电子天平密度测量套件装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及密度测量装置领域，公开了一种电子天平密度测量套件装置，包括支撑架，该支撑架为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架的所述对称中心线上；样品放置机构和/或浮力机构，该样品放置机构和/或浮力机构能够设置于所述支撑架上，并沿所述支撑架的所述对称中心线朝向该支撑架的底端延伸；以及，烧杯支架，该烧杯支架能够支撑于所述电子天平的面板上，且该烧杯支架与所述支撑架之间具有间隙。本发明专利技术的被测物的重心能够控制在以电子天平的称量中心为圆点的较小的半径区域内，以使得电子天平的测量结果更加精准。

【技术实现步骤摘要】
电子天平密度测量套件装置
本专利技术涉及密度测量装置
，具体地涉及一种电子天平密度测量套件装置。
技术介绍
在电子天平应用中，有一项为被测物密度的检测功能，该功能利用阿基米德原理进行测定。在测量固体密度时，采用在空气中及水中分别测量被测物的重量，利用浮力公式计算出被测物的密度；在测量液体密度时，使用一体积已知的物体侵入水中，使用天平测定侵入物体所受到的浮力，根据公式浮力F＝ρ液gv排，可测得液体密度。目前市面上具有相似功能的装置以单臂支撑为主，同时结构使用材料均为金属，这会带来两个问题：一、被称重物及支撑结构的整体重心偏移，同时会产生一定的扭矩，这使得测量易产生误差；二、整体采用金属结构虽然能够导电，但该结构直接连接在电子天平系统上。如果被称重物与天平的电势差过大，电荷传导到电子天平，尤其是电磁力天平上将会对天平精度及稳定性造成影响，严重的更能造成不可修复的损坏。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术存在的诸如被称重物及支撑机构的整体重心偏移导致测量易产生误差的问题。为了实现上述目的，本专利技术一方面提供一种电子天平密度测量套件装置包括：支撑架，该支撑架为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架的所述对称中心线上；样品放置机构和/或浮力机构，该样品放置机构和/或浮力机构能够设置于所述支撑架上，并沿所述支撑架的所述对称中心线朝向该支撑架的底端延伸；以及，烧杯支架，该烧杯支架能够支撑于所述电子天平的面板上，且该烧杯支架与所述支撑架之间具有间隙。优选地，所述支撑架和样品放置机构和/或浮力机构能够导电，其中，所述支撑架的底端通过连接头连接于所述秤盘座上，所述连接头采用非金属材料制成并能够利用万用表测得电阻值。优选地，所述支撑架包括连接至所述连接头的若干条支撑臂。优选地，所述支撑臂的横截面为圆形。优选地，所述支撑臂连接有支撑件，该支撑件具有通孔，所述样品放置机构和/或浮力机构能够支撑于该支撑件上并穿过所述通孔延伸。优选地，所述样品放置机构和/或浮力机构包括用于支撑于所述支撑件上的安装盖和连接于该安装盖下侧的浮子或样品托盘。优选地，所述安装盖包括第一盖体和设置于该第一盖体下端的第二盖体，所述第一盖体或第二盖体能够支撑于所述支撑件上，并使得所述第二盖体的外周与所述通孔的内周相配合。优选地，所述浮子包括浮子本体，所述浮子本体为玻璃浮子，体积为10±0.01立方厘米。优选地，还包括不同规格的烧杯，所述烧杯能够放置于所述烧杯支架上并使得所述样品放置机构和/或浮力机构延伸至该烧杯内。优选地，该电子天平密度测量附件装置还包括温度计和夹子，所述温度计为非直线结构，并能够通过所述夹子夹设于所述烧杯上。与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的效果：(1)本专利技术的支撑架为轴对称结构加强了支撑架的强度，在测量中不易变形，同时由于该支撑架为轴对称结构，平衡了支撑架两侧的重量，使该支撑架的重心以及电子天平的称量中心均位于该支撑架的对称中心线上。本专利技术的样品放置机构和/或浮力机构能够设置于该支撑架上并沿该支撑架的对称中心线向下延伸，进而的，本专利技术的被称重物的重心能够控制在以电子天平的称量中心为圆点的较小的半径区域内，以使得电子天平的测量结果更加精准。(2)本专利技术的连接头采用非金属材料支撑且能够使用万用表测量电阻值，这保证了本专利技术的电子天平密度测量套件装置能够导电，同时电流强度被限制在较小范围内，有效的保护了电子天平尤其是电磁力电子天平在工作时不受干扰，以避免被损坏。附图说明图1是本专利技术的电子天平密度测量套件装置的结构示意图；图2是本专利技术的样品放置机构的结构示意图；图3是本专利技术的浮力机构的结构示意图。附图标记说明1支撑架12支撑臂2样品放置机构21安装盖22样品悬挂架23样品托盘本体3烧杯支架4烧杯5温度计6浮力机构62浮子悬挂架63细绳64浮子本体101连接头102支撑件具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。在本专利技术中，术语“第一”、“第二”、……等仅用于将不同技术特征区别开来，并不用于限定技术特征的轻重主次，在需要的情况下，这些技术特征所能达到的效果基本相同。在本专利技术中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、左、右”通常是指参考附图所示的上、下、左、右；“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外。