一种测量器制造技术

本发明专利技术涉及医疗器械领域，具体而言是一种测量器，包括长度相同的上臂和下臂，所述上臂的一端侧面设置有上触盘，所述下臂的一端侧面设置有下触盘，所述下臂的另一端与下触盘朝向相同的一侧上固定有标尺架，标尺架的延伸方向与下触盘的朝向平行，所述上臂远离上触盘的一端与标尺架滑动套接，所述上触盘和下触盘朝向相对，手术过程中使用测量器对组织厚度进行测量，可以有效保证组织厚度均匀，避免小范围手指夹捏与经验结合方式导致测量结果不准确，组织薄厚不一，影响皮肤外观和表皮颜色，减小组织因过度修薄而坏死等并发症。

【技术实现步骤摘要】
一种测量器
本专利技术涉及医疗器械领域，具体而言，涉及一种测量器。
技术介绍
随着医学的发展，各种医疗器械越来越朝向安全、便捷、高效等方向发展。在诸如烧伤整形等整形外科手术中，为保证术后组织厚度均匀，术中进行组织厚度的测量具有重要意义。目前，通常的术中组织厚度测量方法仅采用切口周围小范围手指夹捏探测，测量结果仅靠经验，并无专用的测量器械用于组织厚度测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测量器，可以通过采用测量器夹持方法测量组织厚度，避免小范围手指夹捏与经验结合方式导致测量结果不准确，组织薄厚不一，影响皮肤外观和表皮颜色，减小组织因过度修薄而坏死等并发症。本专利技术的实施例是这样实现的：一种测量器，应用于手术中组织厚度测量，包括上臂和下臂，上臂和下臂为两个单独的结构体，所述上臂的一端侧面设置有上触盘，所述下臂的一端侧面设置有下触盘，所述下臂另一端与下触盘朝向相同的一侧固定有标尺架，标尺架的延伸方向与下触盘的朝向相同，所述上臂远离上触盘的一端与标尺架滑动套接，所述上触盘和下触盘朝向相对，在测量过程中，向上滑动上臂，将上臂和下臂分离，将下臂设置有下触盘的一端从切口处置入切口内部，下触盘朝向待测组织，向下滑动上臂，使上臂的上触盘与皮肤外表面贴合，上触盘和下触盘之间夹持待测组织，通过读取计算标尺架上的刻度可以得出上触盘与下触盘夹持部位的组织厚度。在本专利技术较佳的实施例中，上述上臂的另一端与上触盘朝向相同的一侧设置有弯折A，所述弯折A的端面与上触盘的端面在同一平面上。在本专利技术较佳的实施例中，上述下臂的另一端与下触盘朝向相同的一侧设置有与弯折B，所述弯折B的端面与下触盘的端面在同一平面上，当测量器没有测量的时候，上触盘与下触盘贴合，弯折A和弯折B贴合，上臂在标尺架上滑动，标尺架靠近下臂的一端与下臂固定，弯折A朝向弯折B的一端的端面对应标尺架上的刻度为零刻度线，记录起始刻度值，在测量的时候，上臂和下臂夹持组织，此时弯折A朝向弯折B的一端的端面对应标尺架上的刻度为测量器的最终刻度，用最终刻度减去起始刻度便得到了当前夹持组织的厚度。在本专利技术较佳的实施例中，上述标尺架靠近下臂的一端为顶端，另一端为末端，标尺架的顶端与下臂固定连接，上臂套接在标尺架上，当上触盘和下触盘贴合后，上臂靠近标尺架一端朝向上触盘的一侧的端面与标尺架上的零刻度线在同一水平面上。在本专利技术较佳的实施例中，上述标尺架上尺寸刻度从顶端向末端延伸且逐渐增大，测量器未使用时，上触盘和下触盘贴合，弯折A端面对应标尺架的零刻度线，在测量过程中，上臂向上移动，弯折A对应的刻度读数为组织的厚度，测量方式简单准确，方便厚度的测量和读取。在本专利技术较佳的实施例中，上述标尺的末端上固定有挡块，所述上臂设置有用于滑动套接标尺架的标尺槽，所述挡块的水平面积比标尺槽大，挡块避免了测量过程中，上臂从标尺架上脱落，方便测量器的使用。