一种阈值电压值的检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种阈值电压值的检测方法及装置，由于同一像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，且数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关，检测线在充电后的电压值与驱动晶体管的初始阈值电压值相关。在充电电压比值不满足预设阈值范围时，调整该像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并通过循环检测的方式使充电电压比值满足预设阈值范围，以根据调整后的数据电压值得到驱动晶体管的当前阈值电压值。在充电电压比值满足预设阈值范围时，则直接根据对检测线进行充电时输入的数据电压值即可得到驱动晶体管的当前阈值电压值，以提高检测得到的当前阈值电压值的准确性。

A threshold voltage value detection method and device

The invention discloses a detection method and device for threshold voltage value. Because the input data voltage value is different when the detection line is charged twice by the same pixel circuit, and the data voltage value is related to the initial threshold voltage value of the driving transistor in the corresponding pixel circuit, the voltage value of the detection line after charging is related to the driving crystal. The initial threshold voltage value of the tube is correlated. When the charge voltage ratio does not meet the preset threshold value range, the input data voltage value of the pixel circuit is adjusted when the detection line is charged twice, and the charge voltage ratio meets the preset threshold value range by cyclic detection, so that the current threshold voltage value of the driving transistor can be obtained according to the adjusted data voltage. When the charge voltage ratio satisfies the preset threshold range, the current threshold voltage value of the driving transistor can be obtained directly from the input data voltage value when the detection line is charged, so as to improve the accuracy of the current threshold voltage value obtained by the detection.

【技术实现步骤摘要】
一种阈值电压值的检测方法及装置
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种阈值电压值的检测方法及装置。
技术介绍
有机发光二极管(OrganicLightEmittingDiode，OLED)、量子点发光二极管(QuantumDotLightEmittingDiodes，QLED)等电致发光二极管具有自发光、低能耗等优点，是当今电致发光显示面板应用研究领域的热点之一。目前，电致发光二极管一般属于电流驱动型，需要稳定的电流来驱动其发光。并且电致发光显示面板中采用像素电路来驱动电致发光二极管发光。在工艺制备中，一般会将像素电路中的驱动晶体管的尺寸与产品规格相适应，从而使制备完成的驱动晶体管具有初始阈值电压值Vth-0。然而由于器件老化等原因，会使驱动晶体管的当前阈值电压值与初始阈值电压值Vth-0不同，从而造成显示亮度差异。为了保证显示质量，可以通过外部补偿的方式，先检测得到驱动晶体管的当前阈值电压，再根据检测得到的当前阈值电压值对显示亮度进行补偿。然而，目前用于检测驱动晶体管的当前阈值电压值的方法无法避开驱动晶体管的迁移率的影响，使得检测得到的当前阈值电压值的准确性较低。有鉴于此，如何比较准确的检测得到驱动晶体管的当前阈值电压值，是本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种阈值电压值的检测方法及装置，用以提高检测得到的驱动晶体管的当前阈值电压值的准确性。因此，本专利技术实施例提供一种阈值电压值的检测方法，应用于对电致发光显示面板的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压值进行检测，所述检测方法包括：在预设检测周期中，控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值；其中，同一所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，并且所述数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关；根据获取的每一所述像素电路连接的检测线在两次充电后的电压值，确定每一所述像素电路对应的充电电压比值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值不满足对应的预设阈值范围时，调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并进行下一个预设检测周期的循环，直至所述像素电路对应的充电电压比值满足预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值满足对应的预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，在第一次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第一数据电压值；在第二次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第二数据电压值；其中，所述第一数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第一检测电压值之和；所述第二数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第二检测电压值之和；所述调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，具体包括：在所述像素电路对应的充电电压比值大于所述预设阈值范围中的最大值时，将所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值减小相同的第一电压值后的电压值，确定为所述像素电路对应的新的第一数据电压值与新的第二数据电压值；在所述像素电路对应的充电电压比值小于所述预设阈值范围中的最小值时，将所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值增加相同的第二电压值后的电压值，确定为所述像素电路对应的新的第一数据电压值与新的第二数据电压值；所述根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值，具体包括：在所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值减小相同的第一电压值时，将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值减小所述第一电压值后的电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值；在所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值增加相同的第二电压值时，将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值增加所述第二电压值后的电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，在第一次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第一数据电压值；在第二次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第二数据电压值；其中，所述第一数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第一检测电压值之和；所述第二数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第二检测电压值之和；所述根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值，具体包括：将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，所述控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值，具体包括：在所述预设检测周期的第n个显示帧的消隐区中，根据第n行的每一所述像素电路对应的第一数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第一次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值；n为大于或等于1且小于或等于N的整数，N为所述电致发光显示面板中的像素电路的总行数；根据所述第n行的每一所述像素电路对应的第二数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第二次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值。可选地，在本专利技术实施例提供的上述检测方法中，所述控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值，具体包括：在所述预设检测周期的第2n-1个显示帧的消隐区中，根据第n行的每一所述像素电路对应的第一数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第一次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值；n为大于或等于1且小于或等于N的整数，N为所述电致发光显示面板中的像素电路的总行数；在同一所述预设检测周期的第2n个显示帧的消隐区中，根据所述第n行的每一所述像素电路对应的第二数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第二次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值。相应地，本专利技术实施例还提供了一种阈值电压值的检测装置，应用于对电致发光显示面板的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压值进行检测，所述检测装置包括：获取单元，用于在预设检测周期中，控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值；其中，同一所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，并且所述数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关；比值确定单元，用于根据获取的每一所述像素电路连接的检测线在两次充电后的电压值，确定每一所述像素电路对应的充电电压比值；电压确定单元，用于针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值不满足对应的预设阈值范围时，调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并进行下一个预设检测周期的循环，直至所述像素电路对应的充电电压比值满足预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的调整后的数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阈值电压值的检测方法，其特征在于，应用于对电致发光显示面板的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压值进行检测，所述检测方法包括：在预设检测周期中，控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值；其中，同一所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，并且所述数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关；根据获取的每一所述像素电路连接的检测线在两次充电后的电压值，确定每一所述像素电路对应的充电电压比值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值不满足对应的预设阈值范围时，调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并进行下一个预设检测周期的循环，直至所述像素电路对应的充电电压比值满足预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值满足对应的预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值。

