一种逆反射材料测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种逆反射材料测量装置，其技术方案要点是：包括光源发生器、用于放置逆反射材料的支撑架、与支撑架处于同一竖直面内的照度计以及与光源发生器处于同一竖直面内且用于检测由逆反射材料反射出的光的光度计，支撑架的下方设置有与支撑架的底部滑移连接的第一滑轨，照度计的下方设置有用于使照度计与支撑架支撑逆反射材料的中心位置处于同一水平面的第一支架，光源发生器的下方设置有用于支撑光源发生器的第二支架，光度计的下方设置有第三支架，第三支架的下方设置有分别与第二支架和第三支架的底部滑移连接的第二滑轨，第一滑轨和第二滑轨相互平行。其优点是该测量装置能够精准获取该逆反射材料的检测数据。

A device for measuring retroreflective material

The invention discloses a measuring device for inverse reflective materials. The technical scheme of the device comprises a light source generator, a support frame for placing the inverse reflective materials, an illuminometer in the same vertical plane as the support frame, and an illuminometer in the same vertical plane as the light source generator for detecting light reflected from the inverse reflective materials. A first sliding rail connected with the bottom of the support frame is arranged below the support frame, and a first bracket is arranged below the illuminometer to keep the center position of the illuminometer and the support frame supporting the reflective material in the same horizontal plane, and a second bracket for supporting the light source generator is arranged below the light source generator. The lower part of the photometer is provided with a third bracket, and the lower part of the third bracket is provided with a second sliding rail connected with the bottom of the second bracket and the third bracket respectively, and the first sliding rail and the second sliding rail are parallel to each other. The advantage is that the measuring device can accurately acquire the test data of the retroreflective material.

【技术实现步骤摘要】
一种逆反射材料测量装置
本专利技术涉及道路交通安全
，尤其涉及一种逆反射材料测量装置。
技术介绍
逆反射是反射光线沿靠近入射光线的反方向，向光源射回的一种光学现象。逆反射材料是基于上述原理进行制造的，其广泛应用于公路交通领域。利用车辆自身灯光的照明效果，通过逆反射材料的反射作用能够达到传递指示、警告等信息的效果。常见产品包括逆反射标志、突起路标和标线等。由于逆反射材料对于保障公路运输安全，提高通行效率有着重要的意义，因此为保证逆反射材料的逆反射效果，需要在使用逆反射材料前对其进行测试。通常逆反射材料的逆反射效果由其亮度因数以及光源、逆反射材料、观察者三者之间的几何条件来决定。本申请文件基于上述条件提出了一种新的逆反射材料测量装置。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种逆反射材料测量装置，其优点是该测量装置能够精准获取该逆反射材料的检测数据。