A method for diagnosing the wear state of an electrical switching unit includes an electrical unit monitoring stage (15). The monitoring phase uses the learning data that is previously loaded and represents the type of the electrical unit, and the initialization data stored in the initialization phase (CRP), which corresponds to the unit to be monitored. The monitoring phase (15) includes the measurement (50) and the acquisition of the measurement curve (CM) when the electrical unit is opened. As a function of the measured curve, the initialization data and the learning data (CRU), the value of the local descriptor of the measured curve is determined (51), and the location of the local descriptor value is determined (52) as described. The function of the location value determines the overall state level (53 * 55). This method is implemented by equipment and electrical units.
【技术实现步骤摘要】
用于诊断电气开关单元的磨损的方法和设备以及电气单元
本专利技术涉及一种用于诊断所述电气开关单元的磨损状态的方法,包括电气开关单元的监测阶段。本专利技术还涉及一种诊断设备和实施该方法的单元。
技术介绍
用于诊断电气单元的状态的方法和设备通常通过将一个或多个电气特性与值的模式进行比较来检查一个或多个电气特性。这些特性通常包括电信号的值得注意的点的电压、电流或时间标记。此类型的诊断方法在专利申请EP2584575中公开了。其它方法通过评估两个事件之间的时间或事件的持续时间来确定诸如触头的电气单元的触头磨损。例如,触头打开或闭合的排序与所述打开或闭合的实际时刻之间的时间。专利申请WO03054895描述了作为控制命令之后初级电流的出现时刻的函数而检测电气单元的触头磨损的特定方式。已知的诊断方法和设备提供了令人满意的结果,其不易于在现有单元或已经安装的单元上部署。通常,电气单元需要干预。此外,需要具有更多的细节和更高水平的确定性用于监测某些电气单元,诸如接触器。
技术实现思路
本专利技术的目的是一种用于诊断电气单元的方法和设备,其给出具有提高的确定性并且易于在电气单元上实施的结果。根据本专利技术,在包括电气开关单元的监测阶段的用于诊断所述电气开关单元的磨损状态的方法中,-所述监测阶段使用:-先前加载的且对应于代表(representative)所述电气单元的产品的类型的学习数据,和-对应于待监测的所述单元且在初始化阶段中存储的初始化数据,并且-所述检测阶段包括:-测量和获取所述电气单元打开时的测量曲线,-作为所述测量曲线的值、保存的初始化数据以及加载的第一学习数据的函数 ...
【技术保护点】
1.用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法,包括所述电气单元的监测阶段(15),其特征在于:‑所述监测阶段使用:‑先前加载且对应于代表所述电气单元的产品的类型的学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5、CRU),以及‑对应于待监测的所述单元且在初始化阶段(14)中存储的初始化数据(CRP),并且‑所述监测阶段(15)包括:‑测量(50)和获取在所述电气单元打开时的测量曲线(CM),‑作为所述测量曲线(CM)的值、保存的初始化数据(CRP)以及加载的第一学习数据(CRU)的函数,确定(30、31、51)所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值,‑确定(52)测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位,‑作为所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于所述第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位的值的函数,确定(32、53‑55)整体状态等级。
【技术特征摘要】
2016.12.16 FR 16625761.用于诊断电气开关单元的磨损状态的方法,包括所述电气单元的监测阶段(15),其特征在于:-所述监测阶段使用:-先前加载且对应于代表所述电气单元的产品的类型的学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5、CRU),以及-对应于待监测的所述单元且在初始化阶段(14)中存储的初始化数据(CRP),并且-所述监测阶段(15)包括:-测量(50)和获取在所述电气单元打开时的测量曲线(CM),-作为所述测量曲线(CM)的值、保存的初始化数据(CRP)以及加载的第一学习数据(CRU)的函数,确定(30、31、51)所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值,-确定(52)测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位,-作为所述测量曲线(CM)的局部描述符(DL1、DL2、DL3、DL4、DL5)的值相对于所述第二学习数据(CD1、CD2、CD3、CD4、CD5)的定位的值的函数,确定(32、53-55)整体状态等级。2.根据权利要求1所述的诊断方法,其特征在于,确定整体状态等级包括:-作为最接近所述局部描述符的定位的函数,至少三次确定(52、54)中间状态等级(CLI),以及-作为所述中间等级的函数(32),选择(55)所述整体等级。3.根据权利要求1或2所述的诊断方法,其特征在于,第一描述符(D1、DL1)代表所述测量曲线(CM)的两个值得注意的点(21、22)之间的值的差异(20)。4.根据权利要求1至3中任一项所述的诊断方法,其特征在于:-初始化数据包括在测量的稳定化之后在产品的寿命开始时保存的对于待监测的产品特定的至少一条参考曲线(CRP),并且-第二描述符(D2、DL2)代表测量曲线(CM)与所述特定参考曲线(CRP)之间的偏差,测量曲线(CM)距离特定参考曲线(CRP)越远,单元将被认为被磨损得越多。5.根据权利要求1至4中任一项所述的诊断方法,其特征在于:-加载的学习数据包括在磨损单元的打开期间对应于电信号的磨损单元的至少一条参考曲线(CRU),并且-第三描述符(D3、DL3)代表测量曲线(CM)与所述磨损参考曲线(CRU)之间的偏差,测量曲线(CM)越接近磨损参考曲线(CRU),单元将被认为被磨损得越多。6.根据权利要求1至5中任一项所述的诊断方法,其特征在于,第四描述符(D4、DL4)对应于曲线表面、或对应于测量曲线(CM)的两个值得注意的点(24、25)之间的积分、或对应于在第一变化方向上和在相反的第二变化方向上的值的两个阈值(26、27)。7.根据权利要求1至...
【专利技术属性】
技术研发人员:MEA里米,J德福奇,FJM罗拉德,
申请(专利权)人:施耐德电器工业公司,
类型:发明
国别省市:法国,FR
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