The utility model relates to an amplitude-frequency characteristic tester based on FPGA and ARM, which belongs to the field of digital frequency characteristic measurement. The tester includes FPGA, D/A converter, low-pass filter, network under test, programmable gain amplifier circuit, A/D converter, processor module and human-computer interaction module, including: FPGA, D/A converter, low-pass filter and sequential connection of the network under test, FPGA, A/D converter, programmable gain amplifier circuit and the sequence of the network under test. The processor module is connected with the man-machine interaction module, and the processor module and the FPGA are bidirectional connected. The tester is low cost, easy to implement and expansibility, and can be used in student experiments.
【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪
本技术涉及一种基于FPGA（现场可编程门阵列）和ARM（高级RISC处理器）的幅频特性测试仪，属于数字频率特性测量领域。
技术介绍
频率特性是线性网络的重要性能指标之一。如果能够获得某一线性放大器的幅频特性，便可确定该放大器的通频带，如果输入信号的频率成分仅仅分布在该通频带内，放大器对输入信号各频率分量才可能具有相对一致的电压增益和失真相对小的群时延特性。频率特性测试仪（俗称扫频仪）是对电路网络频域特性有效测量的主要仪器，它可以测量诸如电压放大器频率特性、各类有源或无源滤波器滤波特性、中频放大器调谐特性等。随着数字频率合成技术及集成电路技术发展，频率特性测试仪中的分立元件趋于集成化，电路方式趋于数字化。最显著的技术改进在于扫频信号发生器，这得益于直接数字频率合成器（DDFS：DirectDigitalFrequencySynthesizer）技术及其相关集成芯片的日臻完善。但因目前DDFS技术的一些局限，低成本的DDFS扫频源的最高输出频率仍然有限。扫频频率不是很高的数字式频率特性测试仪，其主体电路多由单片机、FPGA、D...
【技术保护点】
1.一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，其特征在于：包括FPGA、D/A转换器、低通滤波器、被测网络、程控增益放大电路、A/D转换器、处理器模块和人机交互模块，其中：FPGA、D/A转换器、低通滤波器和被测网络顺序连接，FPGA、A/D转换器、程控增益放大电路和被测网络顺序连接，处理器模块和人机交互模块连接，处理器模块和FPGA双向连接。
【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，其特征在于：包括FPGA、D/A转换器、低通滤波器、被测网络、程控增益放大电路、A/D转换器、处理器模块和人机交互模块，其中：FPGA、D/A转换器、低通滤波器和被测网络顺序连接，FPGA、A/D转换器、程控增益放大电路和被测网络顺序连接，处理器模块和人机交互模块连接，处理器模块和FPGA双向连接。2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，其特征在于，所述FPGA采用XilinxArtix-7系列XC7A35T-1CSG324C芯片。3.根据权利要求1所述的一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，其特征在于，所述低通滤波器采用巴特沃斯滤波器。4.根据权利要求1所述的一种基于FPGA和ARM的幅频特性测试仪，其特征在于，...
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