获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:18347267 阅读:28 留言:0更新日期:2018-07-01 18:30
本发明专利技术介绍了一种获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR;根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT;根据所述电阻值RT,利用电阻‑温度曲线公式,计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T。本发明专利技术利用拟合曲线计算NTC电阻的温度,从而替代现有技术中的公式法和查表法,可以极大的提高采集NTC电阻的温度的速度和精度,并能降低产品成本。

【技术实现步骤摘要】
获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质
本专利技术涉及热敏电阻
,尤其涉及一种获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质。
技术介绍
现有技术中有两种获取NTC(NegativeTemperatureCoefficient,负温度系数)电阻的温度的方式;第一种:通过带有高主频的单片机获取NTC电阻的模数AD值,并根据获取到的AD值计算出NTC电阻的电阻值,再根据NTC电阻的电阻值按照NTC电阻的温度计算公式实现高精度的NTC电阻的温度值的计算。第二种:通过带有低主频的单片机获取NTC电阻的模数AD值,并根据获取到的AD值计算出NTC电阻的电阻值,再根据NTC电阻的电阻值按照电阻值-温度查询表获取到NTC电阻的电阻值。但是,采用第一种方式的成本较高,且由于NTC电阻的温度计算公式中带有对数计算及大量的浮点数除法,在计算NTC电阻的电阻值时会占用较多的单片机资源,效率较低;采用第二种方式的精度差,由于电阻值-温度查询表中的数据不连续,无法实现高精度的要求。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质,可以极大的提高采集NTC电阻的温度的速度和精度,并能降低产品成本。为实现上述目的,本专利技术提供了一种获取NTC电阻温度的方法,包括:获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR;根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT;根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T;其中,a、b、c为系数。可选的,所述获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR,包括:通过自带n位AD的单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值;根据所述AD值,按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电压值VR:其中,Vcc为n位单片机的供电电压值;VAD为所述NTC电阻的AD值。可选的,通过自带10位AD的8位单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值。可选的,所述根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,包括:按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT:其中,RC为采样电阻值。可选的,所述根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T,包括:根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表,利用最小二乘法,计算出电阻-温度曲线公式:中的系数a、b、c的值;根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T。此外,为实现上述目的,本专利技术还提供了一种获取NTC电阻温度的装置,包括:电压获取模块,用于获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR;电阻计算模块,用于根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT;温度计算模块,用于根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T;其中,a、b、c为系数。可选的,所述温度计算模块,具体包括:系数计算单元,用于根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表,利用最小二乘法,计算出电阻-温度曲线公式:中的系数a、b、c的值;温度计算单元,用于根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T。此外,为实现上述目的,本专利技术还提供了一种获取NTC电阻温度的设备,包括:处理器、存储器及通信总线;所述通信总线与所述处理器和所述存储器之间通信连接;所述处理器用于执行所述存储器中存储的获取NTC电阻温度的程序,以实现上述介绍的获取NTC电阻温度的方法的步骤。此外,为实现上述目的,本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有上述介绍的获取NTC电阻温度的方法的程序。此外,为实现上述目的,本专利技术还提供了一种计算机,所述计算机设有上述介绍的计算机可读存储介质,以实现NTC电阻温度的获取。本专利技术提出的获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质,通过使用带有低主频的单片机获取NTC电阻的AD值,并根据获取到的AD值计算出NTC电阻的电阻值,再根据NTC电阻的电阻值按照电阻-温度曲线公式实现高精度的NTC电阻的温度值的计算。本专利技术利用拟合曲线计算NTC电阻的温度,从而替代现有技术中的公式法和查表法,可以极大的提高采集NTC电阻的温度的速度和精度,并能降低产品成本。附图说明图1是本专利技术第一实施例的获取NTC电阻温度的方法的流程图;图2是本专利技术第二实施例的获取NTC电阻温度的方法的流程图;图3是本专利技术第二实施例中的电阻-温度曲线的示意图;图4是本专利技术第二实施例中的实现获取NTC电阻温度的方法的控制电路的示意图;图5是本专利技术第三实施例中的实现获取NTC电阻温度的装置的控制电路的示意图;图6是本专利技术第四实施例的获取NTC电阻温度的设备的组成结构示意图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术为达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对本专利技术进行详细说明如后。本专利技术第一实施例,提出了一种获取NTC电阻温度的方法,如图1所示,所述方法具体包括以下步骤:步骤S101:获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR。具体的,所述获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR,包括:步骤A1:通过自带n位AD的单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值;优选的,通过自带10位AD的8位单片机获取所述待检测的NTC电阻的AD值。步骤A2:根据所述AD值,按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电压值VR:其中,Vcc为n位单片机的供电电压值;VAD为所述待检测的NTC电阻的AD值。进一步的,可通过所述自带n位AD的单片机在设定时间t内获取设定次数k的所述待检测的NTC电阻的AD值,并计算除去最大AD值和最小AD值外的其他k-2个AD值的平均值并利用该平均值利用上述公式计算出所述待检测的NTC电阻的电压值VR。步骤S102:根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT。具体的,所述根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,包括:按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT:其中,RC为采样电阻值;RT为在温度T下的NET电阻的电阻值。步骤S103:根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T;其中,a、b、c为系数。具体的,在所述获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR之前,所述方法还包括:根据NTC电阻的温度计算公式:推导出电阻-温度曲线公式:其中,R0是NTC电阻在绝对温度T0下的电阻值;B是NTC电阻的材料常数。进一步的,所述根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T,包括:步骤B1:根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表,利用最小二乘法,计算出电阻-温度曲线公式:中的系数a、b、c的值;步骤B2:根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电本文档来自技高网...
获取NTC电阻温度的方法、装置、设备及可读存储介质

【技术保护点】
1.一种获取NTC电阻温度的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR;根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT;根据所述电阻值RT,利用电阻‑温度曲线公式:

【技术特征摘要】
1.一种获取NTC电阻温度的方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR;根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT;根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T;其中,a、b、c为系数。2.根据权利要求1所述的获取NTC电阻温度的方法,其特征在于,所述获取待检测的负温度系数NTC电阻的电压值VR,包括:通过自带n位AD的单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值;根据所述AD值,按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电压值VR:其中,Vcc为n位单片机的供电电压值;VAD为所述NTC电阻的AD值。3.根据权利要求2所述的获取NTC电阻温度的方法,其特征在于,通过自带10位AD的8位单片机获取所述待检测的NTC电阻的模数AD值。4.根据权利要求2所述的获取NTC电阻温度的方法,其特征在于,所述根据所述电压值VR计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT,包括:按照如下公式,计算出所述待检测的NTC电阻的电阻值RT:其中,RC为采样电阻值。5.根据权利要求1~4中任一项所述的获取NTC电阻温度方法,其特征在于,所述根据所述电阻值RT,利用电阻-温度曲线公式:计算出所述待检测的NTC电阻的温度值T,包括:根据预设的所述待检测的NTC电阻的实测电阻-实测温度对照表,利用最小二乘法,计算出电阻-温度曲线公式:中的系数a、b、c的值;根据计算得到的系数a、b、c的值以及所述待检测的N...

【专利技术属性】
技术研发人员:王小乾郭巍
申请(专利权)人:青岛海尔科技有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

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