本实用新型专利技术公开一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，光源和光探测器均设置在光学暗箱内，光学暗箱的表面设置有开口，试样放置在开口处，通过试样遮挡开口，光探测器用于对试样反射的光进行检测，光源到试样的连线与试样到光探测器的连线形成的夹角为0.2°。本实用新型专利技术通过将光探测器和光源放入光学暗箱中，并将逆反射材料放在光学暗箱的开口处，使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线，并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系，使得由此得到的逆反射材料的检测数据较为准确，使得能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及公路交通安全
，特别涉及一种逆反射测量装置。
技术介绍
逆反射是反射光线沿靠近入射光线的反方向，向光源射回的一种光学现象。逆反射材料是基于上述原理进行制造的，其广泛应用于公路交通领域。利用车辆自身灯光的照明效果，通过逆反射材料的反射作用能够达到传递指示、警告等信息的效果。常见产品包括逆反射标志、突起路标和标线等，逆反射材料对于保障公路运输安全，提高通行效率有着重要的意义，因此，为保证逆反射材料的逆反射效果，需要在使用逆反射材料前对其进行测试，通常逆反射材料的逆反射效果由其亮度因数以及光源、逆反射材料、观察者三者之间的几何条件来决定。现有技术中的检测逆反射材料几何条件的设备只包括光源和光探测器，测试时，通过光源对逆反射材料进行照射，通过光探测器检测逆反射材料反射的光，得到检测数据后，再由工作人员人工对检测数据进行整理和计算，最终得到逆反射材料的几何条件，用于测试的逆反射材料一般制成几何形状的试样。在实现本技术的过程中，专利技术人发现现有技术至少存在以下问题：现有技术中的检测装置只通过光源和光探测器对逆反射材料进行检测，检测时极容易受到外界杂光影响，造成无法准确获取该逆反射材料的检测数据，从而无法对逆反射材料在实际中的应用提供可靠的理论依据。
技术实现思路
为了解决现有技术容易受到外界杂光影响的问题，本技术实施例提供了一种逆反射测量装置。所述技术方案如下：提供一种逆反射测量装置，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。进一步地，所述逆反射测量装置还包括测量仪，所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧，且所述测量仪与所述光探测器电连接。进一步地，所述逆反射测量装置还包括信号放大器，所述信号放大器设置在所述光学暗箱外侧，所述光探测器、所述信号放大器和所述测量仪顺次连接。进一步地，所述逆反射测量装置还包括显示器，所述显示器设置在所述光学暗箱外侧，所述显示器与所述测量仪连接。作为优选，所述显示器为数码管或液晶显示屏。进一步地，所述逆反射测量装置还包括机箱，所述光学暗箱、所述信号放大器、所述测量仪和所述显示器均放置在所述机箱内，且所述机箱上设置有窗口，所述显示器对应设置在所述窗口处。本技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：本技术通过将光探测器和光源放入光学暗箱中，并将逆反射材料的试样对光学暗箱的开口进行遮挡，使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线，从而不受外界杂光影响，使得逆反射材料的检测数据较为准确；并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系，使得在合理利用光学暗箱空间的同时，测得的数据较精确，从而能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的逆反射测量装置的结构示意图。其中： 1光学暗箱， 2光源， 3光探测器， 4测量仪， 5信号放大器， 6显示器， 7机箱， 8试样。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施方式作进一步地详细描述。实施例一如图1所示，本技术提供一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱1、光源2和光探测器3，光源2和光探测器3均设置在光学暗箱1内，光学暗箱1的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样8放置在开口处，通过试样8遮挡开口，光探测器3用于对试样8反射的光进行检测，光源2到试样8的连线与试样8到光探测器3的连线形成的夹角为0.2°。本技术通过将光探测器3和光源2放入光学暗箱1中，并将逆反射材料的试样8对光学暗箱1的开口进行遮挡，使得光探测器3在光学暗箱1内只能检测到逆反射材料对光源2反射的光线，从而不受外界杂光影响，使得逆反射材料的检测数据较为准确；并且通过固定光源2、逆反射材料和光探测器3三者之间的位置关系，使得在合理利用光学暗箱1空间的同时，测得的数据较精确，从而能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。实施例二如图1所示，本技术提供一种逆反射测量装置，该逆反射测量装置包括光学暗箱1、光源2和光探测器3，光源2和光探测器3均设置在光学暗箱1内，光学暗箱1的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样8放置在开口处，通过试样8遮挡开口，光探测器3用于对试样8反射的光进行检测，光源2到试样8的连线与试样8到光探测器3的连线形成的夹角为0.2°。其中，通过设置光学暗箱1对逆反射材料测量提供一个稳定的黑暗环境。光学暗箱1可设置为普通的长方体，在长方体的侧面设置开口，用于将逆反射材料放置在开口处，逆反射材料在放置在开口处时需要将开口遮挡，如此使得外界光线无法进入光学暗箱1内，对测量试验造成影响，长方体的光学暗箱1内部放置光源2和光探测器3；也可将光学暗箱1设置为长方形箱体，能够打开和闭合，在箱体内部分别设置盛放和固定光源2、光探测器3和逆反射材料的结构，如此使得在对逆反射材料进行测量时，只需将箱体打开并将逆反射材料放在对应位置后，关闭箱体即可。将光源2、光探测器3和试样8放入光学暗箱1内，并且，将光源2、光探测器3和试样8按照一定的角度关系进行固定，具体地，经过专利技术人研究发现，光源2照到逆反射材料的光线与从逆反射材料反射到光探测器3的光线的夹角为0.2°，一般也可认为是光源2的几何中心到逆反射材料试样的几何中心的连线与逆反射材料的几何中心到光探测器3的几何中心的连线的夹角为0.2°本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。
【技术特征摘要】
1.一种逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、
光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光
学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所
述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述
光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。
2.根据权利要求1所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量
装置还包括测量仪，所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧，且所述测量仪与所
述光探测器电连接。
3.根据权利要求2所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量
装...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩越，
申请(专利权)人：韩越，
类型：新型
国别省市：山东;37
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