在本专利技术较佳的实施例中，上述上触盘和下触盘为圆盘状，上触盘和下触盘的轴线与标尺架平行，圆盘状的上触盘和下触盘接触面积大，在测量过程中，下触盘与组织接触部位表面光滑平整，上触盘和下触盘夹持组织过程中不会对组织造成损伤，上触盘和下触盘之间的间隙即为组织的厚度，测量上臂在标尺架上相对于下臂的滑动距离，便得出组织的厚度，测量方式简单，测量结果准确。在本专利技术较佳的实施例中，上述上臂、下臂、上触盘、下触盘的外侧轮廓弯折处设置有倒圆角，测量器应用在手术过程中，为了避免测量器对皮肤内部或者表层造成损伤，测量器的外轮廓设置有倒圆角。在本专利技术较佳的实施例中，上述标尺槽的大小仅限于标尺架的滑动，防止上臂在标尺架上晃动，保证对组织厚度测量精度的准确性。在本专利技术较佳的实施例中，上述上触盘与上臂固定连接或者一体加工而成，所述下触盘和下臂固定连接或者一体加工而成，进一步的，上述标尺架上的刻度间隔为1厘米，最小刻度为毫米，便于精度的调节，方便测量结果的读取。本专利技术实施例的有益效果是：测量器应用于手术中组织厚度测量，包括上臂和下臂，上臂和下臂为两个相互独立的构件，上臂的一端侧面设置有上触盘，上触盘和下触盘为圆盘状，圆盘状的上触盘和下触盘接触面积大，在测量过程中，下触盘与组织接触部位表面光滑平整，上触盘和下触盘夹持组织过程中不会对组织造成损伤；手术过程中，在标尺架上移动上臂，将上臂和下臂分开，下臂的下触盘一端从皮肤的切口处置入，下臂固定有标尺架的一端在切口外侧，上臂朝向下臂移动，上触盘和下触盘夹持组织，观察标尺架，得到组织厚度的确切数值，测量方式简单，效率高，保证组织厚度均匀，使皮肤表面平整美观，颜色均匀，减小组织因手术中过度修薄而坏死等并发症。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施例1的测量器结构示意图；图2为本专利技术实施例1的测量器侧面结构示意图；图3为本专利技术实施例1的测量器测量结构示意图；图4为本专利技术实施例1测量器测量结构的侧视图；图5为本专利技术实施例1测量器测量结构的立体图。图标：1－上臂，2－下臂，3－上触盘，4－下触盘，5－标尺架，6－挡块，7－A弯折，8－B弯折。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量器，其特征在于，包括长度相同的上臂和下臂，所述上臂的一端侧面设置有上触盘，所述下臂的一端侧面设置有下触盘，所述下臂的另一端固定有标尺架，所述下臂上的下触盘和标尺架在同一侧，标尺架的延伸方向与下触盘的朝向平行，所述上臂远离上触盘的一端与标尺架滑动套接，所述上触盘和下触盘朝向相对。

【技术特征摘要】
1.一种测量器，其特征在于，包括长度相同的上臂和下臂，所述上臂的一端侧面设置有上触盘，所述下臂的一端侧面设置有下触盘，所述下臂的另一端固定有标尺架，所述下臂上的下触盘和标尺架在同一侧，标尺架的延伸方向与下触盘的朝向平行，所述上臂远离上触盘的一端与标尺架滑动套接，所述上触盘和下触盘朝向相对。2.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述上臂的另一端与上触盘朝向相同的一侧设置有弯折A，所述弯折A的端面与上触盘的端面在同一平面上。3.根据权利要求2所述的测量器，其特征在于，所述下臂的另一端与下触盘朝向相同的一侧设置有与弯折B，所述弯折B的端面与下触盘的端面在同一平面上。4.根据权利要求1所述的测量器，其特征在于，所述标尺架靠近下臂的一端为顶端，另一端为末端，标尺架的顶端与下臂固定连接，上臂套接在标尺架上，当上触盘和下触盘贴合后，上臂靠近标尺架...

【专利技术属性】
技术研发人员：穆大力，李梓菲，
申请(专利权)人：中国医学科学院整形外科医院，
类型：发明
国别省市：北京,11