封装膜制造技术

本发明专利技术涉及封装膜、其可靠性评估方法、包括其的有机电子器件和制造使用其的有机电子器件的方法，以及提供了能够在用于阻挡水分或氧气从外部被引入有机电子器件中的封装膜被施加至有机电子器件之前预测封装膜的可靠性的可靠性评估方法；以及对于水分阻挡性能具有优异的可靠性的封装膜。

Encapsulation membrane

The present invention relates to packaging film, its reliability evaluation method, including its organic electronic devices and methods of manufacturing organic electronic devices using it, and provides a reliable prediction of packaging film before it can be applied to organic electronic devices to prevent moisture or oxygen from being introduced from outside into organic electronic devices. The reliability evaluation method and the packaging film with excellent reliability for moisture barrier performance are presented.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】封装膜
相关申请的交叉引用本申请要求基于在2016年3月11日提交的韩国专利申请第10-2016-0029506号的优先权的权益，其公开内容通过引用整体并入本文。
本专利技术涉及封装膜、其的可靠性评估方法、包括其的有机电子器件、以及制造使用其的有机电子器件的方法。
技术介绍
有机电子器件(organicelectronicdevice，OED)意指包括有机材料层的器件，有机材料层利用空穴和电子产生电荷的交替流，以及有机电子器件的实例可以包括光伏器件、整流器、发射器和有机发光二极管(OLED)等。以上有机电子器件中的有机发光二极管(OLED)具有比现有光源更低的功耗和更快的响应速度，并且有利于使显示器件或照明设备变薄。此外，OLED具有空间可用性从而有望应用于各种领域，包括各种便携式器件、监视器、笔记本电脑和电视机。在OLED的商业化和应用发展中，最重要的问题是耐久性问题。包含在OLED中的有机材料和金属电极等非常容易被外部因素例如水分氧化。为了解决以上问题，将用于阻挡水分的封装膜施加至有机电子器件。然而，在将用于阻挡水分的封装膜施加至有机电子器件之前，必须先进行性能验证，但是在其中集成有金属层的封装膜的情况下，存在性能验证困难的问题。
技术实现思路
技术问题本申请提供了能够在用于阻挡水分或氧气从外部被引入有机电子器件中的封装膜被施加至有机电子器件之前预测封装膜的可靠性的可靠性评估方法；以及对于水分阻挡性能具有优异的可靠性的封装膜。技术方案本专利技术涉及封装膜和封装膜的可靠性评估方法。封装膜可以应用于密封或封装有机电子器件，例如OLED。在本说明书中，术语“可靠性”可以意指封装膜的阻挡水分性能的可靠性。在本说明书中，术语“有机电子器件”意指具有包括有机材料层(其利用面向彼此的电极对之间的空穴和电子产生电荷的交替流)的结构的制品或器件，并且其实例可以包括但不限于光伏器件、整流器、发射器和有机发光二极管(OLED)等。在本专利技术的一个实例中，有机电子器件可以为OLED。示例性封装膜可以包括金属层和形成在金属层上的封装层。封装层可以包含吸湿剂。在一个实例中，封装膜的可靠性评估方法可以包括：封装膜的在550nm的波长下根据以下等式1对所述封装层的镜面反射率R为6.5或更小。即，可以通过本申请的评估方法确定镜面反射率R在6.5或更小的范围内的封装膜具有优异的可靠性。镜面反射率的测量可以通过以下来进行：用波长为550nm的光照射形成在金属层上的封装层，如图3所示。在一个实例中，封装膜可以具有这样的区域：在550nm的波长下根据以下等式1的镜面反射率R为6.5或更小。(式1)R＝SCI-SCE在以上等式1中，SCI(包含镜面分量，SCI)为根据ASTME1164-12E1测量的包括正反射的总反射率，以及SCE(不包含镜面分量，SCE)意指根据ASTME1164-12E1测量的不包括正反射的反射率。具体地，SCI意指总反射率，以及SCE意指经由散射的不规则反射率。反射率可以通过本领域已知的方法来测量，例如可以使用来自柯尼卡美能达的CM2006d来测量(测量条件：M/I+E、M/SCI、M/SCE、S/I+E、S/SCI和S/SCE的任何一个设定值，UV0％至100％的任何一个设定值，D65、D50、C、A、F2、F6、F7、F8、F10、F11和F12的任何一个光源，10°或2°的观察视野)通过将封装膜的镜面反射率控制为6.5或更小、6.3或更小、6.0或更小、或5.9或更小，本申请可以提供高度可靠的膜作为水分阻挡膜。通常，包含在膜中的吸湿剂可以通过经由与渗入膜中的水分水合反应产生水合物并因此导致能够与水分反应的有效的吸湿剂聚集体的缩减而减少散射。此外，通过由于水合反应引起的吸湿剂的折射率变化，可以实现与树脂的折射率匹配(即，折射率相似地收敛)以引起散射的减少。因此，可以通过仅测量雾度根据存在或不存在散射来测量膜的可靠性。然而，如在本申请中当封装层和金属层一体式设置时，由于金属层难以通过简单地仅测量雾度根据存在或不存在透明度来验证可靠性。因此，本申请可以通过一体式设置金属层和封装层实现该方法的便利性，并同时通过测量如等式1中的镜面反射率提供高度可靠的膜。在本申请的一个实施方案中，以下所描述的本专利技术的封装树脂的折射率可以在1.3至1.6的范围内。