一种MCU芯片保护方法技术

技术编号:18860580 阅读:112 留言:0更新日期:2018-09-05 14:11
本发明专利技术公开了一种MCU芯片保护方法,通过MCU芯片内部的时钟保护电路,当芯片处于在场应用时,MCU芯片内部的时钟保护电路可以自检到应用系统的出现外部高频时钟出现停止振荡等异常状态,并且及时地将MCU内核的工作主时钟由外部高频时钟切换成内部低频时钟,从而避免MCU内核出现死锁状态与及由此而导致的严重的系统异常。时钟保护电路还能够在异常发生时产生相应的中断请求信号,使MCU内核能够及时地启动相应的中断保护程序,进一步提高MCU芯片在场应用的可靠性。本发明专利技术提高MCU芯片的可靠性,使MCU芯片能够被使用到一些电气环境相对恶劣的应用场合。

A MCU chip protection method

The invention discloses a MCU chip protection method. Through the clock protection circuit inside the MCU chip, the clock protection circuit inside the MCU chip can self-detect the abnormal state of the application system, such as the occurrence of an external high frequency clock stop oscillation, and timely send the main clock of the MCU kernel when the chip is in the field application. Switching external high-frequency clocks to internal low-frequency clocks avoids deadlock states in the MCU kernel and consequently serious system anomalies. Clock protection circuit can also generate interrupt request signal when abnormal happens, so that the MCU kernel can start the interrupt protection program in time, and further improve the reliability of MCU chip in-situ application. The invention improves the reliability of the MCU chip and enables the MCU chip to be used in some applications where the electrical environment is relatively bad.

【技术实现步骤摘要】
一种MCU芯片保护方法
本专利技术涉及一种保护方法,具体是一种MCU芯片保护方法。
技术介绍
MCU芯片被广泛地使用到电子产品中,作为电子电路里面的控制单元。MCU芯片的应用场合多种多样,应用条件也就各不相同。当MCU芯片需要使用到一些电气环境相对恶劣的应用场合时,如何提前MCU芯片的可靠性是非常重要的。当MCU芯片处于在场应用时,其中一种需要小心应对的异常就是MCU的外部高频时钟出现异常。如果外部高频时钟出现停止振荡的异常,MCU内核就可能会由于失去了工作主时钟而处于死锁状态,进而导致MCU应用系统出现严重的在场应用异常。本专利技术提供一种用于MCU芯片的时钟保护电路,通过MCU芯片内部的时钟保护电路,当芯片处于在场应用时,MCU芯片内部的时钟保护电路可以自检到应用系统的出现外部高频时钟出现停止振荡等异常状态,并且及时地将MCU内核的工作主时钟由外部高频时钟切换成内部低频时钟,从而避免MCU内核出现死锁状态与及由此而导致的严重的系统异常。时钟保护电路还能够在异常发生时产生相应的中断请求信号,使MCU内核能够及时地启动相应的中断保护程序,进一步提高MCU芯片在场应用的可靠性。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种MCU芯片保护方法,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种MCU芯片保护方法,当MCU芯片处于在场应用时,其内核工作主时钟由芯片外部的高频振荡器HOSC提供,芯片外部的高频振荡器HOSC输出的时钟hck输入至MCU芯片内部的时钟监测保护模块PRT_MON,时钟监测保护模块PRT_MON负责对外部高频时钟hck进行自检,时钟监测保护模块输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM,当时钟监测保护模块PRT_MON检测到芯片外部的高频振荡器为正常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为低电平状态,当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为高电平有效状态,时钟监测保护模块PRT_MON输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM;时钟管理模块CKM负责根据时钟保护启动信号prt_st的不同状态选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟,或者将内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu,时钟管理模块CKM持续监测时钟监测保护模块PRT_MON送过来的时钟保护启动信号prt_st,当其监测到时钟保护启动信号为低电平状态时,时钟管理模块CKM选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当其监测到时钟保护启动信号为高电平状态时,时钟管理模块CKM立刻将内部低频时钟模块产生的内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,还会产生一个中断请求信号intr,将此异常报告给MCU内核,MCU内核收到此中断请求信号时,能够在工作主时钟完成切换之后,进入相应的中断服务程序,进行一系列时钟异常保护操作。作为本专利技术进一步的方案:所述时钟监测保护模块PRT_MON为双时钟逻辑模块。作为本专利技术再进一步的方案:在时钟监测保护模块PRT_MON的内部,时钟监测计数器DCNT以外部高频时钟hck作为其工作时钟,每个hck的上升沿,时钟监测计数器进行加1累加,时钟监测保护模块PRT_MON的内部包括有3个以内部低频时钟lck为工作时钟的缓存器,它们分别是缓存器1BUF1,缓存器2BUF2,缓存器3BUF3,3个缓存器以串行方式相连接,时钟监测计数器的计数值cnt_p0输送到缓存器1BUF1,缓存器1BUF1持续地对时钟监测计数器的计数值cnto进行采样,缓存器1BUF1输出时钟监测计数器采样值cnt_p1,缓存器2BUF2同时以内部低频时钟作为工作时钟,缓存器2BUF2对缓存器1输出的时钟监测计数器采样值cnt_p1进行缓存后得到时钟监测计数器采样值cnt_p2,缓存器3BUF3对缓存器2输出的时钟监测计数器采样值cnt_p2进行缓存后得到时钟监测计数器采样值cnt_p3,缓存器2输出的时钟监测计数器采样值cnt_p2与缓存器3输出的时钟监测计数器采样值cnt_p3被送至比较器C1的输入端,外部高频时钟正常的情况下,时钟监测计数器采样值cnt_p2与时钟监测计数器采样值cnt_p3不相等,因为时钟监测计数器采样值cnt_p3的值相对于时钟监测计数器采样值cnt_p2有1个内部低频时钟周期的延时,当外部高频时钟正常时,时钟监测计数器采样值cnt_p3的值与时钟监测计数器采样值cnt_p2的值不相等,这将会驱使比较器C1输出的比较信号为低电平状态,并且驱使锁存器LAT1输出的时钟保护启动信号prt_st被置为低电平无效状态,当外部高频时钟出现停振异常时,时钟监测计数器采样值cnt_p3的值与时钟监测计数器采样值cnt_p2的值相等,这将会驱使比较器C1输出的比较信号为高电平状态,并且驱使锁存器LAT1输出的时钟保护启动信号prt_st被置为高电平有效状态。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术通过MCU芯片内部的时钟保护电路,当芯片处于在场应用时,MCU芯片内部的时钟保护电路可以自检到应用系统的出现外部高频时钟出现停止振荡等异常状态,并且及时地将MCU内核的工作主时钟由外部高频时钟切换成内部低频时钟,从而避免MCU内核出现死锁状态与及由此而导致的严重的系统异常。时钟保护电路还能够在异常发生时产生相应的中断请求信号,使MCU内核能够及时地启动相应的中断保护程序,进一步提高MCU芯片在场应用的可靠性,使MCU芯片能够被使用到一些电气环境相对恶劣的应用场合。附图说明图1为MCU芯片保护方法的工作原理框图。图2为MCU芯片保护方法中时钟监测保护模块的工作原理图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1~2,本专利技术实施例中,一种MCU芯片保护方法,当MCU芯片处于在场应用时,如果外部高频时钟出现停止振荡的异常,MCU内核就可能会由于失去了工作主时钟而处于死锁状态,进而导致MCU应用系统出现严重的在场应用异常。本专利技术提供一种适用于MCU芯片的时钟保护电路,通过MCU芯片内部的时钟保护电路可以自检到MCU芯片外部高频时钟出现停止振荡等异常状态,并且能够在外部高频时钟出现异常的时候,及时地将MCU内核的工作主时钟由外部高频时钟切换成内部低频时钟,从而避免由于外部高频时钟的停振异常令MCU内核出现死锁状态,进而导致应用系统出现严重后果。用于MCU芯片的时钟保护电路原理如图1所示。MCU芯片由时钟监测保护模块PRT_MON、内部低频时钟模块LPOSC、时钟管理模块CKM、MCU内核MCU_CORE等部分组成。当MCU芯片处于在场应用时,其内核工作主时钟由芯片外部的高频振荡器HOSC提供。芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种MCU芯片保护方法,其特征在于,当MCU芯片处于在场应用时,其内核工作主时钟由芯片外部的高频振荡器HOSC提供,芯片外部的高频振荡器HOSC输出的时钟hck输入至MCU芯片内部的时钟监测保护模块PRT_MON,时钟监测保护模块PRT_MON负责对外部高频时钟hck进行自检,时钟监测保护模块输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM,当时钟监测保护模块PRT_MON检测到芯片外部的高频振荡器为正常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为低电平状态,当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为高电平有效状态,时钟监测保护模块PRT_MON输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM;时钟管理模块CKM负责根据时钟保护启动信号prt_st的不同状态选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟,或者将内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu,时钟管理模块CKM持续监测时钟监测保护模块PRT_MON送过来的时钟保护启动信号prt_st,当其监测到时钟保护启动信号为低电平状态时,时钟管理模块CKM选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当其监测到时钟保护启动信号为高电平状态时,时钟管理模块CKM立刻将内部低频时钟模块产生的内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,还会产生一个中断请求信号intr,将此异常报告给MCU内核,MCU内核收到此中断请求信号时,能够在工作主时钟完成切换之后,进入相应的中断服务程序,进行一系列时钟异常保护操作。...

