集结构光投影器向平面投射的光斑并获...

【专利技术属性】
技术研发人员：林挺，吴慧剑，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44