吸湿剂的折射率可以在1.6至2.5的范围内。封装树脂的折射率可以小于吸附剂的折射率。折射率可以使用阿贝折射计来测量。在一个实例中，封装膜的可靠性评估方法可以包括对于封装膜根据以下等式2的镜面反射率比率r为0.5或更小，0.3或更小，0.151或更小，0.150或更小，或者0.147或更小。可以通过本申请的可靠性评估方法确定具有在以上范围内的镜面反射率比率的封装膜具有优异的水分阻挡性能。(等式2)r＝(SCI-SCE)/SCI在以上等式2中，SCI为根据ASTME1164-12E1测量的包括正反射的总反射率，SCE意指根据ASTME1164-12E1测量的不包括正反射的反射率。在此，镜面反射率比率意指镜面反射率与总反射率的比率。镜面反射率比率为0.5或更小的封装膜可以为吸湿剂更少功能性损失的封装膜。在封装膜的情况下，存在于封装膜中的吸湿剂的功能可以通过在将封装膜施加至有机电子器件之前在流通和储存期间吸收空气中的水分而损失。本申请提供了这样的功能损失最小化的膜。在一个实例中，封装层的厚度可以在15μm至70μm的范围内。本申请可以通过将封装层的厚度控制为15μm或更大来改善涂覆特性，以及通过将厚度控制为70μm或更小以缩短干燥时间来改善可加工性。此外，金属层的厚度可以在20μm至150μm的范围内。本申请可以通过将金属层的厚度控制为20μm或更小来改善水分阻挡特性，以及通过将厚度控制为150μm或更小来改善可切割加工性。在本申请的一个实施方案中，金属层可以为薄金属箔或沉积有金属的聚合物基层。作为金属层，可以使用具有热导率和水分阻挡特性的材料而没有限制。金属层可以包含以下任一者：金属、金属氧化物、金属氮化物、金属碳化物、金属氮氧化物、金属硼氧化物及其组合。例如，金属层可以包含其中一种或更多种金属元素或非金属元素被添加到一种金属中的合金，以及可以包含例如铁镍合金或不锈钢(SUS)。此外，在一个实例中，金属层可以包含以下：铜、铝、镍、硅氧化物、铝氧化物、钛氧化物、铟氧化物、锡氧化物、铟锡氧化物、钽氧化物、锆氧化物、铌氧化物及其组合。金属层可以通过电解、轧制、热蒸镀、电子束蒸镀、溅射、反应溅射、化学气相沉积、等离子体化学气相沉积或电子回旋共振源等离子体化学气相沉积来沉积。在本专利技术的一个实例中，金属层可以通过反应溅射来沉积。优选地，金属层的热导率可以为50W/mK或更大、60W/mK或更大、70W/mK或更大、80W/mK或更大、90W/mK或更大、100W/mK或更大、110W/MK或更大、120W/MK或更大、130W/MK或更大、140W/mK或更大、150W/mK或更大、200W/mK或更大、或者250W/mK或更大。通过具有这样的高的导热率，可以更快地释放在金属层结合过程期间在结合界面处产生的热量。此外，高的热导率使在有机电子器件的操作期间累积的热量快速释放到外部，由此有机电子本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种封装膜的可靠性评估方法，所述封装膜包括金属层和形成在所述金属层上并且包含吸湿剂的封装层，其中所述封装膜的在550nm的波长下根据以下等式1对所述封装层的镜面反射率R为6.5或更小：(等式1)R＝SCI‑SCE其中在式1中，SCI为根据ASTM E1164‑12E1测量的包括正反射的总反射率，以及SCE为根据ASTM E1164‑12E1测量的不包括正反射的反射率。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.03.11 KR 10-2016-00295061.一种封装膜的可靠性评估方法，所述封装膜包括金属层和形成在所述金属层上并且包含吸湿剂的封装层，其中所述封装膜的在550nm的波长下根据以下等式1对所述封装层的镜面反射率R为6.5或更小：(等式1)R＝SCI-SCE其中在式1中，SCI为根据ASTME1164-12E1测量的包括正反射的总反射率，以及SCE为根据ASTME1164-12E1测量的不包括正反射的反射率。2.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述封装层的厚度在15μm至70μm的范围内。3.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述金属层的厚度在20μm至150μm的范围内。4.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述封装层包含封装树脂，并且所述封装树脂包括丙烯酸类树脂、环氧树脂、有机硅树脂、氟树脂、苯乙烯树脂、聚烯烃树脂、热塑性弹性体、聚氧化烯树脂、聚酯树脂、聚氯乙烯树脂、聚碳酸酯树脂、聚苯硫醚树脂、聚酰胺树脂或其混合物。5.根据权利要求4所述的可靠性评估方法，其中所述封装树脂的折射率在1.3至1.6的范围内。6.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述吸湿剂为水分反应性吸附剂。7.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述吸湿剂的平均直径在0.5μm至5μm的范围内。8.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述吸湿剂的折射率在1.6至2.5的范围内。9.根据权利要求4所述的可靠性评估方法，其中相对于100重量份的所述封装树脂，所述吸湿剂以5重量份至100重量份的量包含在内。10.根据权利要求1所述的可靠性评估方法，其中所述吸湿剂为选自以下的一者或更多者：P2O5、Li2O、Na2O、BaO、CaO、MgO、Li2SO4、Na2SO4、...

【专利技术属性】
技术研发人员：金贤硕，柳贤智，文晶玉，李政禹，梁世雨，
申请(专利权)人：株式会社LG化学，
类型：发明
国别省市：韩国,KR