本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种逆反射材料测量装置，包括提供光源的光源发生器、位于光源发生器的发射头一侧且用于放置检测材料的支撑架、与支撑架处于同一竖直面内且用于检测材料所在位置处的照度的照度计、与光源发生器处于同一竖直面内且用于检测由检测材料反射出的光的光度计，所述支撑架的下方设置有与支撑架的底部滑移连接的第一滑轨，照度计的下方设置有用于支撑照度计的第一支架，第一支架的底端与第一滑轨滑移连接，所述光源发生器的下方设置有用于支撑光源发生器的第二支架，光度计的下方设置有用于支撑光度计的第三支架，第三支架的下方设置有分别与第二支架和第三支架的底部滑移连接的第二滑轨，第一滑轨和第二滑轨相互平行，所述第二滑轨上设置有用于检测第二滑轨和第一滑轨相对距离的激光测距仪。通过上述技术方案，光源发生器能够发射出光线。支撑架能够支撑检测材料，使光源发生器产生的光线能够照射到检测材料上。照度计则能够测量检测材料所在的检测位置处的照度。第一滑轨的设置则能够便于检测材料和照度计位置的移动，使检测材料和照度计能够快速的移动到指定位置。当检测材料的检测位置确定后，先将照度计移动到检测材料的检测位置。测定检测位置处的照度后，将照度计沿第一滑轨移开。之后通过支撑架使检测材料沿第一滑轨移动到测量位置处。光度计则能够对检测材料反射出来的光线进行分析，从而得出检测材料的反光性能。而第二滑轨通过第三支架能够便于调节光度计与检测材料的相对角度。激光测距仪能够检测出第二滑轨和第一滑轨的相对距离，从而保证光度计能够精准的检测从检测材料反射出来的光线。另外，该测量装置采用照度计测量检测材料放置处的照度，采用光度计测量由检测材料反射出来的光线；而在现有技术中，仅使用光度计来测量检测材料放置处的照度和检测材料反射出来的光线，这样虽然省去了照度计的使用，但是光度计检测照度的上限不高，对强度较高的光线检测照度时，检测的误差会比较大；而改进后的检测装置操作简单、检测精准度高。本专利技术进一步设置为：所述第一滑轨和第二滑轨的下方均固定设置有一块水平放置的支撑面板。通过上述技术方案，支撑面板的设置能够使光度计和照度计在移动的过程中更加稳定，防止在移动光度计或照度计的过程中，第一滑轨和第二滑轨的相对位置发生改变，不利于数据的测量。本专利技术进一步设置为：所述第一滑轨上设置有用于使照度计精准测量检测材料所在的检测位置受到的照度强度的激光定位组件。通过上述技术方案，激光定位组件能够将检测材料需要放置的检测位置标注下来，从而便于确定照度计和检测材料的移动位置。本专利技术进一步设置为：所述激光定位组件包括定位架、水平激光发生器、竖直激光发生器，所述定位架由竖直部、第一水平部、与第一滑轨滑移连接的第二水平部的组成，竖直部的底部与第二水平部的一端固定连接，竖直部的顶部与第一水平部的一端固定连接，所述水平激光发生器的尾部设置有用于调节水平激光发生器与定位架相对位置的第一调位单元，所述竖直激光发生器的尾部设置有用于调节竖直激光发生器与定位架相对位置的第二调位单元，所述第一调位单元包括滑块、用于将滑块固定到定位架上的定位单元。通过上述技术方案，水平激光发生器和竖直激光发生器通过自身产生的激光，在彼此交叉处产生可见的交点，从而将需要放置检测材料的位置标注出来。在定位架中，竖直部用于支撑水平激光发生器；第一水平部能够支撑竖直激光发生器；第二水平部能够保证定位架带动水平激光发生器和竖直激光发生器沿第一滑轨方向移动，从而便于激光定位组件的定位。而第一调位单元和第二调位单元能够分别调节水平激光发生器与定位架的相对位置关系，从而使得激光定位组件能够对不同放置位置进行标注。在第一调位单元中，滑块能够带动水平激光发生器在定位架上移动；定位单元能够将滑块固定住，防止滑块自行的在定位架上带动水平激光发生器移动，从而影响激光定位组件的定位精度。本专利技术进一步设置为：所述竖直部朝向支撑架的内侧开设有导向滑槽，滑块的中间位置插入导向滑槽内与竖直部滑移连接，所述竖直部两侧壁竖直开设有与滑槽连通的条形通孔，所述定位单元包括通过条形通孔贯穿竖直部且同时贯穿插入导向滑槽内的滑块的单头螺栓、与单头螺栓的一端螺纹连接的螺母。通过上述技术方案，导向滑槽能够对滑块的移动起到限位的作用，使滑块能够平稳的带动水平激光发生器在竖直部上上下移动。通过单头螺栓和螺母的配合能够将滑块紧紧的夹持在导向滑槽内，从而将水平激光发生器固定在竖直部上。条形通孔的设置能够使单头螺栓随滑块的移动而移动。本专利技术进一步设置为：所述滑块朝向支撑架的侧面水平开设有调位滑槽，水平激光发生器的尾部插入调位滑槽内与滑块滑移连接，滑块上还设置有用于将水平激光发生器固定在滑块上的固定单元。