光谱检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光谱检测方法及系统，光谱检测方法包括如下步骤：S1,制样；S2,被测样品固定；S3,获取光源：使用脉冲激光器产生光源，利用至少两个光偏振器将光源汇聚且相交于被测样品的上表面中心处；S4,处理光源；S5,数据处理与记录：使用直读光谱仪读取单色仪生成的光信号，利用工控机内的应用程序对光信号进行数据处理，绘制并存储光谱数据。光谱检测系统包括对中夹钳、电动液压锯床、光谱磨样机、脉冲激光器、光偏振器、分束器、格兰泰勒棱镜、滤光镜、半波镜、凸透镜、单色仪、直读光谱仪、采集卡和安装有LabVI EW开发平台的工控机。本发明专利技术能够实现被测样品360°灵活旋转调整，降低被测样品污染的可能性，光谱检测数据实现多元化处理，数据存储更加便捷可靠。

【技术实现步骤摘要】
光谱检测方法及系统
本专利技术属于材料检测
，具体涉及一种光谱检测方法和一种光谱检测系统。
技术介绍
非线性光谱技术是通过将两束或两束以上的脉冲激光同时照射至样品，从而获取样品分子结构与性能特征的技术。在传统的非线性光谱实验中，获取一组非线性光谱数据之后，通常会改变脉冲激光偏振或改变样品方向获取另一组非线性光谱数据，以达到通过改变实验条件，获取更多的分子结构信息的目的。但由于光谱信号会受到实验温湿度波动、样品挥发程度、反应时间等各种因素的影响，在不同实验中获取的非线性光谱对应的实验条件和样品状态并不一定相同，这样就大大降低了检测的准确性，并且进行两次实验造成光谱检测的效率也非常低。另外，在检测过程中，被测样品的固定、角度调整和样品更换比较繁琐，且在此过程中，容易污染样品的外表面，影响光谱检测的效果。现有技术中，中国专利公开号为CN106918603A公开了一种光谱检测方法及系统，光谱检测系统由光源、分光器件、镜头、图像采集器和控制电路组成，待检测薄膜的一条窄带区域的发射光、反射光或透射光经过镜头聚焦后进入分光组件，经分光组件分光后，不同波长的光在空间上分开，透射到图像采集器，光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光谱检测方法，用于光谱检测系统，其特征在于：所述光谱检测方法使用到酒精、对中夹钳(1)、电动液压锯床、光谱磨样机、脉冲激光器(2)、光偏振器(3)、分束器(4)、格兰泰勒棱镜(5)、滤光镜(6)、半波镜(7)、凸透镜(8)、单色仪(9)、直读光谱仪(10)、采集卡(11)和安装有LabVIEW开发平台的工控机(12)；所述光谱检测方法包括如下步骤：S1、制样：首先，使用所述电动液压锯床将金属材料制成55mmx10mmx10mm(长x高x宽)标准尺寸的被测样品(13)，然后，用所述光谱磨样机将所述被测样品的外表面打磨光滑，并对被测样品进行尺寸微调，最后，使用酒精清除所述被测样品的上表面污...

【技术特征摘要】
1.一种光谱检测方法，用于光谱检测系统，其特征在于：所述光谱检测方法使用到酒精、对中夹钳(1)、电动液压锯床、光谱磨样机、脉冲激光器(2)、光偏振器(3)、分束器(4)、格兰泰勒棱镜(5)、滤光镜(6)、半波镜(7)、凸透镜(8)、单色仪(9)、直读光谱仪(10)、采集卡(11)和安装有LabVIEW开发平台的工控机(12)；所述光谱检测方法包括如下步骤：S1、制样：首先，使用所述电动液压锯床将金属材料制成55mmx10mmx10mm(长x高x宽)标准尺寸的被测样品(13)，然后，用所述光谱磨样机将所述被测样品的外表面打磨光滑，并对被测样品进行尺寸微调，最后，使用酒精清除所述被测样品的上表面污渍；S2、被测样品固定：使用所述对中夹钳将被测样品牢牢钳住，并始终保持所述对中夹钳和所述被测样品水平放置状态；S3、获取光源：使用所述脉冲激光器产生光源，并利用至少两个光偏振器将所述光源汇聚且相交于所述被测样品的上表面中心处，即多条入射光线汇聚于一中心点处；S4、处理光源：所述入射光线照射在被测样品后，形成一反射光线，所述反射光线通过分束器将反射光线分成非红外反射光线和红外透射光线，所述非红外反射光线和所述红外透射光线所在的光路上皆依次设有格兰泰勒棱镜、半波镜、滤光镜、凸透镜和单色仪；所述格兰泰勒棱镜，将目标光线转换成线偏振光；所述半波镜，用于改变线偏振光的偏振角度，以便线偏振光射入滤光镜中；所述滤光镜，滤掉线偏振光的杂波，选取所需辐射波段的线偏振光；所述凸透镜，用于聚焦从滤光镜射出来的分散的线偏振光；所述单色仪，用于分离出线偏振光中特定波长的光信号；S5、数据处理与记录：使用直读光谱仪读取单色仪生成的光信号，并利用工控机内的应用程序对光信号进行整合和数据处理，绘制并存储相关光谱图数据。2.根据权利要求1所述的光谱检测方法，其特征在于：所述应用程序是基于...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱烨，林茂广，邵江艳，
申请(专利权)人：江苏科泰检测技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32