The testing device of thin-layer conductive materials, the testing method of surface resistance and the testing method of damage information involve the testing field of thin-layer conductive materials. In order to solve the problem that the existing contact testing can only be used on the surface of conductive materials, and the eddy current damage testing can not be applied in the detection of nm-Grade thickness materials. Constant current RF current generator is used to drive LC oscillation circuit. Thin layer conductive material is coupled to LC oscillation circuit by ferrite winding inductance coil. Filtering circuit is used to filter the output voltage of LC oscillation circuit and get DC voltage. If the DC voltage changes, there will be damage to the thin conductive material, otherwise there will be no damage. The standard thin-layer conductive material with known surface resistance is used for calibration, the corresponding relationship between surface resistance and DC voltage is calculated, and the surface resistance of the thin-layer conductive material is obtained by coupling the DC voltage of the thin-layer conductive material to be measured. The invention is suitable for testing thin layer conductive materials.
【技术实现步骤摘要】
薄层导电材料的测试装置、表面电阻的测试方法、损伤信息的测试方法
本专利技术涉及薄层导电材料的测试领域。
技术介绍
高性能的薄层导电材料如ITO(氧化铟锡)等以其优良的光电性能、良好的吸波能力和力学性能在电磁屏蔽材料中得到了极为广泛的应用。由于ITO导电薄膜脆性较大,容易受到损伤并影响其性能,因此对它的损伤信息检测是十分有意义的。在实际应用中为了避免ITO等导电材料受到损伤,通常在其外层镀SiO2等绝缘材料进行保护,因而无法通过接触式测试方法判断屏蔽层的导电连续性。对于有绝缘隔绝的导电层损伤信息可采用涡流检测方法。涡流检测主要包括阻抗分析法,相位分析法及电导率和表面电阻测量法。阻抗分析法是根据麦克斯韦方程组建立起来的,通过测量涡流检测线圈的阻抗变化就可以得到材料是否存在损伤。随后在阻抗分析法的基础上提取阻抗信息中的幅值和相位信息,形成了二维阻抗平面图,然而这种阻抗平面图的形成需要在测量时来回移动检测线圈,这就不可避免地对会材料造成划痕,且图形反应的信息并不直观。之后在阻抗分析法的基础上提取阻抗的相位信息,形成相位分析法,在此基础上得到电导率测量方法,并且可以通过电导率的变化检测材料是否存在损伤。上述涡流无损检测方法利用了检测信号的幅值或相位信息判断被测材料是否存在损伤,然而这是一些非直观的物理量,同时这些方法都需要检测线圈在材料表面形成完整的涡流环,这就要求集肤深度小于材料的厚度。集肤深度是一个与检测频率有关的物理量,但其不能无限小,这就限定了上述检测方法只能适用于um及以上厚度的材料,在nm级厚度的材料的检测中并不适用。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解 ...
【技术保护点】
1.薄层导电材料的测试装置,其特征在于,包括恒流的射频电流发生器(1)、LC振荡电路(2)、铁氧体(3)和滤波电路;LC振荡电路(2)包括电容和电感线圈;电容和电感线圈并联;恒流的射频电流发生器(1)用于驱动LC振荡电路(2),薄层导电材料(4)感生磁场、感生出的磁场反作用于原生磁场;滤波电路用于对LC振荡电路(2)输出的电压进行滤波,滤除高频成分,得到直流电压,根据直流电压测试损伤信息和表面电阻。
【技术特征摘要】
1.薄层导电材料的测试装置,其特征在于,包括恒流的射频电流发生器(1)、LC振荡电路(2)、铁氧体(3)和滤波电路;LC振荡电路(2)包括电容和电感线圈;电容和电感线圈并联;恒流的射频电流发生器(1)用于驱动LC振荡电路(2),薄层导电材料(4)感生磁场、感生出的磁场反作用于原生磁场;滤波电路用于对LC振荡电路(2)输出的电压进行滤波,滤除高频成分,得到直流电压,根据直流电压测试损伤信息和表面电阻。2.根据权利要求1所述的薄层导电材料的测试装置,其特征在于,所述缠绕电感线圈的铁氧体(3)通过放置于薄层导电材料(4)的上方使薄层导电材料(4)感生磁场及使感生出的磁场反作用于原生磁场。3.根据权利要求2所述的薄层导电材料的测试装置,其特征在于,所述铁氧体(3)为由两个空心圆柱嵌套在一起的柱体,该柱体的顶面开放,两个空心圆柱之间的圆环底面封闭,嵌套在外的...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱嘉琦,陈学儒,杨磊,夏菲,高岗,王鹏,代兵,韩杰才,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江,23
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