失效侦测系统及其方法技术方案

一种失效侦测系统包含一发光阵列，及一失效侦测装置，该发光阵列包括多个发光二极管单元，该失效侦测装置包括一驱动模块，及一判断模块，该驱动模块接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元的其中之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元，该判断模块接收一选择信号，并根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，该判断模块根据该输出电压的大小产生一指示该欲侦测发光二极管单元是否异常的状态信号。本发明专利技术失效侦测系统直接侦测该发光二极管单元的该输出电压，因此不需如现有的技术提供不同准位的预定电流值。

【技术实现步骤摘要】
失效侦测系统及其方法
本专利技术涉及一种系统及方法，特别是指能快速侦测发光二极管是否异常的失效侦测系统及其方法。
技术介绍
现有的发光二极管失效侦测系统具有以下的缺点：1.须提供两个不同准位的预定电流：如申请号US2014/0097849A1所揭示的发光二极管失效侦测系统，需先量测该串列的发光二极管接收一高准位的预定电流时的第一跨压，再量测该串列的发光二极管接收一低准位的预定电流时的第二跨压，并将根据该第一跨压与该第二跨压进行减法运算而得到一第一校准值，后续再重复上述的量测以得到一第二校准值，该发光二极管失效侦测系统再判断该第一校准值和该第二校准值的差值是否大于一基本值以判断该串列发光二极管是否故障。2.无法快速更换维修：现有的发光二极管失效侦测系统只能侦测出该串列的发光二极管有故障，但却无法确切知道是哪一颗发光二极管故障。3.增加成本：由于现有的发光二极管失效侦测系统无法知道是哪一颗发光二极管故障，因此，当检测到该串列的发光二极管故障时，仅能针对该串列的发光二极管逐一检测，而无法快速更换，以致造成时间成本提高。
技术实现思路
本专利技术的第一目的在于提供一种能不需提供不同准位的预定电流，就能明确地知道失效的发光二极管的位置坐标，而能马上更换维修的失效侦测系统。本专利技术失效侦测系统包含一发光阵列及一失效侦测装置。该发光阵列包括多个扫描线、多个数据线，及多个发光二极管单元。该多个扫描线各自沿一第一方向设置。该多个数据线各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线。该多个发光二极管单元分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端及一电连接所对应的该数据线的输出端。该失效侦测装置包括一驱动模块及一判断模块。该驱动模块电连接该多个扫描线及该多个数据线，且接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元的其中之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元。该判断模块电连接每一发光二极管单元的输出端，且接收一指示哪一数据线的选择信号，该选择信号相关于该坐标信号，该判断模块根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，该判断模块根据该输出电压的大小产生一指示该欲侦测发光二极管单元是否异常的状态信号。本专利技术失效侦测系统，该失效侦测装置还包括一控制单元，用于根据一相关于该欲侦测发光二极管单元的位置坐标产生该坐标信号及该选择信号，并电连接于该判断模块和该驱动模块以接收来自该判断模块的该状态信号，该控制单元根据对应于该欲侦测发光二极管单元的该状态信号与该位置坐标，输出一判断结果。本专利技术失效侦测系统，还包含一显示器，电连接该控制单元以接收该判断结果，并显示该判断结果。本专利技术失效侦测系统，该判断模块包括一多工器，接收该选择信号，且电连接该多个数据线，以接收该多个数据线上的电压，并根据该选择信号选择该多个数据线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输出端的该输出电压，一减法器，接收一相关于该驱动信号的预设电压，且电连接该多工器以接收该输出电压，并将该预设电压及该输出电压进行减法运算以产生一相关于该欲侦测发光二极管单元的电压差值，及一比较电路，接收一临界值，且电连接该减法器以接收该电压差值，并比较该电压差值与该临界值以产生该状态信号。本专利技术失效侦测系统，该临界值包括一指示一第一准位的第一参考电压，及一指示一第二准位的第二参考电压，该第一参考电压小于该第二参考电压，该比较电路包括一第一比较器与一第二比较器，第一比较器具有一接收该第一参考电压的反向输入端、一接收该电压差值的非反向输入端，及一输出端，该第一比较器根据该第一参考电压和该电压差值进行比较，并在其输出端输出一具有一高准位及一低准位二者其中之一的第一判断信号。第二比较器具有一接收该第二参考电压的反向输入端、一接收该电压差值的非反向输入端，及一输出端，该第二比较器根据该第二参考电压和该电压差值进行比较，并在其输出端输出一具有一高准位及一低准位二者其中之一的第二判断信号，及一或闸，具有一电连接该第一比较器的该输出端以接收该第一判断信号的第一端、一电连接该第二比较器的该输出端以接收该第二判断信号的第二端，及一输出端，该或闸根据该第一判断信号和该第二判断信号进行逻辑运算，并在其输出端输出该状态信号，当该电压差值界于该第一参考电压与该第二参考电压间，则该状态信号指示没有异常，当该电压差值小于该第一参考电压或大于该第二参考电压，则该状态信号指示异常。