The system, method and processor readable medium for spatial analysis measurement are described in this paper. In one arrangement, the described system includes a light source configured to provide an outgoing light with at least one time-varying attribute at one wavelength channel selected in a plurality of wavelengths, at least one time variant attribute includes either a (a) time variant intensity distribution and any or two of the (b) time-varying frequency deviations; a beam setting. The beam directing device is configured to guide the ejection light into an environment with space distribution in one direction in a plurality of two-dimensional directions. One direction in the plurality of directions corresponds to a wavelength channel selected in multiple wavelength channels; the optical receiver is configured to receive a receiver. At least part of the ejection light reflected by the environment; and the processing unit configured to determine at least one characteristic associated with at least one time-varying attribute of the reflected light to estimate the spatial distribution of the environment associated with the corresponding direction in the multiple directions.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】空间分析测量系统和方法专利
本专利技术涉及用于对环境的空间分布进行估计的系统和方法。专利技术背景空间分析测量(profiling)是指从所期望的视场观察到的环境的三维测绘。视场中的每个点或像素与距离相关联，以形成对于环境的三维表示。空间分布可有助于识别环境中的物体和/或障碍物，由此促进作业的自动化。一种空间分析测量技术涉及在特定方向上将光发送到环境中，并检测例如由环境中的反射表面反射从该方向反射回的任何光。反射光携带用于确定到反射表面的距离的相关信息。特定方向和距离的组合形成了环境的三维表示中的点或像素。以上步骤可针对多个不同方向重复，以形成三维表示的其他点或像素，由此估计在所期望的视场内环境的空间分布。说明书中对任何现有技术的引用并非也不应被视为承认或以任何形式暗示该现有技术构成在任何管辖范围中的公知常识的一部分，或者该现有技术可合理地预期被理解、由本领域技术人员认为是相关的和/或与其他现有技术的组合。专利技术概述根据本专利技术的第一方面，提供了一种空间分析测量系统，其包括：光源，该光源被配置为提供在多个波长信道中选择的一个波长信道处具有至少一个时变属性的出射光，该至少一个时变属性包括在(a)时变强度分布和(b)时变频率偏差中的任一个或两个；光束定向器，该光束定向器被配置为在空间上将出射光引导到在二维的多个方向中的一个方向上以进入具有空间分布的环境中，该多个方向中的一个方向对应于多个波长信道中所选择的一个波长信道；光接收器，该光接收器被配置为接收由环境反射的出射光的至少一部分；以及处理单元，该处理单元被配置为确定与反射光的至少一个时变属性相关联的至少...
【技术保护点】
1.一种空间分析测量系统，包括：光源，所述光源被配置为提供在多个波长信道中的选择的一个波长信道处具有至少一个时变属性的出射光，所述至少一个时变属性包括(a)时变强度分布和(b)时变频率偏差中的任一个或两个；光束定向器，所述光束定向器被配置为在空间上将所述出射光引导到在二维的多个方向中的一个方向上以进入具有空间分布的环境中，所述多个方向中的所述一个方向对应于所述多个波长信道中所选择的一个波长信道；光接收器，所述光接收器被配置为接收由所述环境反射的所述出射光的至少一部分；以及处理单元，所述处理单元被配置为确定与反射光的所述至少一个时变属性相关联的至少一个特性，以估计与所述多个方向中的相应的一个方向相关联的、所述环境的空间分布，其中，所述光接收器被配置为基于在所述出射光和非反射光之间的波长或者调制的差异来禁止检测所述非反射光。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.09.28 AU 2015903943;2015.11.17 AU 20159047331.一种空间分析测量系统，包括：光源，所述光源被配置为提供在多个波长信道中的选择的一个波长信道处具有至少一个时变属性的出射光，所述至少一个时变属性包括(a)时变强度分布和(b)时变频率偏差中的任一个或两个；光束定向器，所述光束定向器被配置为在空间上将所述出射光引导到在二维的多个方向中的一个方向上以进入具有空间分布的环境中，所述多个方向中的所述一个方向对应于所述多个波长信道中所选择的一个波长信道；光接收器，所述光接收器被配置为接收由所述环境反射的所述出射光的至少一部分；以及处理单元，所述处理单元被配置为确定与反射光的所述至少一个时变属性相关联的至少一个特性，以估计与所述多个方向中的相应的一个方向相关联的、所述环境的空间分布，其中，所述光接收器被配置为基于在所述出射光和非反射光之间的波长或者调制的差异来禁止检测所述非反射光。2.根据权利要求1所述的系统，其中，禁止检测所述非反射光包括基于波长信道的预定的序列或随机化的序列来选择所述多个波长中所选择的一个波长。3.根据权利要求1所述的系统，其中，禁止检测所述非反射光包括使所接收到的光从所述出射光去相关，并且将去相关的光与所述出射光的样本非相干地混合。4.根据权利要求1所述的系统，其中，禁止检测所述非反射光包括：在其中所述光源被配置为提供在多个波长信道中所选择的一个波长信道处的采样光的时间窗期间，执行所述出射光的样本和所述接收到的光的光学自外差。5.根据权利要求1所述的系统，其中，禁止检测所述非反射光包括：根据编码序列，对所述出射光的时变强度分布施加编码调制，并且其中所述至少一个特性包括所述反射光与所述编码序列的自相关。6.根据权利要求5所述的系统，其中，所述编码序列包括巴克码。7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述编码序列是可调的，以避免与另一空间测绘系统干扰。8.根据权利要求5所述的系统，其中，所述编码调制还包括缓慢变化的巴克码和快速变化的巴克码。9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，其中，所述时变强度分布包括以预定频率的周期性调制。10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述周期性调制包括正弦调制，并且其中所述至少一个特性包括正弦调制的反射光的相移。11.根据权利要求9所述的系统，其中，所述周期性调制包括多个频率分量，并且其中所述至少一个特性包括下列各项中的至少一项：(a)促进更粗糙的和更远距的距离估计的因所述多个频率分量而产生的拍频的包络的延迟，以及(b)促进更精细的和更近距的距离确定的周期性反射光的相移。12.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，其中，所述时变强度分布包括啁啾正弦调制。13.根据权利要求1至12中任一项所述的系统，其中，所述光源被配置为以顺序方式提供在所述多个波长信道中另外选择的一个或更多个波长信道处具有相同或不同的时变属性的另外的出射光，所述光束定向器被配置为以所述顺序方式将所述另外的出射光引导到所述多个方向中的相应的一个或更多个方向，并且所述处理单元被配置为确定与在所述多个波长信道中的所述另外选择的一个或更多个波长信道处的所述反射光的相同或不同的时变属性相关联的至少一个特性，以估计与在所述多个方向中的对应的一个或更多个方向相关联的、所述环境的空间分布。14.根据权利要求13所述的系统，其中，所述顺序方式包括所述预定的序列。15.根据权利要求13所述的系统，其中，所述顺序方式包括所述随机化的序列。16.根据权利要求1至15中任一项所述的系统，其中，所述光束定向器包括用于下列各项的可逆光学器件：(a)将来自所述光源的出射共线光束在空间上引导到所述多个方向，以及(b)将所述反射光在多个相反方向上在空间上引导到入射共线光束。17.根据权利要求16所述的系统，其中，所述可逆光学器件包括空间交叉色散模块。18.根据权利要求17所述的系统，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：费德里科·科尔拉特邦迪，西比·普利卡赛里尔，
申请(专利权)人：博莱佳私人有限公司，
类型：发明
国别省市：澳大利亚,AU
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