温度试验箱的参数测试方法及其系统技术方案

本发明专利技术提供一种温度试验箱的参数测试方法及系统，所述温度试验箱的参数测试方法包括根据所述温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin；根据所述温度试验箱的温变率区间，设定对应所述温变率区间的时间段数量n；根据

【技术实现步骤摘要】
温度试验箱的参数测试方法及其系统
本专利技术涉及环境应力试验设备
，尤其涉及一种温度试验箱的参数测试方法及其系统。
技术介绍
目前，国内主要参照JJF1101-2003或者GB/T5170.2-2008标准对温度试验箱进行测试验收，JJF1101-2003标准主要包括高低温极限值，温度均匀度，波动度，偏差等参数；GB/T5170.2-2008标准不仅包含以上参数，还包括温度过冲，温度变化率，温度恢复时间，噪声等更多参数指标，能够更全面地评估和测试温度试验箱。但上述标准所规定的温度试验箱测量参数要求主要是针对基本测量参数的描述，缺乏具体的测量和计算方法；另外，上述标准对于测量参数的要求相对较低，而目前随着产品性能可靠性要求的不断提高，可靠性试验设备也在不断更新，如HALT/HASS(HighlyAcceleratedLifeTest/HighlyAcceleratedStressScreening，高加速寿命试验/高加速应力筛选)试验和ESS(EnvironmentStressScreen)试验的设备已经应用和普及在工业系统产品中，而参照JJF1101-2003或者GB/T517本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度试验箱的参数测试方法，其特征在于，所述参数测试方法包括：步骤一，根据所述温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin；步骤二，根据所述温度试验箱的温变率区间，设定对应所述温变率区间的时间段数量n；步骤三，根据

【技术特征摘要】
1.一种温度试验箱的参数测试方法，其特征在于，所述参数测试方法包括：步骤一，根据所述温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin；步骤二，根据所述温度试验箱的温变率区间，设定对应所述温变率区间的时间段数量n；步骤三，根据计算所述温度试验箱在所述上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围内的线性温变率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围为Tn+1＝Tmax×90％且T1＝Tmin×10％。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述温变率区间和所述对应的时间段数量n包括：当所述温变率区间Vt≤5℃/min时，所述时间段数量n＝30；当所述温变率区间5℃/min<Vt≤15℃/min时，所述时间段数量n＝4；当所述温变率区间Vt>15℃/min时，所述时间段数量n＝2。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：步骤四，测量所述温度试验箱内的最大风速Vmax和最小风速Vmin；步骤五，根据ΔV＝Vmax-Vmin计算所述温度试验箱箱体内的最大风速差值ΔV。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述最大风速Vmax在所述温度试验箱的出风口处获得，所述最小风速Vmin在所述温度试验箱底部角落获得。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：步骤六，记录所述温度试验箱内的第n个测试点在第i次...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雷，陈志列，
申请(专利权)人：研祥智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44