本专利技术失效侦测系统，该选择信号包括一指示哪一扫描线的第一次选择信号，及一指示哪一数据线的第二次选择信号，该判断模块包括一第一多工器，接收该第一次选择信号，且电连接该多个扫描线，以接收该多个扫描线上的电压，并根据该第一次选择信号选择该多个扫描线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输入端的一输入电压；一第二多工器，接收该第二次选择信号，且电连接该多个数据线，以接收该多个数据线上的电压，并根据该第二次选择信号选择该多个数据线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输出端的该输出电压；一减法器，电连接该第一多工器和该第二多工器以接收该输入电压和该输出电压，并将该输入电压及该输出电压进行减法运算以产生一相关于该欲侦测发光二极管单元的跨压；及一比较电路，接收一临界值，且电连接该减法器以接收该跨压，并比较该跨压与该临界值以产生该状态信号。本专利技术失效侦测系统，该坐标信号包括一指示该欲侦测发光二极管单元所对应的扫描线的扫描信号及一该欲侦测发光二极管单元所对应的数据线的数据信号，该驱动模块包括一扫描单元，接收一驱动电压及该扫描信号，且电连接该多个扫描线，并根据该扫描信号以决定将该驱动电压传送到哪一扫描线上；及一数据单元，接收一地电压及该数据信号，且电连接该多个数据线，且根据该数据信号以决定将该地电压传送到哪一数据线上。本专利技术失效侦测系统，该扫描单元包括多个扫描开关，每一扫描开关具有一输入端、一输出端及一控制端，该多个扫描开关的输入端接收该驱动电压，该多个扫描开关的输出端分别电连接该多个扫描线，该多个扫描开关的控制端受该扫描信号控制，以切换于导通与不导通间，及该数据单元包括多个数据开关，每一数据开关具有一输入端、一输出端及一控制端，该多个数据开关的输入端电连接该多个数据线，该多个数据开关的输出端接收该地电压，该多个数据开关的控制端受该数据信号控制，以切换于导通与不导通间。本专利技术的一第二目的在于提供一种能不需提供不同准位的预定电流，就能明确地知道失效的发光二极管的位置坐标，而能马上更换维修的发光二极管失效侦测方法。本专利技术发光二极管失效侦测方法，由一失效侦测系统执行，该失效侦测系统包含一发光阵列，及一失效侦测装置，该发光阵列包括多个扫描线、多个数据线，及多个发光二极管单元，该多个扫描线各自沿一第一方向设置，该多个数据线各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线，该多个发光二极管单元分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端及一电连接所对应的该数据线的输出端，该失效侦测装置包括一驱动模块，及一判断模块，该驱动模块电连接该多个扫描线及该多本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种失效侦测系统，其特征在于，包含：一发光阵列，包括多个扫描线，各自沿一第一方向设置，多个数据线，各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线，及多个发光二极管单元，分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端，及一电连接所对应的该数据线的输出端；及一失效侦测装置，包括一驱动模块，电连接该多个扫描线及该多个数据线间，且接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元的其中之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元，及一判断模块，电连接每一发光二极管单元的输出端，且接收一指示哪一数据线的选择信号，该选择信号相关于该坐标信号，该判断模块根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，该判断模块根据该输出电压的大小产生一指示该欲侦测发光二极管单元是否异常的状态信号。

【技术特征摘要】
2017.03.21 TW 1061093131.一种失效侦测系统，其特征在于，包含：一发光阵列，包括多个扫描线，各自沿一第一方向设置，多个数据线，各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线，及多个发光二极管单元，分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端，及一电连接所对应的该数据线的输出端；及一失效侦测装置，包括一驱动模块，电连接该多个扫描线及该多个数据线间，且接收一指示一欲侦测发光二极管单元的坐标信号，该欲侦测发光二极管单元是该多个发光二极管单元的其中之一，该驱动模块根据该坐标信号产生一驱动信号至该欲侦测发光二极管单元，及一判断模块，电连接每一发光二极管单元的输出端，且接收一指示哪一数据线的选择信号，该选择信号相关于该坐标信号，该判断模块根据该选择信号侦测来自该欲侦测发光二极管单元的输出端的一输出电压，该判断模块根据该输出电压的大小产生一指示该欲侦测发光二极管单元是否异常的状态信号。2.