A test socket is disclosed. The test socket disclosed in the invention comprises a base configured to have an electronic component on its upper seat and a downward inclined plane formed on it; a top cover formed to be able to move vertically above the base; and a compression module sliding connected to the base. The top cover is configured to press down the electronic element downwards when the top cover is lowered. In the process of the top cover falling, the compression module is pushed by the inclined plane to slide above the electronic element. According to the present invention, a test socket can be provided in which the operator can observe during the test an electronic module, the height of the space for installing the socket is reduced, and the connecting pin and the connector are connected to each other in an ideal connection direction.
【技术实现步骤摘要】
测试插座
本专利技术涉及一种测试插座，更具体地，涉及一种配置为用于将完全组装的电子元件连接于检测装置的测试插座。
技术介绍
通过提供操作信号和电源对半导体、LCD模块、图像传感器、相机模块等进行质量检测，以检测它们是否正常工作，该操作信号与施加给在各组件完成组装后实际安装的电子元件的操作信号相同，或者相似。测试插座是一种配置为将LCD模块、相机模块或类似物连接于检测装置的装置，以便于检测装置的信号能够传递到LCD模块、相机模块或类似物。在这方面，专利号为1006243的韩国专利公开了一种用于检测电子模块的插座。该由韩国专利No.1006243公开的插座包括：主体部分，该主体部分具有其上座设有被检测的电子模块的阀座部；盖单元，该盖单元铰接于主体部分的一侧，配置为与主体部分的上表面接触以选择性地按压电子模块，并且配置为覆盖主体部分的上部以防止电子模块脱出；操作单元，该操作单元设置于主体部分的一侧或两侧以及盖单元上，以在盖单元闭合时半自动操作盖单元；夹片单元，该夹片单元配置为使盖单元的闭合状态由操作单元维持；销组件，该销组件设置在主体部分上以在盖单元闭合时连接于电子模块...
【技术保护点】
1.一种测试插座，其特征在于，包括：底座，该底座配置为在其上座设有电子元件，并且具有形成在其上部的向下倾斜的斜面；顶盖，该顶盖形成为能够在所述底座上方沿竖直方向移动；以及压紧模块，该压紧模块滑动地连接于所述顶盖，并且配置为当所述顶盖下降时向下压紧所述电子元件，其中，在所述顶盖下降的过程中，所述压紧模块由所述斜面推动以滑动至所述电子元件的上方。
【技术特征摘要】
2017.03.27 KR 10-2017-00386881.一种测试插座，其特征在于，包括：底座，该底座配置为在其上座设有电子元件，并且具有形成在其上部的向下倾斜的斜面；顶盖，该顶盖形成为能够在所述底座上方沿竖直方向移动；以及压紧模块，该压紧模块滑动地连接于所述顶盖，并且配置为当所述顶盖下降时向下压紧所述电子元件，其中，在所述顶盖下降的过程中，所述压紧模块由所述斜面推动以滑动至所述电子元件的上方。2.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述底座或所述压紧模块设置有连接销，该连接销配置为沿竖直方向连接于所述电子元件的连接器。3.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述底座和所述顶盖中的一者设置有竖轴，所述底座和所述顶盖中的另一者设置有轴槽，所述竖轴插入所述轴槽中并能够沿竖直方向移动。4.根据权利要求3所述的测试插座，其中，所述顶盖和所述压紧模块通过第一弹性件相互连接，并且所述压紧模块在所述顶盖升降的过程中通过所述第一弹性件的恢复力与所述斜面紧密...
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