用于探测对象的探测设备以及分拣设备制造技术

技术编号:18550507 阅读:48 留言:0更新日期:2018-07-28 08:55
本实用新型专利技术涉及用于探测对象的探测设备以及分拣设备,至少包括:用于探测第一波长范围的光的第一探测器和第一光路,所述第一光路通向第一探测器;用于探测与所述第一波长范围不同的第二波长范围的第二探测器和第二光路,所述第二光路通向第二探测器;所述第一探测器和第二探测器位于同一壳体中。为了一方面实现相对于测量平面或者测量线的灵活的调节,另一方面为了实现探测设备的紧凑的和节省空间的结构,所述设备包括:可调节的第一光转向元件,所述第一可调节转向元件设置在第一光路中,以便将光引导到所述第一探测器中;和可调节的第二光转向元件,所述可调节的第二光转向元件设置在第二光路中,以便将光引导到第二探测器中。

【技术实现步骤摘要】
用于探测对象的探测设备以及分拣设备
本技术涉及一种用于探测对象、尤其是材料流中的对象的探测设备,所述探测设备至少包括:用于探测第一波长范围的光的第一探测器以及第一光路,所述第一光路通向第一探测器;用于探测不同于第一波长范围的第二波长范围的光的第二探测器以及第二光路,所述第二光路通向第二探测器;其中,第一探测器和第二探测器位于同一壳体中。本技术也包括相应的分拣设备。第二波长范围与第一波长范围不同,也就是说,两个波长范围不是相同的。但是两个波长范围可能重叠。第一波长范围的光的探测不必与第二波长范围的光的探测同时进行,也可以在时间上错开地进行。
技术介绍
AT11769U1公开了一种用于探测含铅的玻璃件的方法。所述对象以紫外光以及附加地以可见的或者红外光来照射。所产生的荧光以及透射光被探测到。为了探测,在壳体中设置两个不同波长敏感性的探测器(摄像机)。从对象出来的光借助波长选择性的分光镜分配到两个探测器上。这种探测设备的缺点尤其是在于大的空间需求以及在测定对象特性时的不精确性,所述不精确性尤其是由于(构造)公差或者由运行引起的改变而产生。
技术实现思路
本技术的目的在于,克服所述缺点并且提供一种探测设备,该探测设备的特征在于小的空间需求,并且在公差方面比较灵活,并且尽管如此,该探测设备仍提供最优的探测结果。该目的借助开头所述的设备如此实现,该设备包括:可调节的第一光转向元件,该可调节的第一光转向元件设置在第一光路中,以便将光引导到第一探测器中;和可调节的第二光转向元件,该可调节的第二光转向元件设置在第二光路中,以便将光引导到第二探测器中。由于两个光转向元件(例如反射镜)的可调节性,通入相应的探测器中的光路可以针对一个共同的、但是(例如由于制造公差、运行条件等)可变的测量平面或者测量线进行调节。探测精度由此得以提高。同时,该探测设备由于两个可调节的光转向元件可以设计为特别节省空间的,因为光路的分布可以适配于探测器的大小、形状和类型。光转向元件的可调节性涉及相应光路的(通常小幅度的)改变。换言之:光转向元件的调节跟随所配设的光路的改变。在此尤其是光路的在测量平面(或者测量线)和光转向元件之间延伸的区段被移动或者倾斜,然而光路的在光转向元件和探测器之间的区段(几乎)保持不变。所述光转向元件可以手动地或者通过驱动装置(尤其是自动化地)调节。优选,第一光路和第二光路从一个共同的测量平面出发。以这种方式,可以在两个不同的探测器中测量由相同的对象在相同的时间点发出的光。由此,以简单的方式保证了:两个探测器的测量数据配设给一个具体对象。第一探测器和第二探测器具有不同的波长敏感度。这能实现可靠地确定对象特性,所述对象特性表现在:由不同特性的对象发出不同光谱强度分布的光。将两个探测器安装在同一壳体中实现了紧凑的、容易更换的并且针对环境影响进行保护的设备。一种优选实施方式的特征在于,所述第一光转向元件和第二光转向元件安装在同一壳体中,所述第一探测器和第二探测器也位于该壳体中。