一种逆反射光度测量系统技术方案

本发明专利技术涉及逆反射技术领域，尤其涉及一种逆反射光度测量系统。其技术方案包括：载物分系统A、载物分系统B和光源分系统，载物分系统A与载物分系统B上皆安装有照度计线位移平台，照度计线位移平台上安装有观测角线位移平台，照度计线位移平台的一侧安装有照度计，照度计的上端安装有试件放置转台。本系统工作在30米的暗室中，可以实现直接发光强度法测量逆反射材料反射光度，并可校准基于逆反射材料的标准板及逆反射测量仪。对试件处光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行测量，从而得到逆反射性能参数。采用直接发光强度法，对试件处光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行精准测量，从而得到逆反射性能参数。参数。参数。

【技术实现步骤摘要】
一种逆反射光度测量系统


[0001]本专利技术涉及逆反射
，尤其涉及一种逆反射光度测量系统。

技术介绍

[0002]逆反射又称作反光、回射、回归反射、回复反射、定向反射或反向反射，是反射光线从接近入射光线的反方向返回的一种反射，当光线射到两种媒质分界面上时，一部分光线改变了传播方向返回原来媒质中继续传播，这种现象称为光的反射，光的反射遵循反射定律，在自然界中，存在着漫反射、镜面反射和逆反射三种光的反射现象，逆反射光度测量系统是逆反射中常用的系统。
[0003]现有技术申请公布号为CN112630191A的专利公开了一种逆反射系数测量方法和装置。该方法包括：获取经由光线转换组件折射并入射到测量目标的表面的光线的照度；接收测量组件接收到的来自所述测量目标的表面的反射光并且计算所述反射光的亮度；根据所述测量目标的表面的光线的照度和所述反射光的亮度计算所述测量目标的逆反射系数。本申请实施例通过在检测组件的检测方向上放置光线转换组件，使得测量组件接收的逆反射光线与测量目标的中心位置处于同一平面上，并且与光线转换组件发射到测量目标的入射光线的光轴之间的夹角小于2
°
，从而只需要获取测量目标的表面的光线的照度和来自测量目标的反射光的亮度这两个变量，减少了误差来源，提高了计算精度，降低了测量装置的设置难度。现有的逆反射光度测量系统存在的缺陷是：在暗室中，无法有效地实现直接发光强度法测量逆反射材料反射光度，并无法校准基于逆反射材料的标准板及逆反射测量仪。
[0004]现提出一种逆反射光度测量系统，对试件处光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行测量，从而得到逆反射性能参数。适用于逆反射材料检测和标定。采用直接发光强度法，对试件处光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行测量，从而得到逆反射性能参数。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是针对
技术介绍
中存在的问题，提出一种逆反射光度测量系统。
[0006]本专利技术的技术方案：一种逆反射光度测量系统，包括载物分系统A、载物分系统B和光源分系统，所述载物分系统A与载物分系统B上皆安装有照度计线位移平台，所述照度计线位移平台上安装有观测角线位移平台，所述照度计线位移平台的一侧安装有照度计，所述照度计的上端安装有试件放置转台。
[0007]观测角线位移平台可以精确调节线位移，试件放置转台可以精确调节角位移，这样就实现了逆反射材料的试件精确调节反射光角度，并被安装在远距投射光源伺服升降装置上的探测器采集捕获。
[0008]优选的，所述试件放置转台安装有待测量的试件。
[0009]优选的，所述光源分系统上安装有远距投射光源伺服升降装置、探测器、远距投射光源、激光测距仪、微弱光光度计。
[0010]优选的，所述试件放置转台安装在观测角线位移平台上，照度计安装在照度计线位移平台上。试件放置转台安装在观测角线位移平台上，实现试件平移和角度调节；照度计安装在照度计线位移平台上，实现照度计平移调节，测试光源光度。
[0011]优选的，所述探测器安装在远距投射光源伺服升降装置上，远距投射光源、激光测距仪、微弱光光度计安装在定位支座上。探测器安装在远距投射光源伺服升降装置上，实现探测器高度升降调节，利用定位支座可实现对远距投射光源、激光测距仪、微弱光光度计的位置进行限定。
[0012]优选的，其测量系统在对逆反射光测量时具体方法包括：
[0013]步骤S1：引入逆反射光强系数R和逆反射系数R；
[0014]步骤S2：将试件参考中心正对远距离投射光源中心；
[0015]步骤S3：移动探测器使观测角为R，通过转动试件使其入射角等于R；
[0016]步骤S4：计算出不同观测角和入射角条件下的逆反射系数R'；
[0017]步骤S5：对误差进行分析。
[0018]优选的，所述逆反射光强系数R计算公式如下：
