一种离散量采样电路制造技术

一种离散量采样电路实现了外部输入离散量的采样，且具有抗干扰能力和离散量的回环测试。具体是指该电路可以采样外部输入离散量，当离散量由于干扰而发生抖动时，采样电路能够将这种干扰滤除，采样的结果不会因为输入的抖动而发生改变；该采样电路是将外部输入离散量反馈给上位机，而且自身具有回环测试，可以测试采样电路是否正常工作，测试的信号由上位机发出，该测试信号模拟外部输入离散量的高低电平，在采样电路的前端输入，当采样电路检测出的结果和测试信号相同则表明采样电路工作正常，不同则表示采样电路工作异常，且测试信号可以为高电平也可以为低电平，全方位的对采样电路进行了测试，保证了采样电路工作的准确性和可靠性，提高了测试性。

【技术实现步骤摘要】
一种离散量采样电路
本专利技术属于计算机应用领域。涉及一种离散量采样电路。
技术介绍
目前离散量输入均要运用离散量采样电路，由于离散量的信号种类多样，采样电路也就不尽相同，但要正确的采样离散量不外乎采样电路稳定可靠正确，鉴于以本专利技术人针对现有技术深入研究，并有本案产生。
技术实现思路
本专利技术提出了一种高可靠性型高准确性的离散量采样电路，具有抗干扰的能力，将离散量的不稳定抖动滤除，并能够对采样电路进行回环测试，保证采样电路的准确性。本专利技术的目的在于保证离散量采样电路的准确性、可靠性和稳定性，提高离散量采样电路的测试性。本专利技术详细的技术方案如下：1.一种离散量采样电路，由离散量采样电路、抗干扰电路、回环测试电路三部分组成；(1)所述离散量采样电路由分压电阻、反相器和光耦构成，所述离散量采样电路将输入信号的电平进行分压，通过反相器调整电平，输入到光耦进行隔离供后端的处理器进行采样；(2)所述抗干扰由阻容网络构成，位于采样电路的前端，在前端直接对输入信号直接消抖滤波；滤除输入信号上因外界干扰而产生的抖动，所述采用电阻电容构成的RC网络对信号进行滤波和消抖处理；(3)所述回环测试电路由光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成，由后端的处理器发出的测试信号通过光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成的测试电路产生离散量采样电路测试信号，所述测试信号输入离散量采样电路前端，处理器根据采样的信号和预先设置的测试信号相比较，判断采样电路是否准确。2.所述离散量采样电路采用光耦进行前后端的电平隔离。3.所述离散量采样电路采用反相器对离散量进行电平高低转换。4.所述抗干扰电路采用电阻电容构成的RC网络进行滤波和消抖处理，其参数根据使用环境进行调整。5.所述回环测试电路由两路输入测试信号组成产生一路离散量采样电路测试信号。6.所述回环测试电路产生的一路离散量采样电路测试信号的电平可根据两路输入信号的电平进行高低变换。附图说明：图1是具体功能框图图2是该专利技术具体原理框图具体实施方式：离散量采样电路主要实现离散量的采样，由分压电阻、反相器和光耦构成。离散量输入为input，地开型离散量，参考地为GND_1，当输入为开信号时，二极管V1不导通，VCC_1经过R1、R2、R3分压输入到反相器N1的前端，输入为高电平，经过N1翻转为低电平，光耦N2导通，output输出为低电平，同时切换参考地为GND_2，供后级模块采集；当输入为地信号时，二极管V1导通，R1与R2处电压为V1的导通压降，0.7V，又经过R2、R3分压后，输入到反相器N1的前端为低电平，经过N1翻转为高电平，光耦N2不导通，output输出为高电平，同时切换参考地为GND_2，供后级模块采集。抗干扰由阻容网络构成，即由R2与C1构成的RC充放电电路实现，当外部输入离散量产生异常抖动时，由于R2与C1的充放电，有效的将抖动滤除，保证到N1的输出端电平不发生跳变，RC时间常数ι＝R2×C1，可以根据输入信号可能的抖动时间选择合适的RC，C过大也会导致后级采样的延时时间变长，信号的瞬时性降低，要结合需要合理的选择RC，保证既能滤除抖动，又可快速的将离散量的变化反馈到后端采集模块。回环测试电路由光耦、反相器和单刀/单掷总线开关构成，BIT1和BIT0信号由后端采集模块发出，BIT1和BIT0信号可高可低，共有4种情况，下面对每一种情况详细说明。(1)当BIT1和BIT0为00，即BIT0和BIT1全部为低电平，BIT0为低电平，N5反相器输出为高电平，N7光耦原边不导通，N10单刀/单掷总线开关的使能输入为低电平，AB不导通；BIT1为低电平，N4反相器输出为高电平，N6光耦原边不导通，N9单刀/单掷总线开关的使能输入为低电平，AB不导通；所以Testsignal信号为悬空，该模式下为离散量采样模式，Testsignal信号不影响离散量的采样。(2)当BIT1和BIT1为01，即BIT0为高电平，BIT1为低电平。