The invention belongs to the technical field of measuring mechanical properties of organic thin films, in particular to a standardized method for measuring Young's modulus of organic thin films. The steps of the method of the invention are as follows: the load curve of the organic film is obtained by single loading and unloading test, and the load curve is explained by deducing the relationship between the load in the unloading curve and the pressure depth by applying the Ronald Jones potential theory which describes the relationship between the intermolecular force and the distance between molecules. The fitting parameters were obtained by fitting the load curve, and the relationship between Young's modulus and load indentation depth of organic film was deduced theoretically, and the fitting parameters were obtained to determine the Young's modulus of organic film at different indentation depth. The Young's modulus E0 of the soft organic film can be obtained by this method when the elastic force is zero after compression. The Young's modulus E0 will not change with the stress or strain of the film, and is relatively fixed. It is suitable for the comparison and standardization test of Young's modulus of the organic film.
【技术实现步骤摘要】
一种有机薄膜杨氏模量标准化测算方法
本专利技术属于有机薄膜的力学特性测量
,具体涉及有机薄膜杨氏模量的测算方法。
技术介绍
有机薄膜已经被广泛地应用到发光显示,太阳能电池,传感器,以及其它类型的半导体器件中。有机薄膜能够弯曲的特性被看作是一个有别于无机半导体的独特的优点。在弯曲的过程中,有机薄膜无疑会受到应力的作用,因此其力学特性备受关注。目前,有很多工作利用纳米压痕仪研究有机薄膜的力学性能,尤其是通过测试其载荷曲线,得到其杨氏模量。但是目前的测试方法基本没有考虑其载荷曲线的非线性特征。类似的研究工作分歧也比较大,尤其是测试得到的杨氏模量差别比较大,经常只能给出一个大致的范围。另有一些人认为,聚合物的杨氏模量的变化是由于测量技术导致的问题。例如压头倾斜,样品粗糙度高,且未水平放置等原因引起的,而不是主要在于聚合物本身的特性。因此,有机薄膜杨氏模量的标准化测量具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种新的用于有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法。本专利技术提供的有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法,具体步骤为:(1)利用纳米压痕仪对有机薄膜进行单次加载-卸载测试,得到该有机薄膜的单次载荷曲线;(2)应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德-琼斯势理论,通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线,并对载荷曲线进行拟合,得到拟合参数;(3)根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式,以及拟合参数,确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值。由于薄膜在卸载后回复到受力为零的平衡状态时,其杨氏模量E0相对固定,不会随薄膜的应力或应变改变, ...
【技术保护点】
1.一种有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法,其特征在于,具体步骤为:(1)利用纳米压痕仪对有机薄膜进行单次加载‑卸载测试,得到该有机薄膜的单次载荷曲线;(2)应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德‑琼斯势理论,通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线,并对载荷曲线进行拟合,得到拟合参数;(3)根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式,以及拟合参数,确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值。
【技术特征摘要】
1.一种有机薄膜杨氏模量标准化的测算方法,其特征在于,具体步骤为:(1)利用纳米压痕仪对有机薄膜进行单次加载-卸载测试,得到该有机薄膜的单次载荷曲线;(2)应用描述分子间力和分子间距关系的罗纳德-琼斯势理论,通过推导卸载曲线中的载荷与压入深度的关系来解释载荷曲线,并对载荷曲线进行拟合,得到拟合参数;(3)根据理论推导得到有机薄膜杨氏模量和载荷压入深度的关系式,以及拟合参数,确定不同压入深度下有机薄膜的杨氏模量值。2.根据权利要求1所述的测算方法,其特征在于,步骤(2)中,根据罗纳德-琼斯势理论得到的,...
【专利技术属性】
技术研发人员:钟高余,叶飞,李杰,闫伟青,王虞焱,
申请(专利权)人:复旦大学,
类型:发明
国别省市:上海,31
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