一种集成电路引脚开短路的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出一种集成电路引脚开短路的测试装置，包括显示装置和测试装置，所述测试装置通过滑槽和滑块与显示装置连接，所述显示装置包括壳体一、触控显示屏、和电源开关，所述触控显示屏和电源开关设在壳体一上表面，所述壳体一侧面设有导线插口一，所述测试装置侧面设有导线插口二，所述显示装置和测试装置通过导线插入导线插口一和插口二连接，所述测试装置包括壳体二和集成电路检测槽，所述集成电路检测槽设在壳体二侧面；通过显示装置和测试装置通过滑槽与滑块连接实现方便携带，显示装置上设有导线插口一，测试装置上设有插口二，测试装置和显示装置通过导线连接导线插口一和插口二，能在测试装置上放置集成电路来测试引脚的开短路。

A test device for opening short circuit of integrated circuit pins

The utility model provides a test device for open and short circuit of integrated circuit pins, which includes a display device and a test device. The test device is connected with the display device through a slider and a slider. The display device includes a shell, a touch display screen and a power switch. The touch display screen and a power switch are arranged on the shell. On the surface, one side of the shell is provided with a conductor socket, and on the side of the test device is provided with a conductor socket 2. The display device and the test device are connected by a conductor inserted into the conductor socket 1 and the socket 2. The test device comprises a shell 2 and an integrated circuit detection groove, and the integrated circuit detection groove is arranged on the two sides of the shell. The display device and the test device can be easily carried by connecting the slider with the slider. The display device is equipped with a conductor socket, and the test device is equipped with an outlet 2. The test device and the display device are connected with the conductor socket 1 and the outlet 2 through the conductor, and the integrated circuit can be placed on the test device to test the opening and shorting of the lead.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路引脚开短路的测试装置
本技术涉及集成电路测试装置，具体涉及一种集成电路引脚开短路的测试装置。
技术介绍
测试集成电路引脚开短路是判断集成电路好坏所必须的一个测试项目，也是集成电路自动测试设备所必须具备的功能之一，其原理是用过测试该引脚连接到电源引脚和地引脚上的保护二级管来实现的，现在传统的测试集成电路引脚开短路的测试装置通过设有一显示屏和检测装置连接，将集成电路安装在检测装置上，通过检测装置将测出集成电路多个引脚的结果显示在显示屏上，这种测试装置必须将集成电路拆卸下来，放入检测装置内，测试过程比较麻烦，而且这种测试装置体积较大，不能携带，因此，本技术提出一种集成电路引脚开短路的测试装置。
