会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置及方法，该装置由离轴抛物面反射镜、平面反射采样镜、光电探测器、十字分划板等组成；十字分划板位于离轴抛物面反射镜的焦点处，光电探测器位于经平面反射采样镜反射的离轴抛物面反射镜的共轭焦点附近；通过十字分划板的成像位置校正跟踪视轴，使之与抛物面反射镜光轴平行后，会聚的激光光束经离轴抛物面反射镜聚焦，由平面反射采样镜衰减，沿光轴方向移动光电探测器使其感光，将感光面积最小的位置作为激光焦平面位置，并用抛物面反射镜焦距减去光电探测器移动距离作为激光实际焦距，由此计算光轴平行度。其实现了会聚激光发射光轴平行度的准确测量，具有适应性强、操作简便等优点。

【技术实现步骤摘要】
会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置及方法
本专利技术涉及光学检测
，尤其涉及会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置及方法。
技术介绍
随着相关技术的成熟，激光武器装备逐渐走向工程化。激光武器装备包含多光轴光学系统，实现对目标的探测、测量、跟踪、打击。高能激光通过激光发射系统，形成会聚激光，在目标攻击点聚焦，从而毁伤目标。为实现高能激光束沿着跟踪视轴精确聚焦于跟踪目标攻击点上，须对光轴平行度进行校正。目前公开的文献及专利所述方法大多适用于激光测距等准直激光光轴平行度测量。一些专利和文献公开会聚激光光轴平行度测量方法是将发射的会聚激光折返至待测光学系统跟踪视轴的光电探测器，由光电探测器的探测结果计算光轴平行度。为准确测量光轴偏差量，须令发射的激光折返后聚焦于光电探测器上。可通过移动待测系统或折返系统使发射激光折返距离等于激光焦距，也可在折返系统中加入聚焦元件或模块实现，但前者须进行长距离高精度测距，后者不适用于共轴光学系统。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，改进平行光管法，实现会聚激光光轴与跟踪视轴的平行度测量，本专利技术提供会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置及方法。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置，其特征在于，包括：待测光学系统、离轴抛物面反射镜、平面反射采样镜、遮光板、光电探测器、十字分划板和光源；所述待测光学系统和光源分别位于所述离轴抛物面反射镜的入射光路和反射光路上，所述十字分划板位于所述离轴抛物面反射镜与光源之间的离轴抛物面反射镜的焦点处且垂直于所述离轴抛物面反射镜的光轴，所述平面反射采样镜位于所述十字分划板与离轴抛物面反射镜之间，所述遮光板位于所述十字分划板与平面反射采样镜之间，所述平面反射采样镜和遮光板可在所处的平面内移动；所述光电探测器位于经所述平面反射采样镜反射的离轴抛物面反射镜的共轭焦点附近，所述光电探测器的探测面中心在...

【技术特征摘要】
1.一种会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置，其特征在于，包括：待测光学系统、离轴抛物面反射镜、平面反射采样镜、遮光板、光电探测器、十字分划板和光源；所述待测光学系统和光源分别位于所述离轴抛物面反射镜的入射光路和反射光路上，所述十字分划板位于所述离轴抛物面反射镜与光源之间的离轴抛物面反射镜的焦点处且垂直于所述离轴抛物面反射镜的光轴，所述平面反射采样镜位于所述十字分划板与离轴抛物面反射镜之间，所述遮光板位于所述十字分划板与平面反射采样镜之间，所述平面反射采样镜和遮光板可在所处的平面内移动；所述光电探测器位于经所述平面反射采样镜反射的离轴抛物面反射镜的共轭焦点附近，所述光电探测器的探测面中心在光轴上且探测面垂直于光轴，所述光电探测器可沿光轴方向移动。2.一种如权利要求1所述的会聚激光发射光轴与跟踪视轴平行度测量装置的测量方法，其特征在于，包括：步骤1、移动平面反射采样镜和遮光板，使之完全不遮挡光路；步骤2、调节光源亮度，使得待测光学系统跟踪视轴的图像传感器对十字分划板成像清晰；步骤3、通过数字图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗义鸣，侯鹏程，
申请(专利权)人：湖北三江航天红峰控制有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42