[0019][0020]其中：R为试件表面光强度系数，单位：cd/lx；I为试件表面光强度，单位：E
⊥
为试件参考中心位置上的垂直照度，单位：lx。
[0021]优选的，所述逆反射系数R'计算公式如下：
[0022][0023]I＝Ed2[0024]其中：E为试件的逆反射光的照度值，单位：lx；R'为试件逆反光系数，单位：cd/(lx
·
m)；A为试件表面的被测面积，单位：m2；d为试件参考中心与探测器前表间的距离，其值可由激光测距仪测得，单位：m。
[0025]优选的，所述观测角α为投射光源的照明轴与探测器的观测轴之前的夹角；所述入射角β为投射光源的照明轴与试样参考中心的参考轴之前的夹角。
[0026]优选的，所述步骤S6中误差分析，其误差为试件表面光强度I的测量误差，来自于逆反射光的照度值E和试件参考中心与探测器前表间的距离d，其误差计算公式如下：
[0027]ΔI＝ΔE
·
(Δd)2[0028]式中：ΔE为逆反射光的照度值偏离误差；Δd为试件参考中心与探测器前表间距离的测量误差。
[0029]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益的技术效果：
[0030]1.本系统工作在30米的暗室中，可以实现直接发光强度法测量逆反射材料反射光度，并可校准基于逆反射材料的标准板及逆反射测量仪。
[0031]2.本专利技术对试件处光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行测量，从而得到逆反射性能参数。适用于逆反射材料检测和标定。采用直接发光强度法，对试件处
光源的入射光通量和观测点处逆反射返回的光通量进行测量，从而得到逆反射性能参数。
附图说明
[0032]图1为本专利技术的主视图；
[0033]图2为本专利技术的光源分系统结构示意图；
[0034]图3为本专利技术的载物分系统A结构示意图；
[0035]图4为本专利技术的载物分系统B结构示意图；
[0036]图5为本专利技术的测量方法图；
[0037]图6为本专利技术的光路示意图。
[0038]附图标记：1、观测角线位移平台；2、照度计线位移平台；3、试件放置转台；4、照度计；5、远距投射光源伺服升降装置；6、探测器；7、远距投射光源；8、激光测距仪；9、微弱光光度计；10、定位支座；11、载物分系统A；12、载物分系统B；13、光源分系统。
具体实施方式
[0039]下文结合附图和具体实施例对本专利技术的技术方案做进一步说明。
[0040]实施例一
[0041]如图2
‑
3所示，本专利技术提出的一种逆反射光度测量系统，包括载物分系统A11、载物分系统B12和光源分系统13，载物分系统A11与载物分系统B12上皆安装有照度计线位移平台2，照度计线位移平台2上安装有观测角线位移平台1，照度计线位移平台2的一侧安装有照度计4，照度计4的上端安装有试件放置转台3。
[0042]基于实施例1的逆反射光度测量系统工作原理是：观测角线位移本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种逆反射光度测量系统，包括载物分系统A(11)、载物分系统B(12)和光源分系统(13)，其特征在于：所述载物分系统A(11)与载物分系统B(12)上皆安装有照度计线位移平台(2)，所述照度计线位移平台(2)上安装有观测角线位移平台(1)，所述照度计线位移平台(2)的一侧安装有照度计(4)，所述照度计(4)的上端安装有试件放置转台(3)。2.根据权利要求2所述的一种逆反射光度测量系统，其特征在于：所述试件放置转台(3)安装有待测量的试件。3.根据权利要求1所述的一种逆反射光度测量系统，其特征在于：所述光源分系统(13)上安装有远距投射光源伺服升降装置(5)、探测器(6)、远距投射光源(7)、激光测距仪(8)、微弱光光度计(9)。4.根据权利要求2所述的一种逆反射光度测量系统，其特征在于：所述试件放置转台(3)安装在观测角线位移平台(1)上，照度计(4)安装在照度计线位移平台上(2)。5.根据权利要求2所述的一种逆反射光度测量系统，其特征在于：所述探测器(6)安装在远距投射光源伺服升降装置(5)上，远距投射光源(7)、激光测距仪(8)、微弱光光度计(9)安装在定位支座(10)上。6.根据权利1所述的一种逆反射光度测量系统，其测量系统在对逆反射光测量时具体方法包括：步骤S1：引入逆反射光强系数R和逆反射系数R'；步骤S2：将试件参考中心正对远距离投射光源(7)中心；步骤S3：移动探测器(6)使观测角为α，通过转动试件使其入射角等于β；步骤S4：计算出不同观测角和入射角条件下的逆反...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宗文，
申请(专利权)人：北京中交工程仪器研究所，
类型：发明
国别省市：