The invention provides a temperature measuring system using an optical fiber end groove structure. The end face of the optical fiber end groove structure is provided with a groove. The groove is formed by ablation of the optical fiber end face by femtosecond laser. The groove is a rectangular structure, and the bottom edge of the groove coincides with the diameter of the fiber core. The width of the bottom edge is larger than the diameter of the fiber core, and the width of the bottom edge of the groove is smaller than the circumferential diameter of the outer side of the fiber cladding; the groove runs upwards along the central plane of the fiber core to the outer side of the fiber cladding; the temperature measuring system comprises a light source, a gain fiber, a wavelength division multiplexer, a single-mode fiber, and a temperature measuring system. The optical fiber end groove structure and the spectrometer, and a section of optical fiber connected with the optical fiber end groove structure in the temperature measuring system are placed in a temperature controlled environment, thereby simplifying the optical path and making the structure more compact.
【技术实现步骤摘要】
一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量系统本申请是申请日为2016年10月11日,申请号为201610885225.9,专利技术名称为一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量方法的分案申请。
本专利技术涉及光纤测量
,特别涉及一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量系统。
技术介绍
通常,全光纤化的传感器具有结构紧凑、使用寿命长、对测试量敏感、传输信道多等优势广泛地应用于光纤传感、光纤通信、光学加工等领域。通过光纤端面微加工技术或搭建具有干涉结构的全光纤传感器,在泵浦源作用下,输出具有梳状谱图样的干涉谱曲线。在现有技术中,干涉仪分为单频激光干涉仪和双频激光干涉仪,其均采用外部构件将光束分成两路进行干涉。因此现有技术中往往会引入光束分割部件进行光束分割,通过引入分割部件不但使的干涉仪本身更加复杂,而且在温度测量过程也容易造成测量的误差。因此,需要一种能有效简化光路、结构紧凑、光损耗低以及不受外界干扰的采用光纤端面刻槽结构的温度测量方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量系统,所述光纤端面刻槽结构的端面开设凹槽,所述凹槽通过飞秒激光对光纤端面进行烧蚀形成,所述凹槽呈长方体结构,凹槽底边与光纤纤芯的直径重合,并且,所述凹槽底边的宽度大于所述光纤纤芯的直径,所述凹槽底边的宽度小于光纤包层的外侧的圆周直径;所述凹槽沿纤芯中心平面向上贯穿至光纤包层的外侧;所述温度测量系统包括依次连接的光源、增益光纤、波分复用器、单模光纤、所述光纤端面刻槽结构以及光谱仪;所述温度测量系统中连接光纤端面刻槽结构的一段光纤置于温度可控的环境中。优选地,所述凹槽沿光 ...
【技术保护点】
1.一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量系统,其特征在于,所述光纤端面刻槽结构的端面开设凹槽,所述凹槽通过飞秒激光对光纤端面进行烧蚀形成,所述凹槽呈长方体结构,凹槽底边与光纤纤芯的直径重合,并且,所述凹槽底边的宽度大于所述光纤纤芯的直径,所述凹槽底边的宽度小于光纤包层的外侧的圆周直径;所述凹槽沿纤芯中心平面向上贯穿至光纤包层的外侧;所述温度测量系统包括依次连接的光源、增益光纤、波分复用器、单模光纤、所述光纤端面刻槽结构以及光谱仪;所述温度测量系统中连接光纤端面刻槽结构的一段光纤置于温度可控的环境中。
【技术特征摘要】
1.一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量系统,其特征在于,所述光纤端面刻槽结构的端面开设凹槽,所述凹槽通过飞秒激光对光纤端面进行烧蚀形成,所述凹槽呈长方体结构,凹槽底边与光纤纤芯的直径重合,并且,所述凹槽底边的宽度大于所述光纤纤芯的直径,所述凹槽底边的宽度小于光纤包层的外侧的圆周直径;所述凹槽沿纤芯中心平面向上贯穿至光纤包层的外侧;所述温度测量系统包括依次连接的光源、增益光纤、波分复用器、单模光纤、所述光纤端面刻槽结构以及光...
【专利技术属性】
技术研发人员:祝连庆,何巍,董明利,娄小平,张雯,姚齐峰,刘锋,
申请(专利权)人:北京信息科技大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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