温度测量方法及装置、存储介质、温度测量装置检验方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。本发明专利技术还提供一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法、一种温度测量装置、一种存储介质和一种温度测量装置的检验方法。长时间使用后，所述温度测量装置仍然具有较高的检测精度。

Temperature measuring method and device, storage medium, and temperature measuring device inspection method

The invention provides a method for determining the corresponding relationship between the frequency of the voltage signal output by the oscillator temperature sensor and the charging time at different predetermined temperatures. The method comprises the following steps performed at various predetermined temperatures: measuring the oscillator temperature sensor at different times after charging The frequency of the voltage signal output by the oscillator temperature sensor and the corresponding relationship between the charging time of the oscillator temperature sensor at the predetermined temperature and the frequency of the voltage signal output by the oscillator temperature sensor are determined according to the frequency measured at different times. The invention also provides a method for measuring temperature by using an oscillator temperature sensor, a temperature measuring device, a storage medium and a testing method for a temperature measuring device. After a long period of use, the temperature measuring device still has a high detection accuracy.

【技术实现步骤摘要】
温度测量方法及装置、存储介质、温度测量装置检验方法
本专利技术涉及温度检测领域，具体地，涉及一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法、一种存储介质和一种温度测量方法、一种温度测量装置和一种温度测量装置的检验方法。
技术介绍
振荡器温度传感器的工作原理时，温度变化引起振荡器中薄膜晶体管电流的变化，从而引起振荡器温度传感器输出的电压信号的频率发生变化。利用振荡器温度传感器检测温度的方法包括以下流程：检测振荡器温度传感器输出的电压信号；对电压信号进行处理，传输给FPGA进行周期计数得出电压频率值；根据电压频率值确定温度。振荡器温度传感器中的薄膜晶体管多为玻璃基薄膜晶体管，而玻璃基薄膜晶体管的迁移率对该玻璃基薄膜晶体管的充放电时间有较大影响，刚上电时检测到的频率呈上升趋势，只有充放电时间达到稳定时，输出频率才会稳定，这就造成了检测持续时间较长这一现象。长时间加电会导致玻璃基薄膜晶体管的阈值电压发生漂移，进而造成了重复升温降温测试的结果有偏差，降低了振荡器温度传感器的检测精度。因此，如何确保长时间使用后的振荡器温度传感器的仍然具有较高的检测精度成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法、一种存储介质和一种温度测量方法、一种温度测量装置和一种温度测量装置的检验方法。所述温度测量装置经过长时间工作后仍然具有较高的检测精度。为了实现上述目的，作为本专利技术的第一个方面，提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，其中，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。优选地，所述方法包括重复多次对所述振荡器温度传感器上电后、在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率的步骤；在根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系的步骤中，利用同一时刻测得的频率的平均值确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。作为本专利技术的第二个方面，提供一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法，其中，所述方法包括：获取充电第一预定时间段后所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据本专利技术第一个方面所提供的方法获得的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系确定所述振荡器温度传感器充电第一预定时间段后输出的电压信号的频率对应的温度。优选地，所述第一预定时间段在5s至10s的范围内。优选地，所述方法还包括：对所述振荡器温度传感器充电第二预定时间段后关闭所述振荡器温度传感器。作为本专利技术的第三个方面，提供一种存储介质，其中，所述存储介质用于执行本专利技术第一个方面所提供的上述的方法并存储不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系。作为本专利技术的第三个方面，提供一种温度测量装置，所述温度测量装置包括振荡器温度传感器，其中，所述温度测量装置还包括读取模块、存储介质和温度确定模块，所述存储介质为本专利技术所提供的上述存储介质；所述读取模块用于读取充电第一预定时间段后所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；所述温度确定模块用于根据所述存储介质中存储的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系确定与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率对应的温度。优选地，所述温度测量装置包括开关控制模块，所述开关控制模块用于在对所述振荡器温度传感器充电第二预定时间段后关闭所述振荡器温度传感器。优选地，所述第一预定时间段在5s至10s范围内。作为本专利技术的第五个方面，提供一种温度测量装置的检验方法，其中，所述温度测量装置为本专利技术所提供的上述温度测量装置，所述检验方法包括：对所述振荡器温度传感器进行测试，判断所述振荡器温度传感器是否合格；当所述振荡器温度传感器为合格时，对所述存储介质进行校准，包括：根据所述存储介质中存储的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系、以及所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率确定当前温度；将所述当前温度与测试温度进行比较；当所述当前温度与所述测试温度一致时，判定所述存储介质合格；当所述当前温度与所述测试温度不一致时，对所述存储介质中存储的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系进行修改，直至根据修改后的对应关系重新计算得到的当前温度与所述测试温度一致为止。在本专利技术中，利用振荡器温度传感器测量温度时，不需要测量输出稳定后的输出频率，只需要测量上电短时间内的输出频率，然后根据本专利技术所提供的上述方法确定的测试时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系来确定温度，从而可以缩短振荡器温度传感器的上电时间，尽量减少振荡器温度传感器中薄膜晶体管阈值电压的漂移，从而可以延长振荡器温度传感器的使用寿命，并确保振荡器温度传感器长时间使用后仍然具有较高的测量精确度。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1是本专利技术所提供的确定振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法的流程图；图2是不同温度下，充电时间与振荡器温度传感器的输出电压信号的频率之间的对应关系曲线；图3是本专利技术所提供的温度测量方法的流程图；图4是本专利技术所提供的温度测量装置的模块示意图；图5是本专利技术所提供的温度测量装置的检验方法的流程图。附图标记说明410：振荡器温度传感器420：读取模块430：存储介质440：温度确定模块450：开关控制模块具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。作为本专利技术的一个方面，提供一种确定振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，其中，如图1所示，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：在步骤S110中，对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；在步骤S120中，根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。通过在不同的预定温度下执行本专利技术所提供的方法可以获得不同温度下的测试时间与振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。例如，在图2中分别示出了26℃时测试时间与输出频率之间的对应关系曲线、28℃时测试时间与输出频率之间的对应关系曲线、30℃时测试时间与输出频率之间的对应关系曲线、32℃时测试时间与输出频率之间的对应关系曲线、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，其特征在于，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。

【技术特征摘要】
1.一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，其特征在于，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括重复多次对所述振荡器温度传感器上电后、在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率的步骤；在根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系的步骤中，利用同一时刻测得的频率的平均值确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。3.一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法，其特征在于，所述方法包括：获取充电第一预定时间段后所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据权利要求1或2所述的方法获得的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系确定所述振荡器温度传感器充电第一预定时间段后输出的电压信号的频率对应的温度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一预定时间段在5s至10s的范围内。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述振荡器温度传感器充电第二预定时间段后关闭所述振荡器温度传感器。6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质用于执行权利要求1或2所述的方法并存储不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海生，吴俊纬，丁小梁，郑智仁，曹学友，王鹏鹏，刘伟，张平，韩艳玲，赵利军，贾亚楠，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11