银行安全芯片自动化测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种银行安全芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。

【技术实现步骤摘要】
银行安全芯片自动化测试系统
本技术属于银行芯片测试系统的
，特别涉及银行安全芯片自动化测试系统。
技术介绍
芯片银行卡，又称金融IC卡，是以芯片作为介质的银行卡。芯片卡容量大，其工作原理类似于微型计算机，能够同时具备多种功能。芯片银行卡又分为纯芯片卡和磁条芯片复合卡。现有的银行芯片测试系统通常测试过程复杂，无法实现自动化，需要人工干预，测试效率低下。本案的自动化测试系统主要是为银行安全芯片提供测试服务，测试机和测试电路通过DUT连接到待测芯片,可实现对单颗芯片的测试，在测试机连接机械手后，可对争先安全芯片进行自动化量产测试,并将测试机测试电性参数后的测试结果保存下来，同时将芯片中的不良品筛选出来，在机械手这端把良品和不良品分别放入到不同的TRAY盘。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术的目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统，该测试系统利用V50测试机与机械手的配合，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优。本技术的另一个目的在于提供一种银行安全芯片自动化测试系统，该测试系统能够进行良品分BIN和不良品分BIN。为实现上述目的，本技术的技术方案如下。一种银行安全芯片自动化测试系统，包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块，所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接，所述V50测试机通过电源模块和测试DUT给待测芯片供电，且所述V50测试机通过数字通道模块和测试DUT对待测芯片施加相应的激励信号。所述V50测试机上还设有测试平台、气缸、导轨和支架，所述测试区设置在测试平台上，所述导轨和支架设置在测试区的上方，所述机械手的上端设置在支架上，所述气缸通过导轨与支架驱动连接，且所述支架在导轨上移动。更进一步，所述机械手的下端设有吸盘，所述气缸与吸盘驱动连接，且所述吸盘用于对测试区上的待测芯片取料及分料。进一步，所述电源模块的供电电压为3.3V、5V、5.5V或2.7V中的一种。本技术所实现的银行安全芯片自动化测试系统，通过V50测试机、测试DUT和机械手的配合，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个待测芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优；再者，机械手根据测试结果判定待测芯片的好坏，将不良品有效筛选出来，且将良品放置到良品区，不良品放置到不良区，实现对银行安全芯片的自动化测试及筛选。附图说明图1是本技术所实施的银行安全芯片自动化测试系统的方框示意图；图2是本技术所实施的银行安全芯片自动化测试系统的结构示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。参见图1所示，为本技术所实现的银行安全芯片自动化测试系统，包括V50测试机1、测试DUT2和机械手3，机械手3设置在V50测试机1上，V50测试机1与测试DUT2连接，测试DUT2与待测芯片连接，且机械手3与待测芯片连接；V50测试机1通过测试DUT2把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机1；V50测试机1控制机械手3将待测芯片放置到测试区15，V50测试机1对待测芯片进行测试，V50测试机1将测试结果返回给机械手3，且机械手3根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。V50测试机1上设有电源模块和数字通道模块，电源模块和数字通道模块均与测试DUT2连接，V50测试机1通过电源模块和测试DUT2给待测芯片供电，且V50测试机1通过数字通道模块和测试DUT2对待测芯片施加相应的激励信号。V50测试机1测试待测芯片的各项参数，根据测试结果判定待测芯片的好坏，将不良品有效筛选出来。数字通道模块主要实现发送数据命令给待测试芯片和接收待测试芯片反馈回来的信号。请参阅图2，V50测试机1上还设有测试平台11、气缸12、导轨13和支架14，测试区15设置在测试平台11上，导轨13和支架14设置在测试区15的上方，机械手3的上端设置在支架14上，气缸12通过导轨13与支架14驱动连接，且支架14在导轨13上移动。机械手3的下端设有吸盘5，气缸12与吸盘5驱动连接，且吸盘5用于对测试区15上的待测芯片取料及分料。电源模块的供电电压为3.3V、5V、5.5V或2.7V中的一种。在本测试系统中，V50测试机1主要使用了电源模块和数字通道模块，电源模块可以提供固定输出的电源，如+5V/+15V/-15V/+19V，这几个脚在V50测试机1上电后就可以一直输出对应数值的电压，数值不可调节。RL1-32是继电器控制位信号，可以对用户继电器进行控制。下图中的DPS1，DPS2是2路可编程的电源，可以实现0-15V之间的任意电压输出，并可以同时测量该电源的输出电流，这种功能需要在运行测试程序的时候才会有相应的电压输出。本测试系统中，用到+5V的固定电源和DPS1可编程的电源，+5V的电源通过测试DUT2上的接口给RELAY供电，保证RELAY在测试过程中不断电，另外1个可编程电源DPS1通过测试DUT2连接到待测芯片的电源脚，实现对待测芯片的供电和处于不同模式状态下的电源电流的精确测量。测试DUT2是V50V50测试机1与待测试芯片的接口，V50测试机1通过测试DUT2把电源和数字信号送给待测试芯片，待测试芯片把返回的测试结果信息通过DUT再送给V50测试机1，这样就实现了V50测试机1与待测试芯片之间的测试通讯。机械手3起取料，连接，分料作用，它将待测芯片放到测试区15，并发启动信号给到V50测试机1，V50测试机1进行测试，V50测试机1把测试的结果信息再返回给机械手3，机械手3按收到的结果信息把芯片进行好坏分类。总之，本技术所实现的银行安全芯片自动化测试系统，通过V50测试机、测试DUT和机械手的配合，对待测芯片的直流参数和交流参数进行测试，从而使每个待测芯片的各项参数正常，并且每相参数的一致性调整到最优；再者，机械手根据测试结果判定待测芯片的好坏，将不良品有效筛选出来，且将良品放置到良品区，不良品放置到不良区，实现对银行安全芯片的自动化测试及筛选。以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接。

【技术特征摘要】
1.一种银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接。2.如权利要求1所述的银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块，所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接。3...

【专利技术属性】
技术研发人员：禹乾勋，赵勇，
申请(专利权)人：深圳市华宇半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44