通过上述技术方案，调位滑槽的设置，使得水平激光发生器能够在垂直于定位架所在的竖直面的方向上进行移动。从而避免了检测材料的体积过大，无法在将激光射到检测材料朝向光源发生器的一侧。而固定单元能够将水平激光发生器固定在滑块上，防止水平激光发生器在非人工控制的情况下自行移动，影响激光定位组件的定位准确度。本专利技术进一步设置为：所述支撑架包括用于承托逆反射材料的承托组件、位于承托组件下方且与第一滑轨滑移连接的底座、用于调节逆反射材料与光源发生器相对位置关系的调位模块。通过上述技术方案，调位模块能够调节承托组件相对光源发生器的位置，从而使得承托组件上的检测材料能够相对光源发生器有不同的位置和角度，进而使得该测量装置能够一次性测量不同角度或位置的检测材料。综上所述，本专利技术具有以下有益效果：一、该测量装置照度计和光度计操作过程简单快捷，提高了该测量装置的测量精度；二、该测量装置中设置有激光定位组件和第一滑轨，能够保证照度计精准检测检测位置处的照度。附图说明图1是该测量装置的整体结构示意图；图2是为了体现激光定位组件与支撑架位置关系的结构示意图；图3是为了体现水平激光发生器与竖直部连接关系的结构示意图；图4是支撑架远离光源发生器一侧的结构示意图；图5是为了体现锁定单元工作原理的结构示意图；图6是为了体现调位模块工作原理的剖视图；图7是另一种承托组件的结构示意图；图8是第三种承托组件的结构示意图。图中，1、光源发生器；11、第二支架；2、支撑架；21、承托组件；211、承托座；212、承托支板；2121、条型滑孔；213、紧固单元；2131、紧固螺杆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种逆反射材料测量装置，其特征是：包括提供光源的光源发生器(1)、位于光源发生器(1)的发射头一侧且用于放置检测材料的支撑架(2)、与支撑架(2)处于同一竖直面内且用于检测材料所在位置处的照度的照度计(3)、与光源发生器(1)处于同一竖直面内且用于检测由检测材料反射出的光的光度计(4)，所述支撑架(2)的下方设置有与支撑架(2)的底部滑移连接的第一滑轨(51)，照度计(3)的下方设置有用于支撑照度计(3)的第一支架(31)，第一支架(31)的底端与第一滑轨(51)滑移连接，所述光源发生器(1)的下方设置有用于支撑光源发生器(1)的第二支架(11)，光度计(4)的下方设置有用于支撑光度计(4)的第三支架(41)，第三支架(41)的下方设置有分别与第二支架(11)和第三支架(41)的底部滑移连接的第二滑轨(52)，第一滑轨(51)和第二滑轨(52)相互平行，所述第二滑轨(52)上设置有用于检测第二滑轨(52)和第一滑轨(51)相对距离的激光测距仪(6)。

【技术特征摘要】
1.一种逆反射材料测量装置，其特征是：包括提供光源的光源发生器(1)、位于光源发生器(1)的发射头一侧且用于放置检测材料的支撑架(2)、与支撑架(2)处于同一竖直面内且用于检测材料所在位置处的照度的照度计(3)、与光源发生器(1)处于同一竖直面内且用于检测由检测材料反射出的光的光度计(4)，所述支撑架(2)的下方设置有与支撑架(2)的底部滑移连接的第一滑轨(51)，照度计(3)的下方设置有用于支撑照度计(3)的第一支架(31)，第一支架(31)的底端与第一滑轨(51)滑移连接，所述光源发生器(1)的下方设置有用于支撑光源发生器(1)的第二支架(11)，光度计(4)的下方设置有用于支撑光度计(4)的第三支架(41)，第三支架(41)的下方设置有分别与第二支架(11)和第三支架(41)的底部滑移连接的第二滑轨(52)，第一滑轨(51)和第二滑轨(52)相互平行，所述第二滑轨(52)上设置有用于检测第二滑轨(52)和第一滑轨(51)相对距离的激光测距仪(6)。2.根据权利要求1所述的一种逆反射材料测量装置，其特征是：所述第一滑轨(51)和第二滑轨(52)的下方均固定设置有一块水平放置的支撑面板(53)。3.根据权利要求1所述的一种逆反射材料测量装置，其特征是：所述第一滑轨(51)上设置有用于使照度计(3)精准测量检测材料所在的检测位置受到的照度强度的激光定位组件(7)。4.根据权利要求3所述的一种逆反射材料测量装置，其特征是：所述激光定位组件(7)包括定位架(72)、水平激光发生器(711)、竖直激光发生器(712)，所述定位架(72)由竖直部(721)、第一水平部(722)、与第一滑轨(51)滑移连接的第二水平部(723)的组成，竖直部(721)的底部与...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宗文，
申请(专利权)人：北京中交工程仪器研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11