【技术特征摘要】
1.一种MCU芯片保护方法,其特征在于,当MCU芯片处于在场应用时,其内核工作主时钟由芯片外部的高频振荡器HOSC提供,芯片外部的高频振荡器HOSC输出的时钟hck输入至MCU芯片内部的时钟监测保护模块PRT_MON,时钟监测保护模块PRT_MON负责对外部高频时钟hck进行自检,时钟监测保护模块输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM,当时钟监测保护模块PRT_MON检测到芯片外部的高频振荡器为正常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为低电平状态,当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,时钟保护启动信号prt_st将被置为高电平有效状态,时钟监测保护模块PRT_MON输出的时钟保护启动信号prt_st被连接到时钟管理模块CKM;时钟管理模块CKM负责根据时钟保护启动信号prt_st的不同状态选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟,或者将内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu,时钟管理模块CKM持续监测时钟监测保护模块PRT_MON送过来的时钟保护启动信号prt_st,当其监测到时钟保护启动信号为低电平状态时,时钟管理模块CKM选择正常的外部高频时钟hck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当其监测到时钟保护启动信号为高电平状态时,时钟管理模块CKM立刻将内部低频时钟模块产生的内部低频时钟lck作为内核工作时钟clk_mcu输送至MCU内核MCU_CORE;当时钟监测保护模块PRT_MON自检到芯片外部的高频振荡器出现停止振荡的异常状态时,还会产生一个中断请求信号intr,将此异常报告给MCU内核,MCU内核收到此中断请求信号时,能够在工作主时钟完成切换之后,进入相应的中断服务程序,进行一系列时钟异常保护操作。2.根据权利要求1所述的MCU芯片保护方法,其特征在于,所述时钟监测保护模块PRT_MON...

【专利技术属性】
技术研发人员:万上宏叶媲舟涂柏生
申请(专利权)人:深圳市博巨兴实业发展有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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