材料边缘位置检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种材料边缘位置检测装置，包括第一基座，第一基座内装设有第一电路板、第一光学聚焦装置和光发射器，光发射器装设于第一电路板上并与第一光学聚焦装置的出光部相对，第一电路板上设置有第一基准电路，第一基准电路与光发射器电性连接、并用于输出基准电压；及第二基座，第二基座内装设有第二光学聚焦装置、光接收器和与第一电路板电性连接的第二电路板，光接收器装设于第二电路板上并与第二光学聚焦装置的入光部相对，第二电路板上设置有第二基准电路，第二基准电路与光接收器电性连接、并用于放大变量电压并输出至第一电路板从而与基准电压比较；其中，第一光学聚焦装置与第二光学聚焦装置间隔相对并配合形成检测通道。

Material edge position detecting device

The invention relates to a material edge position detection device, which comprises a first base, a first circuit board, a first optical focusing device and a light emitter installed in the first circuit board and opposite to the light output part of the first optical focusing device, and a first reference circuit is arranged on the first circuit board. The first reference circuit is electrically connected to the light emitter and is used to output the reference voltage; and the second base is provided with a second optical focusing device, an optical receiver and a second circuit board electrically connected to the first circuit board, and the optical receiver is installed on the second circuit board and phase with the light inlet of the second optical focusing device. Yes, a second reference circuit is provided on the second circuit board, and the second reference circuit is electrically connected with the optical receiver and used to amplify the variable voltage and output it to the first circuit board so as to compare with the reference voltage, wherein the first optical focusing device is spaced relative to the second optical focusing device and cooperates to form a detection channel.

【技术实现步骤摘要】
材料边缘位置检测装置
本专利技术涉及位置检测
，特别是涉及一种材料边缘位置检测装置。
技术介绍
