一种RF参数调整的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:18357002 阅读:36 留言:0更新日期:2018-07-02 11:25
本发明专利技术公开了一种RF参数调整的方法及装置,涉及无线通信技术领域,其方法包括:根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;若确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整。本发明专利技术通过调整小区RF参数,提升了小区的覆盖率,尤其在通讯领域的无线网络优化阶段。

【技术实现步骤摘要】
一种RF参数调整的方法及装置
本专利技术涉及无线通信
,特别涉及一种RF(RadioFrequency,射频)参数调整的方法及装置。
技术介绍
LTE(LongTermEvolution,长期演进)系统在进行覆盖优化时,虽然可以找到覆盖不好的区域,但在调整这些区域对应小区的RF参数时只能通过随机抽取的方式来尝试获取更好的覆盖,无法做到快速收敛。
技术实现思路
根据本专利技术实施例提供的方案解决的技术问题是LTE系统在进行覆盖优化时,虽然可以找到覆盖不好的小区,但在调整这些小区的RF参数时只能通过随机抽取的方式来尝试获取更好的覆盖,无法做到快速收敛。根据本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的方法,包括:根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;若确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整。优选地,所述MR数据包括UE位置数据、参考信号接收功率数据以及主邻小区关系数据。优选地,所述RF参数包括电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率。优选地,所述根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整包括:将所述覆盖优化区域覆盖率与预置的区域覆盖率进行比较;若所述覆盖优化区域覆盖率超过预置的区域覆盖率,则确定不需要对RF参数进行调整;若所述覆盖优化区域覆盖率未超过预置的区域覆盖率,则确定需要对RF参数进行调整。优选地,所述通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整包括:通过计算所述覆盖模型对RF参数中的电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率分别求导,得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数;根据所得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数,确定RF参数中电子下倾角调整方向、机械下倾角调整方向、朝向角调整方向以及参考功率调整方向,并根据其对RF参数进行调整。根据本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的装置,包括:获取模块,用于根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;确定模块,用于根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;调整模块,用于当确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整。优选地,所述MR数据包括UE位置数据、参考信号接收功率数据以及主邻小区关系数据。优选地,所述RF参数包括电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率。优选地,所述确定模块包括:比较单元,用于将所述覆盖优化区域覆盖率与预置的区域覆盖率进行比较;确定单元,用于当所述覆盖优化区域覆盖率超过预置的区域覆盖率,则确定不需要对RF参数进行调整,以及当所述覆盖优化区域覆盖率未超过预置的区域覆盖率,则确定需要对RF参数进行调整。优选地,所述调整模块包括:获取单元,用于通过计算所述覆盖模型对RF参数中的电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率分别求导,得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数;调整单元,用于根据所得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数,确定RF参数中电子下倾角调整方向、机械下倾角调整方向、朝向角调整方向以及参考功率调整方向,并根据其对RF参数进行调整。根据本专利技术实施例提供的方案,通过上文提到的方法来快速找到各个参数的调整方向,从而快速找到目标值。附图说明图1是本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的方法流程图;图2是本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的装置示意图;图3是本专利技术实施例提供的RF参数调整的方法流程图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行详细说明,应当理解,以下所说明的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。图1是本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的方法流程图,如图1所示,包括:步骤S101:根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;步骤S102:根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;步骤S103:若确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整。其中,所述MR数据包括UE位置数据、参考信号接收功率数据以及主邻小区关系数据。所述RF参数包括电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率。其中,所述根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整包括:将所述覆盖优化区域覆盖率与预置的区域覆盖率进行比较;若所述覆盖优化区域覆盖率超过预置的区域覆盖率,则确定不需要对RF参数进行调整;若所述覆盖优化区域覆盖率未超过预置的区域覆盖率,则确定需要对RF参数进行调整。其中,所述通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整包括:通过计算所述覆盖模型对RF参数中的电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率分别求导,得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数;根据所得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数,确定RF参数中电子下倾角调整方向、机械下倾角调整方向、朝向角调整方向以及参考功率调整方向,并根据其对RF参数进行调整。图2是本专利技术实施例提供的一种RF参数调整的装置示意图,包括:获取模块201,用于根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;确定模块202,用于根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;调整模块203,用于当确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整。其中,所述MR数据包括UE位置数据、参考信号接收功率数据以及主邻小区关系数据。所述RF参数包括电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率。其中,所述确定模块202包括:比较单元,用于将所述覆盖优化区域覆盖率与预置的区域覆盖率进行比较;确定单元,用于当所述覆盖优化区域覆盖率超过预置的区域覆盖率,则确定不需要对RF参数进行调整,以及当所述覆盖优化区域覆盖率未超过预置的区域覆盖率,则确定需要对RF参数进行调整。其中,所述调整模块203包括:获取单元,用于通过计算所述覆盖模型对RF参数中的电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率分别求导,得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数;调整单元,用于根据所得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数,确定RF参数中电子下倾角调整方向、机械下倾角调整方向、朝向角调整方向以及参考功率调整方向,并根据其对RF参数进行调整。图3是本专利技术实施例提供的RF参数调整的方法流程图,如图3所示,包括:步骤1:准备覆盖优化依赖本文档来自技高网...
一种RF参数调整的方法及装置

【技术保护点】
1.一种RF参数调整的方法,包括:根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;若确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整;其中,所述MR是指测量报告;所述RF是指射频。

【技术特征摘要】
1.一种RF参数调整的方法,包括:根据UE当前上报的MR数据,对覆盖优化区域进行栅格化建模,得到每个栅格的覆盖模型;根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整;若确定需要对RF参数进行调整,则通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整;其中,所述MR是指测量报告;所述RF是指射频。2.根据权利要求1所述的方法,所述MR数据包括UE位置数据、参考信号接收功率数据以及主邻小区关系数据。3.根据权利要求1或2所述的方法,所述RF参数包括电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率。4.根据权利要求3所述的方法,所述根据当前的覆盖优化区域覆盖率,确定是否需要对RF参数进行调整包括:将所述覆盖优化区域覆盖率与预置的区域覆盖率进行比较;若所述覆盖优化区域覆盖率超过预置的区域覆盖率,则确定不需要对RF参数进行调整;若所述覆盖优化区域覆盖率未超过预置的区域覆盖率,则确定需要对RF参数进行调整。5.根据权利要求4所述的方法,所述通过计算覆盖模型对各RF参数分别求导,得到RF参数导数,并根据RF参数导数对RF参数进行调整包括:通过计算所述覆盖模型对RF参数中的电子下倾角、机械下倾角、朝向角以及参考功率分别求导,得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数;根据所得到RF参数中电子下倾角的导数、机械下倾角的导数、朝向角的导数以及参考功率的导数,确定RF参数中电子下倾角调整方向、机械下倾角调整方向、朝向角调整方向以及参考功...

【专利技术属性】
技术研发人员:鲁文涛
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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