【技术实现步骤摘要】
一种OLED色斑检测与修复一体化系统、方法
本专利技术属于显示
，更具体地，涉及一种OLED色斑检测与修复一体化系统、方法。
技术介绍
由于晶化工艺的局限性，在大面积玻璃基板上制作的低温多晶硅薄膜晶体管(LTPSTFT)，其不同位置的薄膜晶体管(TFT)常常在诸如阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，这种非均匀性会转化为OLED显示器件的电流差异和亮度差异，并被人眼所感知，即mura(色斑)现象。mura修复技术是一种消除显示器mura现象、使画面亮度均匀的技术。现有技术譬如申请号为201610200089.5的中国专利所公开的一种消除OLED显示面板Mura的方法，先通过对比OLED显示面板的伽马值和当前显示灰阶下的局域伽马值选择相应的计算公式，以计算得出应采用的补偿灰阶，再令OLED显示面板显示当前得到的补偿灰阶，并判断是否达到预设的结束补偿灰阶计算的条件，若没有达到预设的结束补偿灰阶计算的条件，则不断进行迭代计算直至达到预设的结束补偿灰阶计算的条件，能够快捷有效地消除OLED显示面板mura，保证OLED显示面板的亮度均匀，提升OLED显示面板的显...
【技术保护点】
1.一种OLED色斑检测与修复一体化系统，其特征在于，包括计算单元、光学测量单元和驱动单元；所述驱动单元作用于OLED面板以驱动OLED面板点亮不同灰阶的白色画面；光学测量单元用于在驱动单元的触发下拍摄OLED面板在所述白色画面下的像素亮度测量图片，以及区块级别的色度测量图片；所述计算单元用于根据所述亮度测量图片、色度测量图片获取各像素的亮度和色度并根据像素的亮度和色度确定色斑种类和等级；并用于根据各个灰阶的亮度和色度计算出R/G/B各通道的补偿数据并转换为OLED面板的驱动芯片可接收的格式发送到面板的存储器中；待修复OLED面板在其demura使能状态寄存器控制下调用存储...
【技术特征摘要】
1.一种OLED色斑检测与修复一体化系统，其特征在于，包括计算单元、光学测量单元和驱动单元；所述驱动单元作用于OLED面板以驱动OLED面板点亮不同灰阶的白色画面；光学测量单元用于在驱动单元的触发下拍摄OLED面板在所述白色画面下的像素亮度测量图片，以及区块级别的色度测量图片；所述计算单元用于根据所述亮度测量图片、色度测量图片获取各像素的亮度和色度并根据像素的亮度和色度确定色斑种类和等级；并用于根据各个灰阶的亮度和色度计算出R/G/B各通道的补偿数据并转换为OLED面板的驱动芯片可接收的格式发送到面板的存储器中；待修复OLED面板在其demura使能状态寄存器控制下调用存储器中的补偿数据进行色斑修复。2.如权利要求1所述的OLED色斑检测与修复一体化系统，其特征在于，还包括辅助性的环境位置控制单元，所述环境位置控制单元包括暗室、除尘设备、面板对位机构、光路调节机构；所述暗室用于容纳OLED面板和所述光学测量单元，以消除外界光对测量的影响；所述除尘设备位于所述暗室中，用于除去环境中的灰尘；所述面板对位机构用于调整待测OLED面板的位置，使待测OLED面板中心处于光路的光轴上且OLED面板平面平行于光学测量单元的相机平面；所述光路调节机构与光学测量单元相连，用于调节光学测量单元的相机与待测OLED面板之间的距离以及相机光圈的大小、对焦环的位置。3.如权利要求1或2所述的OLED色斑检测与修复一体化系统，其特征在于，所述光学测量单元在驱动单元的触发下拍摄OLED面板在预处理画面下的像素亮度测量图片和色度测量图片，并由计算单元根据所述像素亮度测量图片和色度测量图片来判定所述OLED面板是否需要进行色斑修复。4.如权利要求1或2所述的OLED色斑检测与修复一体化系统，其特征在于，所述光学测量单元包括并列的亮度测量单元和色度测量单元；工作时，所述亮度测量单元和色度测量单元同时对OLED面板显示的图像进行拍摄，亮度测量单元拍摄获取OLED面板像素的亮度测量图片，色度测量单元拍摄获取待测面板区块级别的色度测量图片。5.基于权利要求1～4所述的OLED色斑检测与修复一体化系统的OLED色斑检测与...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯晓帆，郑增强，刘钊，马尔威，吴红君，刘荣华，沈亚非，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42
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