根据权利要求1所述的失效侦测系统，其特征在于，该失效侦测装置还包括一控制单元，该控制单元用于根据一相关于该欲侦测发光二极管单元的位置坐标产生该坐标信号及该选择信号，并电连接于该判断模块和该驱动模块间以接收来自该判断模块的该状态信号，该控制单元根据对应于该欲侦测发光二极管单元的该状态信号与该位置坐标，输出一判断结果。3.根据权利要求2所述的失效侦测系统，其特征在于，还包含一显示器，该显示器电连接该控制单元以接收该判断结果，并显示该判断结果。4.根据权利要求1所述的失效侦测系统，其特征在于，该判断模块包括一多工器、一减法器及一比较电路，该多工器接收该选择信号，且电连接该多个数据线，以接收该多个数据线上的电压，并根据该选择信号选择该多个数据线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输出端的该输出电压，该减法器接收一相关于该驱动信号的预设电压，且电连接该多工器以接收该输出电压，并将该预设电压及该输出电压进行减法运算以产生一相关于该欲侦测发光二极管单元的电压差值，及该比较电路接收一临界值，且电连接该减法器以接收该电压差值，并比较该电压差值与该临界值以产生该状态信号。5.根据权利要求4所述的失效侦测系统，其特征在于，该临界值包括一指示一第一准位的第一参考电压，及一指示一第二准位的第二参考电压，该第一参考电压小于该第二参考电压，该比较电路包括一第一比较器、一第二比较器、一或闸，该第一比较器具有一接收该第一参考电压的反向输入端、一接收该电压差值的非反向输入端，及一输出端，该第一比较器根据该第一参考电压和该电压差值进行比较，并在其输出端输出一具有一高准位及一低准位二者的其中之一的第一判断信号，该第二比较器具有一接收该第二参考电压的反向输入端、一接收该电压差值的非反向输入端，及一输出端，该第二比较器根据该第二参考电压和该电压差值进行比较，并在其输出端输出一具有一高准位及一低准位二者的其中之一的第二判断信号，及该或闸具有一电连接该第一比较器的该输出端以接收该第一判断信号的第一端、一电连接该第二比较器的该输出端以接收该第二判断信号的第二端，及一输出端，该或闸根据该第一判断信号和该第二判断信号进行逻辑运算，并在其输出端输出该状态信号，当该电压差值界于该第一参考电压与该第二参考电压间，则该状态信号指示没有异常，当该电压差值小于该第一参考电压或大于该第二参考电压，则该状态信号指示异常。6.根据权利要求1所述的失效侦测系统，其特征在于，该选择信号包括一指示哪一扫描线的第一次选择信号，及一指示哪一数据线的第二次选择信号，该判断模块包括一第一多工器，接收该第一次选择信号，且电连接该多个扫描线，以接收该多个扫描线上的电压，并根据该第一次选择信号选择该多个扫描线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输入端的一输入电压，一第二多工器，接收该第二次选择信号，且电连接该多个数据线，以接收该多个数据线上的电压，并根据该第二次选择信号选择该多个数据线上的电压的其中之一，作为该欲侦测发光二极管单元的输出端的该输出电压，一减法器，电连接该第一多工器和该第二多工器以接收该输入电压和该输出电压，并将该输入电压及该输出电压进行减法运算以产生一相关于该欲侦测发光二极管单元的跨压，及一比较电路，接收一临界值，且电连接该减法器以接收该跨压，并比较该跨压与该临界值以产生该状态信号。7.根据权利要求1所述的失效侦测系统，其特征在于，该坐标信号包括一指示该欲侦测发光二极管单元所对应的扫描线的扫描信号及一指示该欲侦测发光二极管单元所对应的数据线的数据信号，该驱动模块包括一扫描单元，接收一驱动电压及该扫描信号，且电连接该多个扫描线，并根据该扫描信号以决定将该驱动电压传送到哪一扫描线上，及一数据单元，接收一地电压及该数据信号，且电连接该多个数据线，且根据该数据信号以决定将该地电压传送到哪一数据线上。8.根据权利要求7所述的失效侦测系统，其特征在于，该扫描单元包括多个扫描开关，每一扫描开关具有一输入端、一输出端及一控制端，该多个扫描开关的输入端接收该驱动电压，该多个扫描开关的输出端分别电连接该多个扫描线，该多个扫描开关的控制端受该扫描信号控制，以切换于导通与不导通间，及该数据单元包括多个数据开关，每一数据开关具有一输入端、一输出端及一控制端，该多个数据开关的输入端电连接该多个数据线，该多个数据开关的输出端接收该地电压，该多个数据开关的控制端受该数据信号控制，以切换于导通与不导通间。9.一种失效侦测方法，由一失效侦测系统执行，该失效侦测系统包含一发光阵列，及一失效侦测装置，该发光阵列包括多个扫描线、多个数据线，及多个发光二极管单元，该多个扫描线各自沿一第一方向设置，该多个数据线各自沿一第二方向垂直设置于所述扫描线，该多个发光二极管单元分别对应地设置于由该多个扫描线与该多个数据线所界定的矩阵间，每一发光二极管单元具有一电连接所对应的该扫描线的输入端及一电连接所对应的该数据线的输出端，该失效侦测装置包括一驱动模块，及一判断模块，该驱动模块电连接该多个扫描线及该多个数据线间，该判断模块电连接每一发光二极管单元的输出端，其特征在于，该失效侦测方法包含以下步骤：利...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄炳凯，蔡宗达，
申请(专利权)人：聚积科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71