【技术特征摘要】
1.一种阈值电压值的检测方法，其特征在于，应用于对电致发光显示面板的像素电路中的驱动晶体管的阈值电压值进行检测，所述检测方法包括：在预设检测周期中，控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值；其中，同一所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值不同，并且所述数据电压值与对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值相关；根据获取的每一所述像素电路连接的检测线在两次充电后的电压值，确定每一所述像素电路对应的充电电压比值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值不满足对应的预设阈值范围时，调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，并进行下一个预设检测周期的循环，直至所述像素电路对应的充电电压比值满足预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值；针对每一所述像素电路，在所述像素电路对应的充电电压比值满足对应的预先设定的阈值范围时，根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值。2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在第一次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第一数据电压值；在第二次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第二数据电压值；其中，所述第一数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第一检测电压值之和；所述第二数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第二检测电压值之和；所述调整所述像素电路对检测线进行两次充电时输入的数据电压值，具体包括：在所述像素电路对应的充电电压比值大于所述预设阈值范围中的最大值时，将所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值减小相同的第一电压值后的电压值，确定为所述像素电路对应的新的第一数据电压值与新的第二数据电压值；在所述像素电路对应的充电电压比值小于所述预设阈值范围中的最小值时，将所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值增加相同的第二电压值后的电压值，确定为所述像素电路对应的新的第一数据电压值与新的第二数据电压值；所述根据所述像素电路对应的调整后的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值，具体包括：在所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值减小相同的第一电压值时，将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值减小所述第一电压值后的电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值；在所述像素电路对应的第一数据电压值与第二数据电压值增加相同的第二电压值时，将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值增加所述第二电压值后的电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值。3.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在第一次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第一数据电压值；在第二次充电时，每一所述像素电路输入一一对应的第二数据电压值；其中，所述第一数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第一检测电压值之和；所述第二数据电压值等于对应的像素电路中驱动晶体管的初始阈值电压值与第二检测电压值之和；所述根据所述像素电路对应的数据电压值，确定所述像素电路中驱动晶体管对应的当前阈值电压值，具体包括：将所述像素电路中驱动晶体管对应的初始阈值电压值，确定为所述驱动晶体管对应的当前阈值电压值。4.如权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值，具体包括：在所述预设检测周期的第n个显示帧的消隐区中，根据第n行的每一所述像素电路对应的第一数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第一次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值；n为大于或等于1且小于或等于N的整数，N为所述电致发光显示面板中的像素电路的总行数；根据所述第n行的每一所述像素电路对应的第二数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第二次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值。5.如权利要求2或3所述的检测方法，其特征在于，所述控制每一像素电路向连接的检测线进行两次充电，并在每次充电后获取所述检测线上的电压值，具体包括：在所述预设检测周期的第2n-1个显示帧的消隐区中，根据第n行的每一所述像素电路对应的第一数据电压值，控制所述第n行的每一所述像素电路向连接的检测线进行第一次充电，并在充电后获取所述检测线上的电压值；n为大于或等于1且小于或等于N的整数，N为所述电致发光显示面板中的像素电路的总行数；在同一所述预设检测周期的第2n个显示帧的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王雨，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11