由此实现了:敏感组件(探测器、光转向元件)受到保护地安装在同一壳体中。由于该共同的壳体,所有对于探测重要的组件可以一起被更换。一种优选实施方式特征在于,所述壳体具有优选保护玻璃形式的光进入开口,并且所述第一光路和第二光路穿过该光进入开口延伸。因为对于两个光路使用相同的光进入开口,所以壳体针对测量平面或者测量线的定向是尤其简单的。精细调节可以在需要时通过调节光转向元件实现。一种优选实施方式特征在于,所述第一光转向元件和第二光转向元件为反射镜。所述反射镜可以设计为全反射的或者部分透光的。使用反射镜能实现尤其实用和经济的方案。然而在此要提到,也可以使用光转向元件如棱镜、衍射光栅等。一种优选实施方式特征在于,所述光转向元件彼此独立地可调节,由此可以使探测设备特别精确地适配于可变的测量平面/测量线。一种优选实施方式特征在于,所述第一光转向元件可以围绕第一轴线枢转,并且第二光转向元件可以围绕第二轴线枢转,其中所述轴线基本上彼此平行和/或垂直于相应光路的光轴线。一种优选实施方式特征在于,所述第一光路的在第一光转向元件和第一探测器之间的区段与第二光路的在第二光转向元件和第二探测器之间的区段相对于彼此倾斜最高20°、优选基本上彼此平行地延伸。这能实现探测器彼此并排地设置,由此可以显著降低空间需求。一种优选实施方式特征在于,第一光路通过第一光转向元件的转向和第二光路通过第二光转向元件的转向分别在60°和120°之间、优选基本上为90°。这同样减小了空间需求,并且实现了探测设备或者壳体的扁平的结构。一种优选实施方式特征在于,至少一个光转向元件是部分透光的和/或波长选择性的,尤其是透过第一波长范围的光并且反射与第一波长范围不同的第二波长范围的光,并且所述第一光路和第二光路在所述部分透光的和/或波长选择性的光转向元件之前的区段中重叠。一种优选实施方式特征在于,所述第一探测器为用于红外线的摄像机和/或所述第二探测器为用于可见光的摄像机。本技术还包括一种用于根据对象的至少一个特性分拣对象、尤其是在材料流中的对象的分拣设备,包括按照本技术的用于确定对象的至少一个特性的探测设备。这种分拣设备的一个示例是一种用于分拣玻璃件的装置,例如根据玻璃件的颜色。此外涉及一种用于探测对象、尤其是在优选单层的材料流中的对象的方法,其中,用光照射所述对象并且借助按照本技术的探测设备探测由所述对象发出的不同波长的、尤其是反射光和/或透射光和/或荧光形式的光,所述探测设备包括至少两个不同的探测器。由所述对象发出的不同波长的光通过第一光转向元件引导到第一探测器中并且通过第二光转向元件引导到第二探测器中,其中所述第一探测器探测第一波长范围的光,并且第二探测器探测与第一波长范围不同的第二波长范围的光。一种优选实施方式特征在于,第一波长范围中的光和第二波长范围中的光入射到两个光转向元件上。这些光路因此可以重叠或者彼此靠近,由此针对共同的测量线的调节得以简化。一种优选实施方式特征在于,第一波长范围中的光和第二波长范围中的光首先入射到第一光转向元件上,其中第一波长范围中的光通过所述第一光转向元件转向第一探测器,而第二波长范围中的光穿透所述第一光转向元件并且通过所述第二光转向元件转向第二探测器。一种优选实施方式特征在于,第一或者第二波长范围中的光为可见光并且第二或者第一波长范围中的光为红外光。一种优选实施方式特征在于,所述光转向元件优选可以彼此独立地调节。一种优选实施方式特征在于,所述光转向元件可以针对一个共同的测量平面或者测量线调节。这通过(尤其是分别)调节光转向元件实现。一种优选实施方式特征在于,第一和第二探测器信号被评估并且所探测对象的至少一个特性被确定。一种优选实施方式特征在于,第一和第二探测器的信号被评估并且将对象根据该评估进行分拣、尤其是从材料流中去除或者引离。