The invention discloses a transparent flat plate defect detection device and a method based on two-dimensional illumination. The device comprises a detection table for carrying a transparent flat plate to be detected; the detection table is fixedly connected with a lighting device, and the two lighting devices are located on the adjacent sides of the detection table; and the linearity emitted by the lighting device. The light source is parallel to the transparent plate and passes through the transparent plate; an image acquisition device is arranged above the detection table for downward acquisition of the image of the transparent plate after two-dimensional lateral illumination through the illumination device. The method includes: total reflection or refraction is produced according to the refractive index of the defect and the refractive index of the transparent plate, the existence of the defect is determined according to the gradient of the gray value in the image processing stage, and the defect is quickly and efficiently processed by machine vision technology. The invention can accurately detect whether there are tiny defects in the transparent plate, and accurately locate the defect position.
【技术实现步骤摘要】
一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法
本专利技术涉及透明平板的缺陷检测,对于透明平板中的裂纹、气泡等缺陷检测效果特别适用,尤其适用于电子设备用到的透明平板缺陷检测方面。
技术介绍
随着技术的进步,现在的产品都是在往精品的方向发展,人们对产品的要求也越来越高,产品设计者也更加注重用户体验。透明平板材料不管是用来装饰,还是用来做电子设备的屏幕或者保护层更是需要严格把控产品质量。人们在对透明平板缺陷检测的时候通常会想到利用光源进行辅助检测,这样检测的效果会比较好。通常的照明方式,采用背照光方式中的正透视的照明方式,采用基于灰度直方图的阈值分割算法和边缘检测图像分割算法相结合,比较理想的将气泡裂纹缺陷从透明平板背景中分割出来,形成完整的缺陷目标。例如:周波等人2017年08月01日公布的《一种玻璃基板内缺陷检测方法及装置(公开号:CN106996937A)》,采用的背照光方式,将光源和摄像装置分别设置在待检测玻璃基板板面的相对两侧。同样,郑媛等人在2010年公布的《用于检测透明基板表面和/或其内部的缺陷的方法及系统(公开号:CN101887030A)》,公开了一种多个光源多个检测通道的检测方法,采用背照光方式中的透视照明方式,该方式用于检测比较明显的缺陷效果,但对于细小微小的缺陷,容易产生漏检,并且装置也比较复杂。而本方法是目前还没有人提出的一种基于二维侧向入射光的透明平板缺陷检测方法,这种基于侧向入射光的方法可以检测非常细小微小的缺陷,满足人们对产品品质更高的要求。
技术实现思路
本专利技术提供了一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法,本专利技术能够精 ...
【技术保护点】
1.一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述装置包括:检测台,所述检测台用于承载待检测的透明平板;所述检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧;照明装置发射出的线性光源平行于透明平板,并穿过透明平板;在检测台的上方设置有图像采集装置,用于向下采集透明平板在通过照明装置二维侧向照光之后的图像。
【技术特征摘要】
1.一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述装置包括:检测台,所述检测台用于承载待检测的透明平板;所述检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧;照明装置发射出的线性光源平行于透明平板,并穿过透明平板;在检测台的上方设置有图像采集装置,用于向下采集透明平板在通过照明装置二维侧向照光之后的图像。2.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述图像采集装置为一个时,具有可移动功能。3.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述图像采集装置为多个时,为固定的模式,从多个角度采集待检测透明平板的图像。4.根据权利要求1所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述照明装置用于提供二维侧向光源,包括:光源支架,在所述光源支架上设置有光源高度调节运动机构和光源强度调节电路,光源高度调节运动机构上设置有光源水平调节运动机构,光源强度调节电路连接光源。5.根据权利要求4所述的一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置,其特征在于,所述光源的亮度可调、以及光源的水平位置和垂直位置可调,用于将平行光线入射进待检测透明平板中。6.根据权利...
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