技术实现思路
针对上述问题，本技术提出一种集成电路引脚开短路的测试装置，通过设有显示装置和测试装置，显示装置和测试装置通过滑槽与滑块连接实现方便携带，显示装置上设有导线插口一，测试装置上设有插口二，测试装置和显示装置通过导线连接导线插口一和插口二，能在测试装置上放置集成电路来测试，也能通过测试线连接导线插口一，方便对已经固定在其他装置上的集成电路进行测试。本技术提出一种集成电路引脚开短路测试装置，包括显示装置和测试装置，所述测试装置设在显示装置下方，所述显示装置下方两侧设有滑槽，所述测试装置上方两侧设有与显示装置下方滑槽相互适配的滑块，所述测试装置通过滑槽和滑块与显示装置连接，所述显示装置包括壳体一、触控显示屏、电池、控制芯片、信息储存器和电源开关，所述触控显示屏设在壳体一上表面，所述电池、控制芯片和信息储存器设在壳体一内部，所述壳体一上表面触控显示屏旁边设有所述电源开关，所述壳体一侧面设有充电口和USB插口，所述USB插口连接信息储存器，所述壳体一上与设有充电口侧面相邻的一侧面上设有导线插口一，所述测试装置侧面设有导线插口二，所述显示装置和测试装置通过一导线两端分别插入导线插口一和插口二连接，所述壳体一上与设有充电口侧面相对的一侧面上设有一收纳盒，所述测试装置包括壳体二、测试系统和集成电路检测槽，所述集成电路检测槽设在壳体二侧面，所述测试系统设在壳体二内部，所述集成电路检测槽连接测试系统，所述测试系统通过导线与壳体一内设的有控制芯片连接，所述控制芯片连接信息储存器和触控显示屏。进一步改进在于：所述壳体一侧面设有一HDMI插口。进一步改进在于：所述收纳盒内设有一测试线，所述测试线一端与导线插口一相互适配，另一端为测试笔针，所述导线和测试线均能同时放入收纳盒中。进一步改进在于：所述收纳盒外侧设有一门，所述门的一侧与收纳盒铰接，所述门的另一侧内侧设有磁铁，所述收纳盒上与门上磁铁对应的位置上也设有一磁铁，所述门与收纳盒通过磁铁连接。进一步改进在于：所述滑槽一端设有限位板。进一步改进在于：所述壳体一两侧均设有一连接扣，所述两个连接扣通过一连接绳连接，所述连接绳两端均设有一弹簧扣，所述连接绳通过弹簧扣与连接扣连接。本技术的有益效果：本技术拥有两种测试方法：一是将测试装置通过导线与显示装置连接，将待测的集成电路插入测试装置上的集成电路检测槽进行测试；二是通过将测试线一端插入导线插口一中，测试线的另一端为测试笔针，直接将测试笔针连接到需要测试的集成电路引脚上，两种测试方法使测试更加方便，本装置不需要外接显示屏，体积较小，方便携带，本装置上还设有一连接绳，在用测试线测试的时候可以将连接绳挂在脖子上，不用手持，方便测量，本装置上还设有一收纳盒，收纳盒内能放置导线和测试线，本装置的显示装置和测试装置通过滑槽和滑块连接，使两个装置可以连接在一起，方便携带，本装置还可以将测试的数据通过USB插口导出到其他储存装置上，本装置上设有一HDMI插口，能将触控显示屏上的显示画面通过HDMI线接到其他显示装置上显示。附图说明图1是本技术正视图。图2是本技术结构示意图。图3是本技术显示装置结构示意图。图4是本技术测试线结构示意图。其中：1-显示装置，2-测试装置，3-滑槽，4-滑块，5-壳体一，6-触控显示屏，7-电源开关，8-充电口，9-USB插口，10-导线插口一，11-导线插口二，12-导线，13-收纳盒，14-壳体二，15-集成电路检测槽，16-HDMI插口，17-测试线，18-测试笔针，19-门，20-连接扣，21-连接绳，22-弹簧扣。具体实施方式为了加深对本技术的理解，下面将结合实施例对本技术做进一步详述，本实施例仅用于解释本技术，并不构成对本技术保护范围的限定。根据图1、2、3、4所示的一种集成电路引脚开短路测试装置，包括显示装置1和测试装置2，所述测试装置2设在显示装置1下方，所述显示装置1下方两侧设有滑槽3，所述测试装置2上方两侧设有与显示装置1下方滑槽3相互适配的滑块4，所述测试装置2通过滑槽3和滑块4与显示装置1连接，所述显示装置1包括壳体一5、触控显示屏6、电池、控制芯片、信息储存器和电源开关7，所述触控显示屏6设在壳体一5上表面，所述电池、控制芯片和信息储存器设在壳体一5内部，所述壳体一5上表面触控显示屏6旁边设有所述电源开关7，所述壳体一5侧面设有充电口8和USB插口9，所述USB插口9连接信息储存器，所述壳体一5上与设有充电口8侧面相邻的一侧面上设有导线插口一10，所述测试装置2侧面设有导线插口二11，所述显示装置1和测试装置2通过一导线12两端分别插入导线插口一10和插口二11连接，所述壳体一5上与设有充电口8侧面相对的一侧面上设有一收纳盒13，所述测试装置2包括壳体二14、测试系统和集成电路检测槽15，所述集成电路检测槽15设在壳体二14侧面，所述测试系统设在壳体二14内部，所述集成电路检测槽15连接