一种MCU芯片失效告警电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种MCU芯片失效告警电路，所述MCU芯片的WID引脚连接至看门狗电路，所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元、失效判断单元和告警单元；所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的看门狗信号输出；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述失效判断单元的输出端连接所述告警单元的输入端。本实用新型专利技术的种MCU芯片失效告警电路通过信号检测单元检测MCU芯片发出的信号，在MCU芯片异常时进行告警提示。

【技术实现步骤摘要】
一种MCU芯片失效告警电路
本技术涉及MCU领域，特别涉及一种MCU芯片失效告警电路。
技术介绍
目前许多电子设备或模块均采用了微控制单元MCU芯片进行系统或模块控制。为了防止系统程序受到干扰而“跑飞”，通常引入看门狗电路对MCU芯片的程序进行监控，然而MCU芯片出现故障，无法进行告警提示。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术问题，提出一种MCU芯片失效告警电路。本技术采用如下技术方案：一种MCU芯片失效告警电路，所述MCU芯片（1）的WID引脚连接至看门狗电路（2），所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元（3）和失效判断单元（4）。所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的喂狗信号输出端；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述信号检测单元包括第一电阻（R1）和第一电容（C1），所述第一电阻（R1）的一端为所述信号检测单元的输入端，所述第一电阻（R1）的另一端连接至所述第一电容（C1）的一端；所述第一电容（C1）的另一端为所述信号检测单元的输出端。所述失效判断单元（4）包括光电耦合器件（IC1）、第三电阻（R3）；所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阳极连接至所述信号检测单元的输出端，所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极接信号地，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极连接至所述第三电阻（R3）的一端，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件发射极连接至电源地，所述第三电阻（R3）的另一端连接至直流电源，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极作为所述失效判断单元（4）的输出端。进一步的，本技术的所述MCU芯片失效告警电路还包括告警单元（5），所述失效判断单元的输出端连接所述告警单元的输入端；所述告警单元（5）包括第四电阻（R4）、告警元件、可控开关器件（Q1）；所述第四电阻（R4）的一端连接至所述告警元件的一端，所述第四电阻（R4）的另一端连接至直流电源；所述告警元件的另一端连接至所述可控开关器件（Q1）的一端，所述可控开关器件（Q1）的另一端连接至电源地；所述可控开关器件（Q1）的控制端连接至所述失效判断单元的输出端。进一步的，本技术的所述告警单元（5）还包括稳压二极管（DZ1），所述稳压二极管（DZ1）的阳极连接至所述失效判断单元的输出端；所述稳压二极管（DZ1）的阴极连接至所述可控开关器件（Q1）的控制端。进一步的，本实施例中，所述可控开关器件（Q1）为N型MOS管，所述告警元件的另一端连接至所述可控开关器件（Q1）的漏极，所述可控开关器件（Q1）的源极连接至电源地；所述可控开关器件（Q1）的栅极连接至所述失效判断单元的输出端。进一步的，优选地，所述告警元件为发光二极管或者发声元件；所述发声元件为蜂鸣器。进一步的，所述直流电源的稳压9V电源。进一步的，所述信号检测单元还包括滤波模块，所述滤波模块的输入端连接所述信号检测单元的输出端，所述滤波模块的输出端连接所述失效判断单元的输入端；所述滤波模块包括第二电阻（R2）和第二电容（C2）；所述第二电阻（R2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端、所述失效判断单元的输入端，所述第二电阻（R2）的另一端连接至信号地；所述第二电容（C2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端、所述失效判断单元的输入端，所述第二电容（C2）的另一端连接至信号地。通过本技术的MCU芯片失效告警电路，与现有技术，本技术的有益效果是：通过信号检测单元（3）检测MCU芯片的WID引脚信号的喂狗信号，并判断MCU芯片是否存在故障，并在故障时发出告警信号。同时失效判断单元（4）与告警单元进行隔离，避免告警单元对MCU芯片的影响。附图说明此处所说明的附图用来提供对专利技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：图1为本技术的MCU芯片失效告警电路的原理框图；图2为本技术的MCU芯片失效告警电路的电路示意图。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。本技术实施例提供了一种MCU芯片失效告警电路，如附图1、图2所示，所述MCU芯片（1）的WID引脚连接至看门狗电路（2），所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元（3）和失效判断单元（4）。所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的喂狗信号输出端；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述信号检测单元包括第一电阻（R1）和第一电容（C1），所述第一电阻（R1）的一端为所述信号检测单元的输入端，所述第一电阻（R1）的另一端连接至所述第一电容（C1）的一端；所述第一电容（C1）的另一端为所述信号检测单元的输出端。