在自动化加工领域中，由于原材料长时间移动过程中或者装配误差会致使位置发生偏移，而为了保证产品加工质量，许多加工设备都需要对加工原材料的位置进行精准定位。目前行业中采用较多的定位方式是单点红外对射检测或者多点阵列式对射检测。然而，单点红外对射检测通常只有开关量的输出，且检测范围较小，检测精度不高；而多点阵列式对射检测的使用成本高、设备结构复杂，输出数据量过大而致使运算速度偏低。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种材料边缘位置检测装置，检测范围广、数据处理速度快且检测精度高，设备结构简单，使用成本低。其技术方案如下：一种材料边缘位置检测装置，包括：第一基座，所述第一基座内装设有第一电路板、第一光学聚焦装置和光发射器，所述光发射器装设于所述第一电路板上并与所述第一光学聚焦装置的出光部相对，所述第一电路板上设置有第一基准电路，所述第一基准电路与所述光发射器电性连接、并用于输出基准电压；及第二基座，所述第二基座内装设有第二光学聚焦装置、光接收器和与所述第一电路板电性连接的第二电路板，所述光接收器装设于所述第二电路板上并与所述第二光学聚焦装置的入光部相对，所述第二电路板上设置有第二基准电路，所述第二基准电路与所述光接收器电性连接、并用于放大变量电压并输出至所述第一电路板从而与所述基准电压比较；其中，所述第一光学聚焦装置与所述第二光学聚焦装置间隔相对并配合形成检测通道。当应用上述材料边缘位置检测装置进行工作时，首先将第一基座和第二基座相对设置，以使第一光学聚焦装置与第二光学聚焦装置通过间隔相对而形成检测通道，该检测通道用于容纳待检测的产品并允许产品较大范围的移动。正常检测时，第一电路板上的第一基准电路获取工作指令后向光发射器输出一基准电压信号，进而驱使光发射器射出检测光线。检测光线经由第一光学聚焦装置折射后形成向第二光学聚焦装置行进的平行光线，由于产品位于检测通道内，因而会遮挡或吸收部分出射的平行光线，而未被遮挡的平行光线经由第二光学聚焦装置二次折射后传输至光接收器上，使得第二电路板及其第二基准电路可以获取到电压信号。当位于检测通道内的产品发生偏移，即产品遮挡或吸收的出射的平行光线量发生变化时，此时入射到光接收器上的光线量也相应发生改变，即导致第二基准电路获取的变量电压发生变化，最终经放大处理后输出该变量电压值至第一电路板上与基准电压作比较而完成检测作业。由于检测过程中产生的基准电压和变量电压均为纯模拟量信号，且是将光线量的变化值作为产品边缘位置改变的依据，使得数据处理速度更快、精度更高，同时产品能够在检测通道内较大范围移动，使得装置的检测范围更广。此外，本装置的组成结构更加精简，制造及使用成本低。下面对本申请的技术方案作进一步地说明：在其中一个实施例中，所述第一基准电路包括第一电位器、及与所述第一电位器电性连接的第一运算比较电路。在其中一个实施例中，所述第一基准电路还包括与所述第一电位器和所述第一运算比较电路均电性连接的第二运算比较电路，所述第二基准电路包括运算放大电路，所述运算放大电路与所述第二运算比较电路电性连接。在其中一个实施例中，所述第二基准电路还包括第二电位器，所述第二电位器与所述运算放大电路电性连接。在其中一个实施例中，所述第一光学聚焦装置和所述第二光学聚焦装置均包括聚焦定位环、凸透镜和螺环，所述聚焦定位环的一端贴设于所述第一电路板和所述第二电路板上、并围设于所述光发射器和所述光接收器的外周，所述凸透镜设置于所述聚焦定位环的另一端，所述螺环设置于所述第一电路板和所述第二电路板上，且所述螺环的内环壁设有卡扣部，所述卡扣部用于将所述凸透镜固定在所述聚焦定位环的端部。在其中一个实施例中，所述第一光学聚焦装置和所述第二光学聚焦装置还均包括固定于所述第一电路板和所述第二电路板上的安装环，所述螺环的外环壁设有第一螺纹结构，所述安装环的内环壁设有第二螺纹结构，所述第一螺纹结构与所述第二螺纹结构适配旋接。在其中一个实施例中，所述第一光学聚焦装置和所述第二光学聚焦装置还均包括固定于所述第一电路板和所述第二电路板上的锁定环，所述锁定环的内环壁设有第三螺纹结构，所述第三螺纹结构与所述第一螺纹结构适配旋接。在其中一个实施例中，还包括两个气管连接头、用以与外部高压气源接通；所述第一基座和所述第二基座的侧端还均开设有安装孔，所述气管连接头一一对应地与所述安装孔接通；所述安装环还开设有与所述安装孔接通的第一过气孔，所述锁定环还开设有纵向间隔设置的第一环形导流槽和第二环形导流槽、以及连通于所述第一环形导流槽和所述第二环形导流槽之间的至少一个第二过气孔，所述螺环还开设有与所述第二环形导流槽接通的排气孔。在其中一个实施例中，包括八个所述排气孔、并以环形阵列结构布设于所述凸透镜的外周。在其中一个实施例中，还包括两个密封组件，所述第一基座和所述第二基座背离所述检测通道的一侧开设有安装口，所述密封组件包括设置于所述安装口内并压设在所述第一电路板和所述第二电路板上的密封件、及罩设于所述密封件并与所述第一基座和所述第二基座紧固配合的盖板。附图说明图1为本专利技术一实施例所述的材料边缘位置检测装置的结构示意图；图2为图1所示装置的前视视角的结构示意图；图3为图1所示装置的左视视角的结构示意图；图4为图3所示装置的A-A处的剖面结构示意图；图5为图4所示装置的B处的局部放大结构示意图。