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本发明公开了一种同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，该同轴双曲率厚度测量装置，不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量...该专利属于上海舜宇恒平科学仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海舜宇恒平科学仪器有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种同轴双曲率厚度测量装置，其特征在于：它包括数显表(1)、支架座(2)、上探头(3)、下探头(4)、移动块(5)、固定块(6)、弹性体(7)和调节螺钉(8)，该同轴双曲率厚度测量装置，不需要借用辅助、专用检具检测双曲率厚度测量...