一种具有定位功能的紫外分光光度计制造技术

技术编号:19012021 阅读:69 留言:0更新日期:2018-09-26 16:11
本发明专利技术公开了一种具有定位功能的紫外分光光度计,包括样品池和光源室,紫外分光光度计的上盖组件包括样品池上盖、样品池托以及面板,所述样品池上盖一端的两侧分别具有转轴,所述面板的对应的一端的两侧分别具有用于容纳所述转轴的轴套,所述样品池上盖与所述面板通过所述转轴和所述轴套活动连接;每个所述转轴上具有突起,每个所述轴套上具有凹槽,在开启所述样品池上盖的过程中,所述凹槽通过限定所述突起的移动区域来限定所述样品池上盖开启的角度。通过本发明专利技术的技术方案,保证了样品池上盖在开启后可以停留在指定位置又节省了样品池空间从而整体上减小了紫外分光光度计的体积。

【技术实现步骤摘要】
一种具有定位功能的紫外分光光度计
本专利技术涉及紫外分光光度计的结构。更具体地,本专利技术涉及一种具有定位功能的紫外分光光度计。
技术介绍
紫外可见分光光度计(简称紫外分光光度计或分光光度计)是利用物质的分子或离子对某一波长范围的光的吸收作用,对物质进行定性分析、定量分析及结构分析的仪器。分光光度计包括样品池和光源室。分光光度计在对样品测试时,要求内部光路结构是密闭的,不能有杂光进入。样品池部分是用来放置样品与参比的部分,此部分需要经常开启与关闭,并且不能漏光。分光光度计的上盖组件包括样品池上盖、样品池托以及面板,样品池托在样品池的前部。目前的一种分光光度计的样品池上盖如图1所示,由两部分组成,即分为第一上盖100和第二上盖200,第一上盖100和第二上盖200可以沿X方向在与面板的上视基准面平行的面上前后运动,实现样品池的开与关。但缺点是占用空间大,使得机器的尺寸偏大,使用和运输时不方便。另一种分光光度计是通过样品池上盖与面板之间通过转轴活动连接,开启样品池时,将样品池上盖直接翻起,与面板形成一个钝角,并停留在极限位置。缺点在于样品池上盖没有额外的限位作用。中国专利号2005100本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种具有定位功能的紫外分光光度计,包括样品池和光源室,该紫外分光光度计的上盖组件包括样品池上盖(1)、样品池托(3)以及面板(2),其特征在于,所述样品池上盖一端的两侧分别具有转轴(4),所述面板(2)的对应的一端的两侧分别具有用于容纳所述转轴(4)的轴套(5),所述样品池上盖(1)与所述面板(2)通过所述转轴(4)和所述轴套(5)活动连接;每个所述转轴(4)上具有突起(40),每个所述轴套(5)上具有凹槽(50),在开启所述样品池上盖(1)的过程中,所述凹槽(50)通过限定所述突起的移动区域来限定所述样品池上盖(1)开启的角度;所述凹槽(50)包括第一定位槽(501)和第二定位槽(502...

【技术特征摘要】
1.一种具有定位功能的紫外分光光度计,包括样品池和光源室,该紫外分光光度计的上盖组件包括样品池上盖(1)、样品池托(3)以及面板(2),其特征在于,所述样品池上盖一端的两侧分别具有转轴(4),所述面板(2)的对应的一端的两侧分别具有用于容纳所述转轴(4)的轴套(5),所述样品池上盖(1)与所述面板(2)通过所述转轴(4)和所述轴套(5)活动连接;每个所述转轴(4)上具有突起(40),每个所述轴套(5)上具有凹槽(50),在开启所述样品池上盖(1)的过程中,所述凹槽(50)通过限定所述突起的移动区域来限定所述样品池上盖(1)开启的角度;所述凹槽(50)包括第一定位槽(501)和第二定位槽(502);所述轴套(5)还包括轴套筋体(51),所述轴套筋体(51)在所述第一定位槽(501)和第二定位槽(502)之间,并将所述第一定位槽(501)和第二定位槽(502)分开;所述样品池上盖(1)关闭时,所述突起(40)位于所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员:尹紫光王悦王铁军李维森
申请(专利权)人:苏州普源精电科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏,32

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