参照图1所示，本专利技术提供了一种电子天平密度测量套件装置，包括支撑架1，该支撑架1为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架1的重心以及电子天平的称量中心均位于该支撑架1的对称中心线上；样品放置机构2，该样品放置机构2能够设置于支撑架1上，并沿支撑架1的对称中心线朝向该支撑架1的底端延伸；以及，烧杯支架3，该烧杯支架3能够支撑于电子天平的面板上，且该烧杯支架3与支撑架1之间具有间隙。其中，电子天平的秤盘能够完全取下以露出秤盘座，进而的，本专利技术的电子天平密度测量套件装置能够安装于露出的秤盘座上，即本专利技术的支撑架1能够安装于露出的秤盘座上，安装方式不限于插接、焊接以及螺纹连接等。其中，能够理解的是，电子天平的称量中心具体可以指电子天平上测量物体重量最为准确的点位。其中，支撑架1能够绕其对称中心线旋转。其中，样品放置机构2用于测量固体密度。其中，烧杯支架3与支撑架1之间具有间隙即避免了烧杯支架3与支撑架1接触以防止烧杯支架3影响电子天平的测量精度。应该理解的是，本专利技术的电子天平密度测量套件装置还包括烧杯4，该烧杯4可以为任意适合的规格，该烧杯4能够放置于烧杯支架3上，并使得样品放置机构2延伸至该烧杯4内。优选的，烧杯支架3穿越支撑架1放置并位于样品放置机构2的下方。在本专利技术的一个具体实施例中，本专利技术的电子天平密度测量套件装置还可以包括温度计5和夹子，温度计5为非直线结构，并能够通过夹子夹设于烧杯4上。基于上述技术方案，众所周知的是，用电子天平测量密度时，需要利用悬挂结构(如样品放置机构2)以测量重物的重量(该重物可以是需要被测量密度的物体，也可以是用于测量物体密度的媒介)，这就会造成悬挂点与电子天平之间具有较大的距离，此时，若重物的重心超出了以电子天平的称量中心为圆点的较小的半径区域，则会在测量中产生扭矩以影响电子天平的测量精度。因此，本申请使支撑架1为轴对称结构，并使样品放置机构2能够设置于该支撑架1上并沿该支撑架1的对称中心线向下延伸，进而的，本专利技术的被称重物的重心能够控制在以电子天平的称量中心为圆点的较小的半径区域内。又根据现有技术可知，需要被电子天平测量密度的物体上常常带有很大的静电，该静电会极大的影响电子天平的测量精度，因此，现有的电子天平密度测量套件装置通常会设置为能够导电，即整体采用金属结构以吸走被测物体上的静电。然而，由于这种金属结构直接与电子天平相连，如果被称重物与电子天平的电势差过大，电荷传导到电子天平，尤其是电磁力天平上将会对天平造成不可修复的损坏。为了解决该技术问题，本专利技术使电子天平密度测量套件装置通过连接头101安装于电子天平的秤盘座上，安装方式不限于插接、焊接以及螺纹连接等本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子天平密度测量套件装置，其特征在于，包括：支撑架(1)，该支撑架(1)为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架(1)的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架(1)的所述对称中心线上；样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)，该样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)能够设置于所述支撑架(1)上，并沿所述支撑架(1)的所述对称中心线朝向该支撑架(1)的底端延伸；以及，烧杯支架(3)，该烧杯支架(3)能够支撑于所述电子天平的面板上，且该烧杯支架(3)与所述支撑架(1)之间具有间隙。

【技术特征摘要】
1.一种电子天平密度测量套件装置，其特征在于，包括：支撑架(1)，该支撑架(1)为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上，并连接为使得该支撑架(1)的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架(1)的所述对称中心线上；样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)，该样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)能够设置于所述支撑架(1)上，并沿所述支撑架(1)的所述对称中心线朝向该支撑架(1)的底端延伸；以及，烧杯支架(3)，该烧杯支架(3)能够支撑于所述电子天平的面板上，且该烧杯支架(3)与所述支撑架(1)之间具有间隙。2.根据权利要求1所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑架(1)和样品放置机构(2)和/或浮力机构(6)能够导电，其中，所述支撑架(1)的底端通过连接头(101)连接于所述秤盘座上，所述连接头(101)采用非金属材料制成并能够利用万用表测得电阻值。3.根据权利要求2所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑架(1)包括连接至所述连接头(101)的若干条支撑臂(12)。4.根据权利要求2所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑臂(12)的横截面为圆形。5.根据权利要求3所述的电子天平密度测量套件装置，其特征在于，所述支撑臂(12)连接有支撑件...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔欢，
申请(专利权)人：赛多利斯科学仪器北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11