银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法技术方案

本发明专利技术公开了一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。

【技术实现步骤摘要】
银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法
本专利技术属于银行芯片测试系统的
，特别涉及银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法。
技术介绍
芯片银行卡，又称金融IC卡，是以芯片作为介质的银行卡。芯片卡容量大，其工作原理类似于微型计算机，能够同时具备多种功能。芯片银行卡又分为纯芯片卡和磁条芯片复合卡。现有的银行芯片测试系统通常测试过程复杂，无法实现自动化，需要人工干预，测试效率低下。本案的自动化测试系统主要是为银行安全芯片提供测试服务，测试机和测试电路通过DUT连接到待测芯片,可实现对单颗芯片的测试，在测试机连接机械手后，可对争先安全芯片进行自动化量产测试,并将测试机测试电性参数后的测试结果保存下来，同时将芯片中的不良品筛选出来，在机械手这端把良品和不良品分别放入到不同的TRAY盘。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该测试系统利用V50测试机与机械手的配合进行模拟待测芯片的实际工作环境，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优。本专利技术的另一个目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统，该测试系统能够进行良品分BIN和不良品分BIN。本专利技术的另一个目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统的控制方法，测试过程自动化程度高，且测试效率高。为实现上述目的，本专利技术的技术方案如下。一种银行安全芯片自动化测试系统，包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块，所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接，所述V50测试机通过电源模块和测试DUT给待测芯片供电，且所述V50测试机通过数字通道模块和测试DUT对待测芯片施加相应的激励信号。所述V50测试机测试待测芯片的各项参数，根据测试结果判定待测芯片的好坏且分类，将不良品有效筛选出来。所述V50测试机上还设有测试平台、气缸、导轨和支架，所述测试区设置在测试平台上，所述导轨和支架设置在测试区的上方，所述机械手的上端设置在支架上，所述气缸通过导轨与支架驱动连接，且所述支架在导轨上移动。更进一步，所述机械手的下端设有吸盘，所述气缸与吸盘驱动连接，且所述吸盘用于对测试区上的待测芯片取料及分料。进一步，所述电源模块的供电电压为3.3V、5V、5.5V或2.7V中的一种。一种银行安全芯片自动化测试系统的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将V50测试机与测试DUT连接，且将测试DUT与机械手连接；步骤2，启动测试系统，调取对应的测试软件，进入测试；步骤3，连接V50测试机，建立与机械手之间的通讯；步骤4，启动机械手，对待测芯片进行连续测试；步骤5，机械手测试完一颗待测芯片后，自动切换至下一颗芯片，直至测试完成。进一步，所述步骤4中，若机械手测试的待测芯片为良品，则将良品放置到良品区；若机械手测试的待测芯片为不良品，则将不良品放置到不良区。进一步，所述步骤4中，机械手对待测芯片的测试项目包括芯片管脚的开短路是否正常、芯片的封口功能是否正常、芯片的LDO输出是否正常、芯片的功能是否正常、芯片的TX脚输出波形是否正常、芯片的RNG功能是否正常、芯片的FLASH功能是否正常、芯片的RAM功能是否正常、芯片的ARITH功能是否正常、芯片的USB功能是否正常、芯片的GOODDIE功能是否正常、漏电参数是否正常、芯片的唤醒功能是否正常、芯片的IPD电流是否正常、芯片的驱动参数是否正常及芯片的ICC电流是否正常。本专利技术所实现的银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，通过V50测试机、测试DUT和机械手的配合，模拟待测芯片的实际工作环境，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个待测芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优；再者，机械手根据测试结果判定待测芯片的好坏，将不良品有效筛选出来，且将良品放置到良品区，不良品放置到不良区，实现对银行安全芯片的自动化测试及筛选。附图说明图1是本专利技术所实施的银行安全芯片自动化测试系统的方框示意图；图2是本专利技术所实施的银行安全芯片自动化测试系统的结构示意图；图3为本专利技术所实施的银行安全芯片自动化测试系统的控制方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。参见图1所示，为本专利技术所实现的银行安全芯片自动化测试系统，包括V50测试机1、测试DUT2和机械手3，机械手3设置在V50测试机1上，V50测试机1与测试DUT2连接，测试DUT2与待测芯片连接，且机械手3与待测芯片连接；V50测试机1通过测试DUT2把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机1；V50测试机1控制机械手3将待测芯片放置到测试区15，V50测试机1对待测芯片进行测试，V50测试机1将测试结果返回给机械手3，且机械手3根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。V50测试机1上设有电源模块和数字通道模块，电源模块和数字通道模块均与测试DUT2连接，V50测试机1通过电源模块和测试DUT2给待测芯片供电，且V50测试机1通过数字通道模块和测试DUT2对待测芯片施加相应的激励信号。V50测试机1测试待测芯片的各项参数，根据测试结果判定待测芯片的好坏，将不良品有效筛选出来。数字通道模块主要实现发送数据命令给待测试芯片和接收待测试芯片反馈回来的信号。请参阅图2，V50测试机1上还设有测试平台11、气缸12、导轨13和支架14，测试区15设置在测试平台11上，导轨13和支架14设置在测试区15的上方，机械手3的上端设置在支架14上，气缸12通过导轨13与支架14驱动连接，且支架14在导轨13上移动。机械手3的下端设有吸盘5，气缸12与吸盘5驱动连接，且吸盘5用于对测试区15上的待测芯片取料及分料。电源模块的供电电压为3.3V、5V、5.5V或2.7V中的一种。在本测试系统中，V50测试机1主要使用了电源模块和数字通道模块，电源模块可以提供固定输出的电源，如+5V/+15V/-15V/+19V，这几个脚在V50测试机1上电后就可以一直输出对应数值的电压，数值不可调节。继电器控制位信号，可以对用户继电器进行控制。电源模块可以实现可编程的电源输出，二路可编程的电源，可以实现0-15V之间的任意电压输出，并可以同时测量该电源的输出电流，这种功能需要在运行测试程序的时候才会有相应的电压输出。本测试系统中，用到+5V的固定电源和DPS1可编程的电源，+5V的电源通过测试DUT2上的接口给RELAY供电，保证R本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。

【技术特征摘要】
1.一种银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。2.如权利要求1所述的银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块，所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接，所述V50测试机通过电源模块和测试DUT给待测芯片供电，且所述V50测试机通过数字通道模块和测试DUT对待测芯片施加相应的激励信号，所述V50测试机测试待测芯片的各项参数，根据测试结果判定待测芯片的好坏且分类。3.如权利要求1所述的银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，所述V50测试机上还设有测试平台、气缸、导轨和支架，所述测试区设置在测试平台上，所述导轨和支架设置在测试区的上方，所述机械手的上端设置在支架上，所述气缸通过导轨与支架驱动连接，且所述支架在导轨上移动。4.如权利要求3所述的银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，所述机械手的下端设有吸盘，所述气缸与吸盘驱动连接，...

【专利技术属性】
技术研发人员：禹乾勋，赵勇，
申请(专利权)人：深圳市华宇半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44