BIT1为低电平，N4反相器输出为高电平，N6光耦原边不导通，N9单刀/单掷总线开关的使能输入为低电平，AB不导通，N8反相器输出为高电平；BIT0为高电平，N5反相器输出为低电平，N7光耦原边导通，由于N8反相器输出为高电平，N10单刀/单掷总线开关的使能输入为高电平，AB导通。由于N9不导通，N10导通，Testsignal信号为低电平，不论离散量input输入为高电平还是低电平，N1反相器输出为高电平，N2光耦原边不导通，output为高电平，该模式下为离散量采样电路测试模式，离散量采样电路输出为高电平。(3)当BIT1和BIT1为10，即BIT0为低电平，BIT1为高电平。BIT1为高电平，N4反相器输出为低电平，N6光耦原边导通，N9单刀/单掷总线开关的使能输入为高电平，AB导通，N8反相器输出为低电平；BIT0为低电平，N5反相器输出为高电平，N7光耦原边不导通，N10单刀/单掷总线开关的使能输入为低电平，AB不导通。由于N9导通，N10不导通，Testsignal信号为高电平，不论离散量input输入为高电平还是低电平，N1反相器输出为低电平，N2光耦原边导通，output为低电平，该模式下为离散量采样电路测试模式，离散量采样电路输出为低电平。(4)当BIT1和BIT1为11，即BIT0为高电平，BIT1为高电平。BIT1为高电平，N4反相器输出为低电平，N6光耦原边导通，N9单刀/单掷总线开关的使能输入为高电平，AB导通，N8反相器输出为低电平；BIT0为高电平，N5反相器输出为低电平，N7光耦原边导通，由于N8反相器输出为低电平，N10单刀/单掷总线开关的使能输入为低电平，AB不导通。由于N9导通，N10不导通，Testsignal信号为高电平，不论离散量input输入为高电平还是低电平，N1反相器输出为低电平，N2光耦原边导通，output为低电平，该模式下为离散量采样电路测试模式，离散量采样电路输出为低电平。综合以上4种情况，具体工作模式如下表1所示：表1离散量采样电路工作模式4种情况合并为3种工作模式，分别为离散量采样模式、离散量采样电路测试模式(离散量测试为高)、离散量采样电路测试模式(离散量测试为低)。3种模式功能不同，即实现了离散量的采样，又可以对采样电路进行测试，保证了采样的准确性和可靠性。该电路实现了离散量的采样，滤除了输入离散量的异常抖动，同时又对离散量采样电路进行了测试，确保采样电路的准确性。该电路的实用性很高，极大的提高了离散量采样的准确性、可靠性、稳定性、测试性。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离散量采样电路，其特征在于：由离散量采样电路、抗干扰电路、回环测试电路三部分组成；(1)所述离散量采样电路由分压电阻、反相器和光耦构成，所述离散量采样电路将输入信号的电平进行分压，通过反相器调整电平，输入到光耦进行隔离供后端的处理器进行采样；(2)所述抗干扰由阻容网络构成，位于采样电路的前端，在前端直接对输入信号直接消抖滤波；滤除输入信号上因外界干扰而产生的抖动，所述采用电阻电容构成的RC网络对信号进行滤波和消抖处理；(3)所述回环测试电路由光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成，由后端的处理器发出的测试信号通过光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成的测试电路产生离散量采样电路测试信号，所述测试信号输入离散量采样电路前端，处理器根据采样的信号和预先设置的测试信号相比较，判断采样电路是否准确。

【技术特征摘要】
1.一种离散量采样电路，其特征在于：由离散量采样电路、抗干扰电路、回环测试电路三部分组成；(1)所述离散量采样电路由分压电阻、反相器和光耦构成，所述离散量采样电路将输入信号的电平进行分压，通过反相器调整电平，输入到光耦进行隔离供后端的处理器进行采样；(2)所述抗干扰由阻容网络构成，位于采样电路的前端，在前端直接对输入信号直接消抖滤波；滤除输入信号上因外界干扰而产生的抖动，所述采用电阻电容构成的RC网络对信号进行滤波和消抖处理；(3)所述回环测试电路由光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成，由后端的处理器发出的测试信号通过光耦、反相器和单刀单掷总线开关构成的测试电路产生离散量采样电路测试信号，所述测试信号输入离散量采样电路前端，处理器根据采样的信号和预先设置的测试信...

【专利技术属性】
技术研发人员：董凯，高栋，冯非，田育新，赵腊才，程苏，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：陕西,61