一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法技术

本发明专利技术公开了一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法，包括：将硅材料传送至检测区域；检测检测区域内的硅材料的类型和电阻率，所述类型包括P型、N型；将检测区域内的硅材料的电阻率与电阻率阈值进行比较，根据比较结果及检测区域内的硅材料的类型为P型或N型，将检测区域的硅材料传送至预设出口。如此，同时获取硅材料的类型和电阻率，并按照预设型号和电阻率的要求，将硅材料输送到不同出口进行区别分拣，提高硅材料的分拣效率，同时，提高分拣的自动化，避免人为失误造成的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法
本专利技术涉及硅材料检测
，尤其涉及一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法。
技术介绍
纯净的硅更像是绝缘体，而不是导体，当它被施加外部作用时(比如外加电压)，没有能力改变其导电状态。所以必须往硅里面掺杂其它的元素，现在最重要的两个元素是----硼B和磷P。当硅片被掺入硼或磷时，它的导电性就显著的改变了。把磷加入到硅晶片中后，掺入磷杂质的硅称为N型硅，把硼加入到硅晶片中后，掺入磷杂质的硅称为P型硅。目前，区分硅材料为N型硅或P型硅，是通过人工使用检测仪依次对硅材料进行检测，但是这种方式效率太低、人工读取数据容易出现失误，对于半导体材料厂、硅厂商及科研位等，需要一种适用于硅材料的快速分选方法，以快速对硅材料按照要求进行分拣。
技术实现思路
基于
技术介绍
存在的技术问题，本专利技术提出了一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法；本专利技术提出的一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法，包括：S1、将硅材料传送至检测区域；S2、检测检测区域内的硅材料的类型和电阻率，所述类型包括P型、N型；S3、将检测区域内的硅材料的电阻率与电阻率阈值进行比较，根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法，其特征在于，包括：S1、将硅材料传送至检测区域；S2、检测检测区域内的硅材料的类型和电阻率，所述类型包括P型、N型；S3、将检测区域内的硅材料的电阻率与电阻率阈值进行比较，根据比较结果及检测区域内的硅材料的类型为P型或N型，将检测区域的硅材料传送至预设出口。

【技术特征摘要】
1.一种基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法，其特征在于，包括：S1、将硅材料传送至检测区域；S2、检测检测区域内的硅材料的类型和电阻率，所述类型包括P型、N型；S3、将检测区域内的硅材料的电阻率与电阻率阈值进行比较，根据比较结果及检测区域内的硅材料的类型为P型或N型，将检测区域的硅材料传送至预设出口。2.根据权利要求1所述的基于硅材料测试仪的硅材料快速分拣方法，其特征在于，步骤S3，具体包括：在硅材料为P型且电阻率低于电阻率阈值时，将硅材料传送至第一出口；在硅材料为P型且电阻率不低于电阻率阈值时，将硅材料传送至第二出口；在硅材料为N型且电阻率低于电...

【专利技术属性】
技术研发人员：王韶平，
申请(专利权)人：安徽舟港新能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34