下面借助于具体应用详细说明本技术的一种实施方式。为了颜色分拣和杂质探测的目的,可以大多使用借助红外和/或RGB传感器的非接触式方法,这些方法根据向材料流定向的光的记录的透射率或者吸收率进行某些物料/对象的分离,例如通过下游的吹嘴或者吸嘴转移到为此设置的部段中。混合材料流的要挑出的件式货物例如在分拣带上或者在自由下落路本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于探测对象(8)的探测设备(10),所述探测设备至少包括:用于探测第一波长范围的光的第一探测器(1)和第一光路(11),所述第一光路通向第一探测器(1),用于探测与所述第一波长范围不同的第二波长范围的光的第二探测器(2)和第二光路(12),所述第二光路通向第二探测器(2),所述第一探测器(1)和第二探测器(2)位于同一壳体(5)中,其特征在于,所述探测设备(10)包括:可调节的第一光转向元件(3),所述第一光转向元件设置在第一光路(11)中,以便将光引导到所述第一探测器(1)中;以及可调节的第二光转向元件(4),所述第二光转向元件设置在第二光路(12)中,以便将光引导到第二探测器(2)中。

【技术特征摘要】
2016.09.15 AT GM50195/20161.一种用于探测对象(8)的探测设备(10),所述探测设备至少包括:用于探测第一波长范围的光的第一探测器(1)和第一光路(11),所述第一光路通向第一探测器(1),用于探测与所述第一波长范围不同的第二波长范围的光的第二探测器(2)和第二光路(12),所述第二光路通向第二探测器(2),所述第一探测器(1)和第二探测器(2)位于同一壳体(5)中,其特征在于,所述探测设备(10)包括:可调节的第一光转向元件(3),所述第一光转向元件设置在第一光路(11)中,以便将光引导到所述第一探测器(1)中;以及可调节的第二光转向元件(4),所述第二光转向元件设置在第二光路(12)中,以便将光引导到第二探测器(2)中。2.如权利要求1所述的探测设备,其特征在于,所述第一光转向元件(3)和第二光转向元件(4)安装在同一壳体(5)中,所述第一探测器(1)和第二探测器(2)也位于该壳体中。3.如权利要求1所述的探测设备,其特征在于,所述壳体(5)具有光进入开口(6),并且所述第一光路(11)和第二光路(12)穿过所述光进入开口(6)延伸。4.如权利要求2所述的探测设备,其特征在于,所述壳体(5)具有光进入开口(6),并且所述第一光路(11)和第二光路(12)穿过所述光进入开口(6)延伸。5.如上述权利要求1至4中任一项所述的探测设备,其特征在于,所述第一光转向元件(3)和第二光转向元件(4)为反射镜。6.如上述权利要求1至4中任一项所述的探测设备,其特征在于,所述第一光转向元件(3)和第二光转向元件(4)能够彼此独立地调节。7.如上述权利要求1至4中任一项所述的探测设备,其特征在于,所述第一光转向元件(3)能够围绕第一轴线(13)枢转,并且所述第二光转向元件(4)能够围绕第二轴线(14)枢转,第一轴线(13)和第二轴线(14)是基本上彼此平行的和/或垂直于相应光路(11、12)的光轴线。8.如上述权利要求1至4中任一项所述的探测设备,其特征在于,所述第一光路(11)的在第一光转向元件(3)和第一探测器(1)之间的区段和所述第二光路(12)的在第二光转向元件(4)和第二探测器(2)之间的区段相对于彼此倾斜最高20°。9.如上述权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:R·胡贝尔D·克赖默
申请(专利权)人:宾德股份公司
类型:新型
国别省市:奥地利,AT

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