测试系统，所述测试系统通过导线12与壳体一5内设的有控制芯片连接，所述控制芯片连接信息储存器和触控显示屏6，所述壳体一5侧面设有一HDMI插口16，所述收纳盒13内设有一测试线17，所述测试线17一端与导线插口一10相互适配，另一端为测试笔针18，所述导线和测试线17均能同时放入收纳盒13中，所述收纳盒13外侧设有一门19，所述门19的一侧与收纳盒13铰接，所述门19的另一侧内侧设有磁铁，所述收纳盒13上与门上磁铁对应的位置上也设有一磁铁，所述门19与收纳盒13通过磁铁连接，所述滑槽3一端设有限位板，所述壳体一5两侧均设有一连接扣20，所述两个连接扣20通过一连接绳21连接，所述连接绳21两端均设有一弹簧扣22，所述连接绳21通过弹簧扣22与连接扣20连接。本技术拥有两种测试方法：一是将测试装置通过导线12与显示装置1连接，将待测的集成电路插入测试装置2上的集成电路检测槽15进行测试；二是通过将测试线17一端插入导线插口一10中，测试线17的另一端为测试笔针18，直接将测试笔针18连接到需要测试的集成电路引脚上，两种测试方法使测试更加方便，本装置不需要外接显示屏，体积较小，方便携带，本装置上还设有一连接绳21，在用测试线17测试的时候可以将连接绳挂在脖子上，不用手持，方便测量，本装置上还设有一收纳盒13，收纳盒13内能放置导线12和测试线17，本装置的显示装置1和测试装置2通过滑槽3和滑块4连接，使两个装置可以连接在一起，方便携带，本装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路引脚开短路测试装置，其特征在于：包括显示装置(1)和测试装置(2)，所述测试装置(2)设在显示装置(1)下方，所述显示装置(1)下方两侧设有滑槽(3)，所述测试装置(2)上方两侧设有与显示装置(1)下方滑槽(3)相互适配的滑块(4)，所述测试装置(2)通过滑槽(3)和滑块(4)与显示装置(1)连接，所述显示装置(1)包括壳体一(5)、触控显示屏(6)、电池、控制芯片、信息储存器和电源开关(7)，所述触控显示屏(6)设在壳体一(5)上表面，所述电池、控制芯片和信息储存器设在壳体一(5)内部，所述壳体一(5)上表面触控显示屏(6)旁边设有所述电源开关(7)，所述壳体一(5)侧面设有充电口(8)和USB插口(9)，所述USB插口(9)连接信息储存器，所述壳体一(5)上与设有充电口(8)侧面相邻的一侧面上设有导线插口一(10)，所述测试装置(2)侧面设有导线插口二(11)，所述显示装置(1)和测试装置(2)通过一导线(12)两端分别插入导线插口一(10)和插口二(11)连接，所述壳体一(5)上与设有充电口(8)侧面相对的一侧面上设有一收纳盒(13)，所述测试装置(2)包括壳体二(14)、测试系统和集成电路检测槽(15)，所述集成电路检测槽(15)设在壳体二(14)侧面，所述测试系统设在壳体二(14)内部，所述集成电路检测槽(15)连接测试系统，所述测试系统通过导线(12)与壳体一(5)内设的有控制芯片连接，所述控制芯片连接信息储存器和触控显示屏(6)。...

【技术特征摘要】
1.一种集成电路引脚开短路测试装置，其特征在于：包括显示装置(1)和测试装置(2)，所述测试装置(2)设在显示装置(1)下方，所述显示装置(1)下方两侧设有滑槽(3)，所述测试装置(2)上方两侧设有与显示装置(1)下方滑槽(3)相互适配的滑块(4)，所述测试装置(2)通过滑槽(3)和滑块(4)与显示装置(1)连接，所述显示装置(1)包括壳体一(5)、触控显示屏(6)、电池、控制芯片、信息储存器和电源开关(7)，所述触控显示屏(6)设在壳体一(5)上表面，所述电池、控制芯片和信息储存器设在壳体一(5)内部，所述壳体一(5)上表面触控显示屏(6)旁边设有所述电源开关(7)，所述壳体一(5)侧面设有充电口(8)和USB插口(9)，所述USB插口(9)连接信息储存器，所述壳体一(5)上与设有充电口(8)侧面相邻的一侧面上设有导线插口一(10)，所述测试装置(2)侧面设有导线插口二(11)，所述显示装置(1)和测试装置(2)通过一导线(12)两端分别插入导线插口一(10)和插口二(11)连接，所述壳体一(5)上与设有充电口(8)侧面相对的一侧面上设有一收纳盒(13)，所述测试装置(2)包括壳体二(14)、测试系统和集成电路检测槽(15)，所述集成电路检测槽(15)设在壳体二(14)侧面，所述测试系统设在壳体二(14)内部，所述集成电路检...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭文标，王晓阳，
申请(专利权)人：泉州市桐云电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建,35