所述失效判断单元（4）包括光电耦合器件（IC1）、第三电阻（R3）；所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阳极连接至所述信号检测单元的输出端，所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极接信号地，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极连接至所述第三电阻（R3）的一端，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件发射极连接至电源地，所述第三电阻（R3）的另一端连接至直流电源，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极作为所述失效判断单元（4）的输出端。进一步的，本技术的所述MCU芯片失效告警电路还包括告警单元（5），所述失效判断单元的输出端连接所述告警单元的输入端；所述告警单元（5）包括第四电阻（R4）、告警元件、可控开关器件（Q1）；所述第四电阻（R4）的一端连接至所述告警元件的一端，所述第四电阻（R4）的另一端连接至直流电源；所述告警元件的另一端连接至所述可控开关器件（Q1）的一端，所述可控开关器件（Q1）的另一端连接至电源地；所述可控开关器件（Q1）的控制端连接至所述失效判断单元的输出端。进一步的，本技术的所述告警单元（5）还包括稳压二极管（DZ1），所述稳压二极管（DZ1）的阳极连接至所述失效判断单元的输出端；所述稳压二极管（DZ1）的阴极连接至所述可控开关器件（Q1）的控制端。进一步的，本实施例中，所述可控开关器件（Q1）为N型MOS管，所述告警元件的另一端连接至所述可控开关器件（Q1）的漏极，所述可控开关器件（Q1）的源极连接至电源地；所述可控开关器件（Q1）的栅极连接至所述失效判断单元的输出端。进一步的，优选地，所述告警元件为发光二极管或者发声元件；所述发声元件为蜂鸣器。进一步的，所述直流电源的稳压9V电源。进一步的，所述信号检测单元还包括滤波模块，所述滤波模块的输入端连接所述信号检测单元的输出端，所述滤波模块的输出端连接所述失效判断单元的输入端；所述滤波模块包括第二电阻（R2）和第二电容（C2）；所述第二电阻（R2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端、所述失效判断单元的输入端，所述第二电阻（R2）的另一端连接至信号地；所述第二电容（C2）的一端分别连接至所述信号检测单元的输出端、所述失效判断单元的输入端，所述第二电容（C2）本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种MCU芯片失效告警电路，所述MCU芯片（1）的WID引脚连接至看门狗电路（2），其特征在于，所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元（3）和失效判断单元（4）；所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的喂狗信号输出端；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述信号检测单元包括第一电阻（R1）和第一电容（C1），所述第一电阻（R1）的一端为所述信号检测单元的输入端，所述第一电阻（R1）的另一端连接至所述第一电容（C1）的一端；所述第一电容（C1）的另一端为所述信号检测单元的输出端；所述失效判断单元（4）包括光电耦合器件（IC1）、第三电阻（R3）；所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阳极连接至所述信号检测单元的输出端，所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极接信号地，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极连接至所述第三电阻（R3）的一端，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件发射极连接至电源地，所述第三电阻（R3）的另一端连接至直流电源，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极作为所述失效判断单元（4）的输出端。

【技术特征摘要】
1.一种MCU芯片失效告警电路，所述MCU芯片（1）的WID引脚连接至看门狗电路（2），其特征在于，所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元（3）和失效判断单元（4）；所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的喂狗信号输出端；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述信号检测单元包括第一电阻（R1）和第一电容（C1），所述第一电阻（R1）的一端为所述信号检测单元的输入端，所述第一电阻（R1）的另一端连接至所述第一电容（C1）的一端；所述第一电容（C1）的另一端为所述信号检测单元的输出端；所述失效判断单元（4）包括光电耦合器件（IC1）、第三电阻（R3）；所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阳极连接至所述信号检测单元的输出端，所述光电耦合器件（IC1）的发光二极管阴极接信号地，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极连接至所述第三电阻（R3）的一端，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件发射极连接至电源地，所述第三电阻（R3）的另一端连接至直流电源，所述光电耦合器件（IC1）的接收器件集电极作为所述失效判断单元（4）的输出端。2.根据权利要求1所述的MCU芯片失效告警电路，其特征在于，所述MCU芯片失效告警电路还包括告警单元（5），所述失效判断单元的输出端连接所述告警单元的输入端；所述告警单元（5）包括第四电阻（R4）、告警元件、可控开关器件（Q1）；所述第四电阻（R4）的一端连接至所述告警元件的一端，所述第四电阻（R4）的另一端连接至直流电源；所述告警元件的另一端连接至所述可控开关器件...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑其木，谢征君，
申请(专利权)人：深圳市微电能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44