同轴双曲率厚度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，该同轴双曲率厚度测量装置，不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量装置的准确性和可靠性；能随时自检上探头和下探头的同轴性，保证测量数据的准确性，任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性；而且调节方便、灵活、效率高，整个装置结构简单合理。

【技术实现步骤摘要】
同轴双曲率厚度测量装置
本专利技术属于测量仪器
，具体讲就是涉及自身能调节、修正同轴性的同轴双曲率厚度测量装置。
技术介绍
弹簧片是电子天平的关键零件，对电子天平的性能其决定作用。如附图1所示，需要对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量，以判定弹簧片的零件质量是否合格。目前常用同轴双曲率厚度测量装置对弹簧片的成型部位双曲率厚度进行测量，以判定弹簧片的零件质量是否合格。如附图2所示，现有的双曲率厚度测量装置测量的可靠性不能保证。其原因是如附图3所示，随着测量装置使用时间的推移，上探头和下探头会产生磨损、偏移现象导致同轴性不良，也无法自检本身测量的准确性。
技术实现思路
本专利技术的目的就是针对上述现有的双曲率厚度测量装置无法自检上探头和下探头同轴度导致产生测量误差的技术缺陷，提供一种同轴双曲率厚度测量装置，能随时自检上探头和下探头的同轴性，保证测量数据的准确性，任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性；而且调节方便、灵活、效率高，整个装置结构简单合理。技术方案为了实现上述技术目的，本专利技术设计的同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表、支架座、上探头、下探头、移动块、固定块、弹性体和调节螺钉，所述固定块固定在支架座的底板上，所述弹性体装在所述固定块上的槽的槽壁上的凹槽内，所述移动块装在所述固定块上的槽内能够水平移动，所述调节螺钉旋装在所述固定块上的槽的槽壁上的安装孔中，所述弹性体抵住所述移动块，所述调节螺钉抵住所述移动块能够调节所述移动块在所述槽内的位置，所述下探头固定装在所述移动块上，所述数显表固定装在支架座的座板上的孔中，所述上探头固定装在所述数显表的感应端与所述下探头4对应。优选地，所述弹性体为弹簧或橡胶。优选地，所述支架座为U形。优选地，所述弹性体和调节螺钉对称装在所述固定块的两侧端。有益效果本专利技术提供的一种同轴双曲率厚度测量装置，不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量装置的准确性和可靠性；能随时自检上探头和下探头的同轴性，保证测量数据的准确性，任何时候都可以调节下探头位置确保与上探头同轴性；而且调节方便、灵活、效率高，整个装置结构简单合理。附图说明附图1是弹簧片的结构示意图。附图2是现有的双曲率厚度测量装置的产品图。附图3是现有的双曲率厚度测量装置产生误差示意图。附图4是本专利技术实施例测量状态结构示意图。附图5是本专利技术实施例的主视图。附图6是本专利技术实施例调节原理示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术做进一步说明。实施例如图4所示，同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表1、支架座2、上探头3、下探头4、移动块5、固定块6、弹性体7和调节螺钉8，所述固定块6固定在U形支架座2的底板201上，所述弹性体7装在所述固定块6上的槽601的槽壁上的凹槽内601a，具体地讲，本实施例中，所述弹性体7为弹簧或橡胶。所述移动块5装在所述固定块6上的槽601内能够水平移动，所述调节螺钉8旋装与所述弹性体7对称的一侧的固定块6上的槽601的槽壁上的安装孔601b中，所述弹性体7抵住所述移动块5，所述调节螺钉8抵住所述移动块5能够调节所述移动块5在所述槽601内的位置，所述下探头4固定装在所述移动块5上，所述数显表1固定装在支架座2的座板202上的孔202a中，所述上探头3固定装在所述数显表1的感应端与所述下探头4对应。如附图5和6所示，该装置在使用过程中，可以拧动调节螺钉8，在弹性体7的弹力作用下，微距调节移动块5的位置，通过数显表1的数值显示，确保下探头4和上探头3的同轴性正确。本专利技术的实施例所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本专利技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本专利技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本专利技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”、“顺时针”、“逆时针”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本专利技术可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更
技术实现思路
下，当亦视为本专利技术可实施的范畴。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，所述固定块(6)固定在支架座(2)的底板(201)上，所述弹性体(7)装在所述固定块(6)上的槽(601)的槽壁上的凹槽内(601a)，所述移动块(5)装在所述固定块(6)上的槽(601)内能够水平移动，所述调节螺钉(8)旋装在所述固定块(6)上的槽(601)的槽壁上的安装孔(601b)中，所述弹性体(7)抵住所述移动块(5)，所述调节螺钉(8)抵住所述移动块(5)能够调节所述移动块(5)在所述槽(601)内的位置，所述下探头(4)固定装在所述移动块(5)上，所述数显表(1)固定装在支架座(2)的座板(202)上的孔(202a)中，所述上探头(3)固定装在所述数显表(1)的感应端与所述下探头(4)对应。

【技术特征摘要】
1.同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，所述固定块(6)固定在支架座(2)的底板(201)上，所述弹性体(7)装在所述固定块(6)上的槽(601)的槽壁上的凹槽内(601a)，所述移动块(5)装在所述固定块(6)上的槽(601)内能够水平移动，所述调节螺钉(8)旋装在所述固定块(6)上的槽(601)的槽壁上的安装孔(601b)中，所述弹性体(7)抵住所述移动块(5)，所述调节螺钉(8)抵住所述移动块(5)能够...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱新强，吴群，张文轶，王佳鸣，郑锦永，
申请(专利权)人：上海舜宇恒平科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31