基于流程的微波组件自动测试分析系统及方法技术方案

本发明专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种基于流程的微波组件自动测试分析系统。本次发明专利技术采用的技术方案为：一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，包括计算机、测试仪表，微波组件与测试仪表相连，测试仪表与计算机通讯；其特征在于：计算机是利用Agilent IO Libraries虚拟测试仪器和测试环境的计算机，包括用户授权模块、仪器初始化模块、自动化流程配置模块、自动化测试模块、数据存储模块、操作日志记录模块、数据查询分析模块。

Automatic test and analysis system and method for microwave components based on process

The object of the present invention is to overcome the shortcomings of the prior art and to provide an automatic test and analysis system for microwave components based on flow. The technical scheme adopted in this invention is: a microwave component automatic test and analysis system based on flow, including computer, test instrument, microwave component and test instrument connected, test instrument and computer communication; the characteristic is that the computer is a meter using Agilent IO Libraries virtual test instrument and test environment. The computer includes user authorization module, instrument initialization module, automatic process configuration module, automatic test module, data storage module, operation log recording module, data query and analysis module.

【技术实现步骤摘要】
基于流程的微波组件自动测试分析系统及方法
本专利技术属于微波组件测试领域，更具体地说是一种基于流程的微波组件自动测试分析系统及方法。
技术介绍
随着电子设备的高速发展，人们对电子设备的需求量及准确精细程度的要求也越来越高，因此对于组成功能单元的组件准确程度和需求量也越来越高，传统的测试方法已经无法满足要求。传统的人工测试方法对人力资源要求高，测试方法单一，测试速度慢，测试产量低，测试数据会存在误差，测试数据需手动记录，无法实现对测试数据的自动统计及分析。电子自动测试系统的出现，从而降低人力成本，提供准确的测试数据并实现统计分析，快速找到问题从而解决问题。但是迄今为止的组件测试系统尽仅能实现对组件的一组参数进行测试，无法实现流程化的配置组件参数。因此有必要提供一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，可以实现将不同的微波组件接入自动测试系统中，通过可视化窗口，调整初始设置，即可完成各类参数指标的测试，并进行统计分析。本专利技术提出具有移植性、通用性比较强的特点，在工程应用中也有效缓解了测试人员的压力，提高了工程设计及测试的效率及准确率。
技术实现思路
本次专利技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种基于流程的微波组件自动测试分析系统。为达成上述目的，本次专利技术采用的技术方案为：一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，包括计算机、测试仪表，微波组件与测试仪表相连，测试仪表与计算机通讯；其特征在于：计算机是利用AgilentIOLibraries虚拟测试仪器和测试环境的计算机，包括用户授权模块、仪器初始化模块、自动化流程配置模块、自动化测试模块、数据存储模块、操作日志记录模块、数据查询分析模块。其中：测试仪表包括辅助测试仪表和指标测量仪表，测试仪表包括输入设备信号源，输出设备频谱仪，功率计，失网，噪声仪，示波器。