The invention provides a method for measuring the crystallization temperature of TFT liquid crystal substrate glass, including the following steps: preparing test samples: making defect-free TFT liquid crystal substrate glass into particles between 0.6mm and 2.0mm, washing and drying; removing iron impurities, getting test samples; step 2, placing test samples evenly into platinum boat In the vessel, the platinum boat is put into the gradient furnace to keep warm; Step 3, the test sample is taken out of the gradient furnace, and after cooling, the test sample is stripped of the platinum boat, and the test sample is observed under the microscope, marking the beginning position of crystallization and the end position of crystallization; Step 4, according to the temperature fitting formula provided by the gradient furnace software. The crystallization upper limit temperature of TFT liquid crystal substrate glass is calculated. The temperature fitting formula of the gradient furnace is adopted to improve the accuracy of the measurement.
【技术实现步骤摘要】
一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法
本专利技术属于液晶显示器用玻璃性能检测领域,涉及一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法。
技术介绍
随着TFT液晶显示器技术的不断发展,各类显示器生产工艺不断优化,因此对显示器生产使用的材料性能要求越来越高。基板玻璃作为液晶显示器生产的关键材料之一,只有不断优化料方,提高产品性能,才能够满足液晶显示器生产的需要。析晶温度是基板玻璃生产中的一项关键工艺性能指标,它关系到基板玻璃成型生产及基板玻璃的产品质量,只有将基板玻璃的析晶温度控制在一定的温度以下,才能够保证成型生产的正常进行。析晶温度与玻璃成分、玻璃结构及玻璃分相等因素有关,通过测试不同料方的析晶温度,可以优选或优化玻璃料方,对于液晶基板玻璃采取溢流下拉法成型工艺,更需要提供玻璃的析晶温度,因此,准确测试液晶基板玻璃不同料方的析晶温度,对于液晶基板玻璃生产工艺的制定、产品质量的控制具有一定的现实意义。玻璃析晶温度的测试方法有梯度炉法、淬火法、高温显微镜法等等,最常用的方法是梯度炉法,早期梯度炉法测试液晶基板玻璃的析晶温度要在测试前先对梯度炉的温度梯度进行标定,以求得炉内温度沿炉长的温度分布,其方法是首先对梯度炉升温,当炉内温度升至设定的最高温度时,保温一定时间,使炉内温度达到平衡,然后由炉管一端向另一端插入热电偶,按每次1厘米逐渐向内测量,再向外移动热电偶,并让热电偶在各点停留10分钟。每移动一次记录其温度和距离,直到热电偶移动到炉口为止,为降低炉内各点温度测试的误差,需要多次重复测试,求得平均值,然后在直角坐标系上以移动距离为横坐标,温度为纵坐标,绘制出炉内 ...
【技术保护点】
1.一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,包括以下步骤,步骤1,制备测试样品:将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm~2.0mm之间颗粒,洗涤、干燥;去除铁杂质,得到测试样品;步骤2,将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中,再将铂金舟放入梯度炉内保温;步骤3,从梯度炉中取出保温后的测试样品,冷却后使测试样品剥离铂金舟,在显微镜下开始观测测试样品,标注析晶开始位置与析晶结束位置;步骤4,采用的梯度炉软件中嵌有反映温度与梯度炉位置关系的温度拟合公式,根据梯度炉软件提供的温度拟合公式,计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。
【技术特征摘要】
1.一种TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,包括以下步骤,步骤1,制备测试样品:将无缺陷的TFT液晶基板玻璃制成0.6mm~2.0mm之间颗粒,洗涤、干燥;去除铁杂质,得到测试样品;步骤2,将制得的测试样品均匀放入铂金舟器皿中,再将铂金舟放入梯度炉内保温;步骤3,从梯度炉中取出保温后的测试样品,冷却后使测试样品剥离铂金舟,在显微镜下开始观测测试样品,标注析晶开始位置与析晶结束位置;步骤4,采用的梯度炉软件中嵌有反映温度与梯度炉位置关系的温度拟合公式,根据梯度炉软件提供的温度拟合公式,计算出TFT液晶基板玻璃的析晶上限温度。2.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤1具体包括以下步骤:步骤1.1,选取无缺陷的TFT液晶基板玻璃样品,用无污染的材料将玻璃样品包裹,敲击包裹的样品使其成为颗粒形状;步骤1.2,依次过10目和30目的筛网,收集30目筛网上的颗粒试样;步骤1.3,将颗粒试样用乙醇水溶液在超声条件下反复洗涤,至溶液清亮为止,烘干;步骤1.4,用磁铁去除烘干后的颗粒试样中的铁杂质,得到测试样品。3.根据权利要求1所述的TFT液晶基板玻璃析晶温度的测试方法,其特征在于,步骤2中,测试样...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭萍莉,曾召,孔令歆,兰静,
申请(专利权)人:彩虹显示器件股份有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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