The invention provides a linear measuring device for large dynamic range response of photoelectric detection system. The off-axis parabolic mirror is used as collimating mirror to achieve better collimating effect, and the secondary imaging structure is used to suppress the stray light effectively, so that the stray light suppression can be better than 10.
【技术实现步骤摘要】
一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置
本专利技术涉及光电探测器/光电探测仪器检测领域,特别涉及一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置。
技术介绍
光电探测系统的响应度不随入射辐照度的变化而变化时,该光电探测系统是线性的,是探测系统最重要的参数之一。在实际测量系统中,决定光电探测系统总响应度的各参数都只能在一定的动态范围内是常数,因此,系统的非线性响应是不可避免的。信号过大时,系统的响应出现饱和响应;反之,输入信号过小时,系统响应淹没在噪声中,难以反映输入信号变化。对于光电探测系统的线性标定只能在有限点进行,对于定标点以外的大部分测量区域只能靠传感器和测量仪器的定标点以外的大部分测量区域只能靠探测器系统的线性度来推算。所以光电探测系统的高精度线性定标是其定量探测应用的重要前提。目前对光电探测系统光信号响应线性的最基本方法是根据平方反比定律在光轨上通过改变光源与光电探测系统间的距离实现不同光信号来标定光电探测系统的线性度。由于光轨长度限制,其动态范围有限,且杂散光的影响十分明显。除距离平方反比法外,研究者们还提出滤光片或滤光片组法、Beer衰减法、偏振法等,均因为辅助测量而引入额外误差,目前最为成熟的线性测量方法是双光源叠加法。普通的双光源叠加法线性测量仪器都只是对光电探测器进行响应线性测量,光谱范围窄,像面照度低,很难对整个光电探测系统进行响应线性测量。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,实现对整个光电探测系统进行响应线性测量。本专利技术提供的光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,所述装置包括测试光源、第 ...
【技术保护点】
1.一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,其特征在于,所述装置包括测试光源、第一离轴抛物面反射镜、第二离轴抛物面反射镜、第一滤光片轮、第二滤光片轮、第一平面反射镜、点阵分光器、窄带滤光片、第三滤光片轮、第二平面反射镜、可调光阑、凹面反射镜以及测量探测器,由所述测试光源发出的光线,所述光线经过所述第一离轴抛物面反射镜进行准直后形成第一光线,经过第二离轴抛物面反射镜准直后形成第二光线,所述第一光线经过所述第一滤光片轮照射在所述第一平面反射镜上,经过所述第一平面反射镜的反射第一光线照射在所述点阵分光器的第一面,所述第二光线经过所述第二滤光片轮照射在所述点阵分光器的第二面,经过所述点阵分光器透射的第一光线和经过所述点阵分光器反射的第二光线交汇形成合成光束,所述合成光束经过所述窄带滤光片、所述第三滤光片轮以及所述第一凹面镜汇聚至所述可调光阑,所述合成光束经过所述可调光阑照射在所述第二凹面反射镜,经过所述第二凹面反射镜发射后汇聚至所述测量探测器得到第一能量值。
【技术特征摘要】
1.一种光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,其特征在于,所述装置包括测试光源、第一离轴抛物面反射镜、第二离轴抛物面反射镜、第一滤光片轮、第二滤光片轮、第一平面反射镜、点阵分光器、窄带滤光片、第三滤光片轮、第二平面反射镜、可调光阑、凹面反射镜以及测量探测器,由所述测试光源发出的光线,所述光线经过所述第一离轴抛物面反射镜进行准直后形成第一光线,经过第二离轴抛物面反射镜准直后形成第二光线,所述第一光线经过所述第一滤光片轮照射在所述第一平面反射镜上,经过所述第一平面反射镜的反射第一光线照射在所述点阵分光器的第一面,所述第二光线经过所述第二滤光片轮照射在所述点阵分光器的第二面,经过所述点阵分光器透射的第一光线和经过所述点阵分光器反射的第二光线交汇形成合成光束,所述合成光束经过所述窄带滤光片、所述第三滤光片轮以及所述第一凹面镜汇聚至所述可调光阑,所述合成光束经过所述可调光阑照射在所述第二凹面反射镜,经过所述第二凹面反射镜发射后汇聚至所述测量探测器得到第一能量值。2.根据权利要求1所述的光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,其特征在于,还包括第三凹面镜和第四凹面镜镜,所述光线经过所述第三凹面镜聚光后照射在第二离轴抛物面反射镜上,所述光线经过第四凹面镜聚光后照射在所述第一离轴抛物面反射镜上。3.根据权利要求1所述的光电探测系统大动态范围响应线性测量装置,其特征在于,还包括标准探测器,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:张子辉,王淑荣,黄煜,杨小虎,李占峰,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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