一种多功能2M测试仪制造技术

技术编号:19030984 阅读:78 留言:0更新日期:2018-09-26 21:41
本实用新型专利技术涉及2M数字电路测试设备技术领域,特别提供了一种多功能2M测试仪,包括2M同轴连接器和发光二极管,2M同轴连接器设有电缆连接端,电缆连接端内设有导体和屏蔽层,二极管的两个极分别连接导体和屏蔽层,并且在二极管的两个极之间并联一个电阻。本实用新型专利技术方便对所有2M电路进行测试,且体积小,方便携带。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能2M测试仪
本技术涉及2M数字电路测试设备
,特别提供了一种多功能2M测试仪。
技术介绍
2M数字电路是指为用户提供传输速率为2.048Mbits/S的链路,它是承载与光纤传输骨干网、由数字方式进行传送信息的全透明电路通道,由传输设备及传送介质二部分组成,它的国际标准点接口为:G.703。2M数字电路的用户端接入方式有两种:一种使用户终端机房光端机接入(8M、16M、155M、622M等光端机);另一种是用户终端机房HDSL设备接入。现在测试2M数字电路的时候,都是通过二级管测试,但是因为二级管是两根电线而2M数字电路接口是同轴电缆,所以在施工测试2M数字电路过程中比较麻烦。
技术实现思路
为了解决上述技术问题,本技术提供了一种多功能2M测试仪,方便对所有2M电路的测试。本技术是这样实现的,一种多功能2M测试仪,包括2M同轴连接器和发光二极管,2M同轴连接器设有电缆连接端,电缆连接端内设有导体和屏蔽层,发光二极管的两个极分别连接导体和屏蔽层,并且在发光二极管的两个极之间并联一个电阻。进一步地,所述电阻的阻值为10Ω。与现有技术相比,本技术的优点在于:1、直接插到DDF板上就能测试2M数字电路是否通路;2、体积小,可以随身携带;3、便于观察,提高工作效率。附图说明下面结合附图及实施方式对本技术作进一步详细的说明:图1为本技术结构示意图;图2为本技术电路结构示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术,并不用于限定本技术。参考图1和图2,一种多功能2M测试仪,包括2M同轴连接器1和发光二极管2,2M同轴连接器1设有电缆连接端,电缆连接端内设有导体3和屏蔽层4,发光二极管的两个极分别连接导体3和屏蔽层4,并且在发光二极管的两个极之间并联一个电阻5。所述电阻5的阻值为10Ω。利用本技术进行2M电路测试的时候,将多功能2M测试仪的电缆连接端插入焊接好的2M电路中,电缆中的芯线分别与导体和屏蔽层连接,若焊接良好,可形成通路,则发光二极管发光,若没有焊接好,则不会形成通路,发光二极管不发光,即可进行重新焊接。若不并联电阻5,则由于发光二极管电阻过大,对于某些电路,存在不适应该新型的情况,即发光二极管不会发光,因此为了解决这个技术问题,在发光二极管上并联电阻5,降低检测电路电阻5,使其适用于所有2M电路。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多功能2M测试仪,其特征在于,包括2M同轴连接器和发光二极管,2M同轴连接器设有电缆连接端,电缆连接端内有导体和屏蔽层,二极管的两个极分别连接导体和屏蔽层,并且在二极管的两个极之间并联一个电阻。

【技术特征摘要】
1.一种多功能2M测试仪,其特征在于,包括2M同轴连接器和发光二极管,2M同轴连接器设有电缆连接端,电缆连接端内有导体和屏蔽层,二极管的两个...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐贵庆
申请(专利权)人:沈阳电信工程局有限公司
类型:新型
国别省市:辽宁,21

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