附图标记说明：100、第一基座，110、第一电路板，120、第一光学聚焦装置，130、光发射器，140、第一基准电路，141、第一电位器，142、第一运算比较电路，143、第二运算比较电路，200、第二基座，210、第二光学聚焦装置，220、光接收器，230、第二电路板，240、第二基准电路，241、运算放大电路，242、第二电位器，300、检测通道，400、聚焦定位环，500、凸透镜，600、螺环，610、卡扣部，620、第一螺纹结构，630、排气孔，700、安装环，710、第二螺纹结构，720、第一过气孔，800、锁定环，810、第三螺纹结构，820、第一环形导流槽，830、第二过气孔，840、第二环形导流槽，900、气管连接头，900a、安装孔，1000、密封组件，1100、盖板，1200、密封件，1300、产品。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施方式，对本专利技术进行进一步的详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用以解释本专利技术，并不限定本专利技术的保护范围。需要说明的是，当元件被称为“固设于”、“设置于”或“安设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件；一个元件与另一个元件固定连接的具体方式可以通过现有技术实现，在此不再赘述，优选采用螺纹连接的固定方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种材料边缘位置检测装置，其特征在于，包括：第一基座，所述第一基座内装设有第一电路板、第一光学聚焦装置和光发射器，所述光发射器装设于所述第一电路板上并与所述第一光学聚焦装置的出光部相对，所述第一电路板上设置有第一基准电路，所述第一基准电路与所述光发射器电性连接、并用于输出基准电压；及第二基座，所述第二基座内装设有第二光学聚焦装置、光接收器和与所述第一电路板电性连接的第二电路板，所述光接收器装设于所述第二电路板上并与所述第二光学聚焦装置的入光部相对，所述第二电路板上设置有第二基准电路，所述第二基准电路与所述光接收器电性连接、并用于放大变量电压并输出至所述第一电路板从而与所述基准电压比较；其中，所述第一光学聚焦装置与所述第二光学聚焦装置间隔相对并配合形成检测通道。

【技术特征摘要】
1.一种材料边缘位置检测装置，其特征在于，包括：第一基座，所述第一基座内装设有第一电路板、第一光学聚焦装置和光发射器，所述光发射器装设于所述第一电路板上并与所述第一光学聚焦装置的出光部相对，所述第一电路板上设置有第一基准电路，所述第一基准电路与所述光发射器电性连接、并用于输出基准电压；及第二基座，所述第二基座内装设有第二光学聚焦装置、光接收器和与所述第一电路板电性连接的第二电路板，所述光接收器装设于所述第二电路板上并与所述第二光学聚焦装置的入光部相对，所述第二电路板上设置有第二基准电路，所述第二基准电路与所述光接收器电性连接、并用于放大变量电压并输出至所述第一电路板从而与所述基准电压比较；其中，所述第一光学聚焦装置与所述第二光学聚焦装置间隔相对并配合形成检测通道。2.根据权利要求1所述的材料边缘位置检测装置，其特征在于，所述第一基准电路包括第一电位器、及与所述第一电位器电性连接的第一运算比较电路。3.根据权利要求2所述的材料边缘位置检测装置，其特征在于，所述第一基准电路还包括与所述第一电位器和所述第一运算比较电路均电性连接的第二运算比较电路，所述第二基准电路包括运算放大电路，所述运算放大电路与所述第二运算比较电路电性连接。4.根据权利要求3所述的材料边缘位置检测装置，其特征在于，所述第二基准电路还包括第二电位器，所述第二电位器与所述运算放大电路电性连接。5.根据权利要求1至4任一项所述的材料边缘位置检测装置，其特征在于，所述第一光学聚焦装置和所述第二光学聚焦装置均包括聚焦定位环、凸透镜和螺环，所述聚焦定位环的一端贴设于所述第一电路板和所述第二电路板上、并围设于所述光发射器和所述光接收器的外周，所述凸透镜设置于所述聚焦定位环的另一端，所述螺环设...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄葆钧，
申请(专利权)人：广州贝晓德传动配套有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44