T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器。其中，该方法包括：检测待检测T型接管工件的厚度；根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数，其中，所述检测参数至少包括相控阵探头参数和检测角度；利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测。本发明专利技术解决了缺陷检出率比较低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器
本专利技术涉及检测领域，具体而言，涉及一种T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器。
技术介绍
管座角焊缝具有复杂的结构和坡口型式，接管座与主管厚度差较大，在焊接过程中由于角焊缝冷却过快或坡口型式复杂容易造成裂纹、气孔、未焊透和未熔合等缺陷的产生，对焊缝质量造成一定的威胁。在电站锅炉的启动、停止和运行的过程中，管座角焊缝既要承受巨大的结构应力，同时又要承受因为高温波动和运行过程中的波动而产生的热应力，所处环境复杂且恶劣。由于电站锅炉长时间运行将引起焊缝中裂纹等缺陷的延伸扩展以及疲劳裂纹的产生，严重时将导致锅炉的爆漏。在对电站锅炉的检验中，管座角焊缝是常见的失效单元，被重点检验和监测。所以提高无损检测在管座角焊缝上的可靠性和有效性，监测缺陷的产生、生长变化，对缺陷的返修指导及锅炉的安全运行有着极其重要的意义。目前管座角焊缝常用检测内部缺陷的方法是常规超声，由于其仪器设备成本低，仪器小巧便于携带现场作业，对于未熔合、裂纹和未焊透等面积型缺陷易于检测出来，检测灵敏度也相对较高。但是由于管座角焊缝的几何结构复杂，超声波检测时受到壁厚、管座曲率以及马鞍状焊缝形式等因素的影响，缺陷信号的识别以及缺陷的定位带来困难，导致检出率低的问题。针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器，以至少解决缺陷检出率比较低的技术问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种T型接管焊缝的缺陷检测方法，包括：检测待检测T型接管工件的厚度；根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数，其中，所述检测参数至少包括相控阵探头参数和检测角度；利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测。可选地，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测包括：利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测，其中，所述至少两次检测包括对所述支管的中上部进行的一次检测，以及对所述支管的中下部进行的另外一次检测，所述中下部包括所述支管的根部。可选地，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测包括：利用二次波检测所述支管的中上部的缺陷；在所述待检测T型接管工件的支管上开坡口，在所述坡口处利用一次波检测所述支管的根部缺陷。可选地，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测包括：利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次相控阵扇扫描，其中，所述相控阵扇扫描的角度在45°至75°之间。可选地，根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数包括：在所述厚度在第一范围时，采用第一晶片数和第一探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；在所述厚度在第二范围时，采用第二晶片数和第二探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；其中，所述第一范围的最大值小于或者等于所述第二范围的最小值，所述第一晶片数小于或者等于所述第二晶片数，所述第一探头频率大于或者等于所述第二探头频率。可选地，在利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测之后，所述方法还包括：收集检测到缺陷接收到的回波信号；以多种视图的方式显示所述回波信号，其中，所述多种视图至少包括以下任意一个视图：时间-幅值视图、主视图、俯视图、侧视图和扇形图像。根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种T型接管焊缝的缺陷检测装置，包括：第一检测单元，用于检测待检测T型接管工件的厚度；确定单元，用于根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数，其中，所述检测参数至少包括相控阵探头参数和检测角度；第二检测单元，用于利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测。可选地，所述第二检测单元用于利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测，其中，所述至少两次检测包括对所述支管的中上部进行的一次检测，以及对所述支管的中下部进行的另外一次检测，所述中下部包括所述支管的根部。可选地，所述第二检测单元包括：第一检测模块，用于利用二次波检测所述支管的中上部的缺陷；第二检测模块，用于在所述待检测T型接管工件的支管上开坡口，在所述坡口处利用一次波检测所述支管的根部缺陷。可选地，所述第二检测单元用于利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次相控阵扇扫描，其中，所述相控阵扇扫描的角度在45°至75°之间。可选地，所述确定单元包括：第三检测模块，用于在所述厚度在第一范围时，采用第一晶片数和第一探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；第四检测模块，用于在所述厚度在第二范围时，采用第二晶片数和第二探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；其中，所述第一范围的最大值小于或者等于所述第二范围的最小值，所述第一晶片数小于或者等于所述第二晶片数，所述第一探头频率大于或者等于所述第二探头频率。可选地，所述装置还包括：收集单元，用于在利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测之后，收集检测到缺陷接收到的回波信号；显示单元，用于以多种视图的方式显示所述回波信号，其中，所述多种视图至少包括以下任意一个视图：时间-幅值视图、主视图、俯视图、侧视图和扇形图像。在本专利技术实施例中，采用相控阵超声在待检测T型接管工件的支管侧对待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测，支管的壁厚较薄，可以减少声能衰减，从而解决了现有技术检出率比较低的技术问题，达到了提高检出率的技术效果附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的一种T型接管焊缝的缺陷检测方法的流程图；图2是根据本专利技术实施例的四个检测区域的示意图；图3是根据本专利技术实施例的四个检测区域的声场覆盖的示意图；图4是根据本专利技术实施例的一种T型接管焊缝的缺陷检测装置的示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种T型接管焊缝的缺陷检测方法，其特征在于，包括：检测待检测T型接管工件的厚度；根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数，其中，所述检测参数至少包括相控阵探头参数和检测角度；利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种T型接管焊缝的缺陷检测方法，其特征在于，包括：检测待检测T型接管工件的厚度；根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数，其中，所述检测参数至少包括相控阵探头参数和检测角度；利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测包括：利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测，其中，所述至少两次检测包括对所述支管的中上部进行的一次检测，以及对所述支管的中下部进行的另外一次检测，所述中下部包括所述支管的根部。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测包括：利用二次波检测所述支管的中上部的缺陷；在所述待检测T型接管工件的支管上开坡口，在所述坡口处利用一次波检测所述支管的根部缺陷。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次检测包括：利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行至少两次相控阵扇扫描，其中，所述相控阵扇扫描的角度在45°至75°之间。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述厚度确定检测所述待检测T型接管工件中缺陷的检测参数包括：在所述厚度在第一范围时，采用第一晶片数和第一探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；在所述厚度在第二范围时，采用第二晶片数和第二探头频率对所述待检测T型接管工件进行超声相控阵检测；其中，所述第一范围的最大值小于或者等于所述第二范围的最小值，所述第一晶片数小于或者等于所述第二晶片数，所述第一探头频率大于或者等于所述第二探头频率。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在利用所述检测参数在所述待检测T型接管工件的支管侧对所述待检测T型接管工件的接管焊缝的缺陷进行检测之后，所述方法还包括：收集检测到缺陷接收到的回波信号；以多种视图的方式显示所述回波信号，其中，所述多种视图至少包括以下任意一个视图：时间-幅值视图、主视图、俯视图、侧视图和扇形图像。7.一种T型接管焊缝的缺陷检测装置，其特征在于，包括：第一检...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑晖，原可义，侯金刚，杨齐，
申请(专利权)人：中国特种设备检测研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11