上述基于流程的微波组件自动测试分析方法，包括如下步骤：（1）用户授权测试人员通过指定的账号密码登入测试系统；（2）仪器初始化利用AgilentIOLibraries虚拟化测试环境，同时预置需要涉及到的测试仪表，将测试仪表的名称，规格，型号，参数及测试方法初始化；（3）自动化流程配置将需要测试的组件模块的测试指标流程化配置，产生配置列表，配置列表保存后可移植及后期修改，配置列表中的配置流程包括输入参数：起始频率、终止频率以及采集点数，输出参数包括频谱仪的最大值、功率计的脉冲功率以及示波器的值，配置流程可实现暂停功能；（4）自动化测试加载已经定义好的配置流程，然后往计算机中输入组件编号，虚拟仪器模块载入相应的解析库并对流程参数进行解析，然后连接测试组件，将采集到的该组件的信息发送给计算机；测试数据保存在计算机的内存中；计算机中输入要生成的Excel名称，将内存中的测试数据取出并存储在已经定义好的Excel文件模板中，同时将测试数据保存到数据库中；（5）操作日志记录记录用户的登入登出系统的时间，记录用户进行了哪些操作，测试了哪些组件模块；（6）数据查询分析选择Excel名称，载入已经测试完成的配置流程的测试数据，对数据进行统计分析。本专利技术的基于流程的微波组件自动测试分析系统打开计算机的AgilentIOControl可以得到各个测试仪表的地址。用户预定义好需要测试的微波组件的规格参数以及测试流程，通过自动化测试完成后得到测试数据存储到系统及本地中，之后进行后期的统计分析。本专利技术可以实现批量，准确地测试组件模块的参数规格值，并实现统计分析功能。附图说明图1为本专利技术具体实施例的系统物理拓扑图。具体实施方式结合附图对本专利技术做具体说明。如图1所示的基于流程的微波组件自动测试分析系统，微波组件具有7个端口，分别连接3个辅助测试仪表及4个指标测量仪表，上述各类测试仪表包括输入设备信号源，输出设备频谱仪，功率计，失网，噪声仪，示波器等设备。各台测试组件参数的测试仪表通过双头GPIB相连，GPIB转USB与计算机相连，计算机外接控制键盘实现人机交互，计算机上还带有Excel制表工具。软件架构包括计算机作为业务操作端，业务逻辑层包括流程配置、自动测试、生成报表、数据访问，调用数据库及文件库实现。上述基于流程的微波组件自动测试分析系统包括用户授权模块，仪器初始化模块，自动化流程配置模块，自动化测试模块，数据存储模块，操作日志记录模块，数据查询分析模块。下面对各个部分做介绍：（1）用户授权模块测试人员需要通过指定的账号密码才能登入测试系统。这就保证在数据的保密和安全方面起到重要的作用。（2）仪器初始化模块利用AgilentIOLibraries虚拟化测试环境，同时预置需要涉及到的测试仪器库，将仪器设备的名称，规格，型号，参数及测试方法初始化。为之后的测试做好准备。（3）自动化流程配置模块可以将需要测试的组件模块的测试指标流程化配置，产生配置列表。配置列表保存后可移植及后期修改。配置列表中的配置流程包括输入参数：起始频率、终止频率以及采集点数等，输出参数包括频谱仪的最大值、功率计的脉冲功率以及示波器的值等。配置流程也可实现暂停功能，以方便测试人员手动查阅及校对，有效地实现了人工和自动化的高度融合。（4）自动化测试模块加载已经定义好的配置流程，然后往计算机中输入组件编号，虚拟仪器模块将载入相应的解析库并对流程参数进行解析，然后连接测试组件，将采集到的该组件的信息发送给计算机。当测试暂停和完成时系统都会给出相应的提示，同一测试流程系统可实现多次测试，即测试完成后重新点击自动测试可进行又一次的测试，测试数据会暂时保存在计算机的内存中；之后往计算机中输入要生成的Excel名称，可将内存中的测试数据取出并存储在已经定义好的Excel文件模板中，同时将测试数据保存到数据库中，便于后期的查询和导出。（5）操作日志记录可以记录用户的登入登出系统的时间，记录用户进行了哪些操作，测试了哪些组件模块，以实现责任到人，也能时刻鞭策测试人员，同时也能提高测试数据的准确性。（6）数据查询分析通过选择Excel名称，可以载入已经测试完成的配置流程的测试数据，同时可以对数据进行相应的统计分析，还可以将数据导出到相应的Excel中以方便测试人员及其他相关人员查阅。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，包括计算机、测试仪表，微波组件与测试仪表相连，测试仪表与计算机通讯；其特征在于：计算机是利用Agilent IO Libraries虚拟测试仪器和测试环境的计算机，包括用户授权模块、仪器初始化模块、自动化流程配置模块、自动化测试模块、数据存储模块、操作日志记录模块、数据查询分析模块。

【技术特征摘要】
1.一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，包括计算机、测试仪表，微波组件与测试仪表相连，测试仪表与计算机通讯；其特征在于：计算机是利用AgilentIOLibraries虚拟测试仪器和测试环境的计算机，包括用户授权模块、仪器初始化模块、自动化流程配置模块、自动化测试模块、数据存储模块、操作日志记录模块、数据查询分析模块。2.根据权利要求1所述的基于流程的微波组件自动测试分析系统，其特征在于：测试仪表包括辅助测试仪表和指标测量仪表，测试仪表包括输入设备信号源，输出设备频谱仪，功率计，失网，噪声仪，示波器。3.一种基于流程的微波组件自动测试分析方法，包括如下步骤：（1）用户授权测试人员通过指定的账号密码登入测试系统；（2）仪器初始化利用AgilentIOLibraries虚拟化测试环境，同时预置需要涉及到的测试仪表，将测试仪表的名称，规格，型号，参数及测试方法初始化；（...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭影，袁杨，林超然，徐天翔，
申请(专利权)人：南京第五十五所技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32