基带芯片高低温特性的测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，待测试基带芯片设置于测试板上，测试板放置于温箱中，温箱设置于船舶上；该方法包括：在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。测试基带芯片在极限温度下的定位精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

Test method and device for high and low temperature characteristic of baseband chip

The invention provides a testing method and device for high and low temperature characteristics of baseband chips, which are to be tested on a test board, a test board is placed in a temperature box and a temperature box is set on a ship. The position information is the position coordinate information of the ship at different time when the ship is running in the preset route during the preset period of time. According to the position information and the position information in the preset route, the positioning accuracy of the baseband chip to be tested is obtained. The positioning accuracy of the baseband chip under the limit temperature is tested, which provides a basis for the selection of the baseband chip in practical application.

【技术实现步骤摘要】
基带芯片高低温特性的测试方法和装置
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置。
技术介绍
由于航海环境的特殊性，船载的导航设备相对普通环境下的导航设备，在可靠性、防震、防潮、防高温及防光直射等方面有更高的要求，因此，船载设备都需要经过统一、严格的测试，采用国际统一的衡量标准并达到所要求的测试结果方可安装上船。船载导航设备的主要组成部分为基带芯片，受外界环境的变化，基带芯片的定位精度也会产生变化。在实际的应用过程中，需要基带芯片在不同环境下的定位精度达到一定要求，海上四季的温度变化大，更需要基带芯片能够在不同温度下达到所需的定位精度，因此，在基带芯片使用前需要对其进行高低温测试。但现有技术中对于基带芯片高低温特性的测试方法鲜有披露。
技术实现思路
本专利技术提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，测试了基带芯片在极限工作温度下的定位精度，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。本专利技术的第一方面提供一种基带芯片高低温特性的测试方法，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。可选的，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：在第一测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；其中，所述第一测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到6颗北斗二号BD-2卫星，6颗全球定位GPS卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤4；所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。可选的，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：在第二测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；其中，所述第二测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5；所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号。可选的，所述第一测试条件或所述第二测试条件还包括：卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变误差模式；所述船舶的最大速度不超过30m/s，最大加速度不超过0.5m/s2，加速度的最大变化率不超过0.05m/s3。可选的，所述待测试基带芯片的极限工作温度为低温极限工作温度或高温极限工作温度。可选的，在采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息之前，还包括：确定所述温箱内的温度在极限工作温度满足热平衡达到预设时长。可选的，所述温箱的降温速率和升温速率为1℃/min。本专利技术的第二方面提供一种基带芯片高低温特性的测试装置，所述装置包括：采集模块，用于在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；获取模块，用于根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。本专利技术的第三方面提供一种基带芯片高低温特性的测试装置，包括：至少一个处理器和存储器；所述存储器存储计算机执行指令；所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述基带芯片高低温特性的测试装置执行上述基带芯片高低温特性的测试方法。本专利技术的第四方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机执行指令，当所述计算机执行指令被处理器执行时，实现上述基带芯片高低温特性的测试方法。本专利技术提供一种基带芯片高低温特性的测试方法和装置，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；该方法包括：在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。本专利技术通过测试基带芯片在极限温度下的定位精度，在实际应用中可以选择在温度变化大时，定位精度满足要求的基带芯片，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。附图说明图1为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试方法流程示意图一；图2为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试方法流程示意图二；图3为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试装置的结构示意图一；图4为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试装置的结构示意图二；图5为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试装置的结构示意图三。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术的实施例，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试方法，特别适用于北斗兼容导航型双模基带芯片的测试，同时也适用于北斗一号、北斗二号、北斗三号导航系统或全球卫星导航系统的单模基带芯片的测试。图1为本专利技术提供的基带芯片高低温特性的测试方法流程示意图一；图1所示方法流程的执行主体可以为基带芯片高低温特性的测试装置，该基带芯片高低温特性的测试装置可由任意的软件和/或硬件实现。如图1所示，本实施例提供的基带芯片高低温特性的测试方法可以包括：S101，在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息。在测试时，待测试基带芯片需要有配套的底板，将该底板设置于测试板上，该底板可以固定设置在测试板上，以防止船舶在行驶的过程中底板发生移动；该底板上设置有待测试基带芯片，不含其他的辅助导航器件或低噪放装置等。测试板放置于温箱中，温箱设置于船舶上，温箱可以与控温装置电连接，基带芯片的测试开始前，可以预先对控温装置进行设置，控温装置可以控制温箱的升温、降温和恒温过程。在温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息。由于船舶在海上行驶的过程中，随着一天中的时间或者四季的变化，海上的温度变化较大，而为了使得基带芯片能够在使用过程中达到高的定位精度，在使用前需对基带芯片进行高低温特性测试。本实施例中在温箱的温度为极限温度时对基带芯片进行测试，更加严格地测试出基带芯片在极限温度下的定位精度，若在极限温度下基带芯片可以达到需求的定位精度，在实际应用过程中便可以达到所需的定位精度。当船舶在海上行驶时，船舶的位置信息是不断发生变化的。船舶上设置的基带芯片能够追踪到预设卫星，并追踪该预设卫星的运行，当基带芯片捕获到追踪的预设卫星信号后，就可测量出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基带芯片高低温特性的测试方法，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。

【技术特征摘要】
1.一种基带芯片高低温特性的测试方法，其特征在于，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板放置于温箱中，所述温箱设置于船舶上；所述方法包括：在所述温箱的温度为待测试基带芯片的极限工作温度时，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：在第一测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；其中，所述第一测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到6颗北斗二号BD-2卫星，6颗全球定位GPS卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤4；所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号和GPS卫星对应的频点信号。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息，包括：在第二测试条件下，采集所述待测试基带芯片在预设时间段内输出的位置信息；其中，所述第二测试条件包括：所述待测试基带芯片可追踪到9颗北斗二号BD-2卫星，且所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤5；所述待测试基带芯片输出BD-2卫星对应的频点信号。4.根据权利要求2或3所述的测试方法，其特征在于，所述第一测试条件或所述第二测试条件还包括：卫星轨道、卫星钟差、电离层时延和对流层时延设置为无时变...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙倩，刘静，
申请(专利权)人：交通运输部水运科学研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11